УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОКРЫТИЯ Российский патент 2011 года по МПК G01B15/02 

Описание патента на изобретение RU2413180C1

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах управления технологическими процессами.

Известно устройство, реализуемое емкостным датчиком толщины покрытия (см. М.Чеховский. Контроль толщины эмали на кузове. Радио, №7, 2004, стр.47), в котором о толщине покрытия эмали на кузове легкового автомобиля судят по измерению емкости двух последовательно включенных конденсаторов, соединенных с измерителем емкости.

Недостатками этого известного устройства являются контактность датчика с контролируемой поверхностью покрытия и погрешность измерения из-за температурных влияний на емкость конденсаторов.

Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является принятое автором за прототип устройство, реализующее способ определения толщины диэлектрического покрытия (см. Патент РФ №2262658, опубликованный 20.10.2005, Бюл. №29). В основе работы способа, реализуемого указанным устройством, лежит зондирование диэлектрического покрытия электромагнитными волнами и измерение напряженности электрического поля отраженной волны от контролируемого покрытия. Здесь для этого используются излучатель и приемник, выполненные в виде зеркальных антенн, которые соответственно осуществляют облучение покрытия и прием отраженного от него сигнала. При известных значениях направленности и мощности излучателя, путем измерения продетектированного сигнала амплитудного детектора определяют толщину диэлектрического покрытия, нанесенного на диэлектрическую основу.

Недостатком этого изобретения следует считать неточность, связанную с изменением диэлектрической проницаемости диэлектрического покрытия.

Задачей заявленного технического решения является повышение точности измерения толщины.

Поставленная задача решается тем, что в устройство для измерения толщины диэлектрического покрытия, нанесенного на диэлектрическую основу, содержащее генератор электромагнитных колебаний, соединенный выходом с излучателем, первый приемник, подключенный ко входу первого детектора, излучатель и первый приемник выполнены в виде зеркальных антенн и расположены в одной плоскости на одном расстоянии от контролируемого покрытия, введены второй детектор, вычислитель и второй приемник, выполненный в виде зеркальной антенны и расположенный вместе с излучателем и первым приемником в одной плоскости, на одном расстоянии от контролируемого покрытия, при этом второй приемник подключен ко входу второго детектора, выход которого соединен с первым входом вычислителя, второй вход вычислителя подключен к выходу первого детектора.

Существенными отличительными признаками указанной выше совокупности является наличие второго приемника, второго детектора и вычислителя.

В заявляемом техническом решении благодаря свойствам перечисленных признаков преобразование напряженности электрических полей отраженных от первой границы раздела сред «воздух - диэлектрическое покрытие» и второй границы раздела сред «диэлектрическое покрытие - диэлектрическая основа» волн дает возможность решить поставленную задачу: обеспечить повышение точности измерения толщины диэлектрического покрытия.

На чертеже приведена функциональная схема предлагаемого устройства.

Устройство содержит генератор электромагнитных колебаний 1, излучатель 2, первый приемник 3, первый детектор 4, второй приемник 5, второй детектор 6 и вычислитель 7. На чертеже поз. 8 и 9 обозначены соответственно диэлектрическое покрытие и диэлектрическая основа.

Устройство работает следующим образом. Электромагнитные волны излучателя 2, поступающие с выхода генератора электромагнитных колебаний 1, направляются в сторону диэлектрического покрытия 8, нанесенного на диэлектрическую основу 9. В этом случае согласно теории распространения электромагнитных волн может иметь место отражение волн от первой границы раздела сред «воздух - диэлектрическое покрытие», прохождение волн через диэлектрическое покрытие и отражение прошедших волн от второй границы раздела сред «диэлектрическое покрытие - диэлектрическая основа».

Для коэффициента отражения от первой границы раздела сред k12 можно записать:

где Епад1 - напряженность электрического поля падающей на первую границу раздела сред волны, Еотр1 - напряженность электрического поля отраженной от первой границы раздела сред волны.

В рассматриваемом случае при расположении диэлектрической основы с нанесенным на нее диэлектрическим покрытием в волновой зоне (см. стр.3, вышеприведенного патента) для Епад1 можно принимать:

,

где R - расстояние от излучателя до поверхности диэлектрической основы, P - мощность излучателя, G - направленность излучателя и δ - толщина диэлектрического покрытия.

В силу этого для Еотр1 получаем:

Формулу (2) с учетом того, что:

где ε2 - диэлектрическая проницаемость диэлектрического покрытия, можно переписать как:

Здесь принимается, что диэлектрическая проницаемость воздуха εв равна единице и диэлектрическое покрытие не имеет потерь, т.е. g2=0, где g2 - проводимость диэлектрического покрытия.

Из формулы (3) видно, что при постоянных значениях P, G и R для определения δ по величине Еотр1 необходимо иметь информацию о ε2, так как разные материалы, используемые для покрытия диэлектрической основы, могут иметь разные значения диэлектрической проницаемости.

Для этого в предложенном устройстве используется отражение от второй границы раздела сред с коэффициентом отражения K23, определяемым следующим выражением:

где Епад2 - напряженность электрического поля падающей на вторую границу раздела сред волны, Еотр2 - напряженность электрического поля отраженной волны от второй границы раздела сред.

Согласно вышеприведенным условиям (расположение диэлектрической основы и покрытия в волновой зоне) для данного случая напряженность электрического поля падающей на вторую границу раздела сред (поверхность диэлектрической основы) волны можно представить как:

Как следует из последней формулы, в этом случае влияние толщины покрытия δ на формирование Епад2 не учитывается. Это объясняется тем, что при отсутствии покрытия на диэлектрической основе имеет место только одно отражение от поверхности диэлектрической основы (граница раздела сред «воздух - диэлектрическая основа»), которое может существовать и при наличии покрытия, но от другой границы раздела сред («диэлектрической покрытие - диэлектрическая основа») и с другим коэффициентом отражения. Поэтому при формировании Епад2 на второй границе раздела сред (расстояние от излучателя до поверхности диэлектрической основы без учета δ) нет необходимости учитывать толщину покрытия. В силу такого допущения формулу (4) с учетом того, что:

где ε3 - диэлектрическая проницаемость диэлектрической основы, можно переписать как:

Здесь принимается, что ε32 и диэлектрическая основа не имеет потерь, т.д. g3=0, где g3 - проводимость диэлектрической основы.

Из последней формулы видно, что в случае постоянных значений P, G, R и ε3=const, т.е. при одном и то же материале диэлектрической основы, величина Еотр2 становится функцией ε2.

Пусть отраженная волна от первой границы раздела сред улавливается первым приемником 3, а отраженная волна от второй границы раздела сред - вторым приемником 5, которые далее поступают на входы первого 4 и второго 6 детекторов соответственно. В рассматриваемом случае из-за того, что значения напряженности Еотр1 одновременно изменяются от изменений ε2 и δ, а значения напряженности Еотр2 изменяются только от изменения ε2, их разделение по приему первым и вторым приемниками можно осуществить опытным путем.

Согласно предлагаемому техническому решению сигнал, полученный на выходе первого детектора, зависящий от изменений ε2 и δ, далее поступает на первый вход вычислителя 7. Одновременно на второй вход вычислителя поступает выходной сигнал второго детектора, зависящий от ε2. В результате этого преобразование в вычислителе сигналов, описывающихся формулами (3) и (5), дает возможность определить толщину покрытия δ с учетом изменения ε2, т.е. диэлектрической проницаемости диэлектрического покрытия.

Таким образом, в заявляемом техническом решении показано, что преобразованием напряженностей электрических полей отраженных волн от двух границ раздела сред можно обеспечить повышение точности измерения диэлектрического покрытия.

Похожие патенты RU2413180C1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ДИСТАНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ ВЛАЖНОСТИ ПЛОСКОСЛОИСТЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ С ПОТЕРЯМИ 2023
  • Линец Геннадий Иванович
  • Баженов Анатолий Вячеславович
  • Гривенная Наталья Владимировна
  • Малыгин Сергей Владимирович
  • Мельников Сергей Владимирович
  • Гончаров Владислав Дмитриевич
RU2804381C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ГРАНИЦ РАЗДЕЛА МЕЖДУ КОМПОНЕНТАМИ ТРЕХКОМПОНЕНТНОЙ СРЕДЫ В ЕМКОСТИ 2018
  • Совлуков Александр Сергеевич
RU2702698C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПРОНИЦАЕМОСТЕЙ И ТОЛЩИН СЛОЕВ МНОГОСЛОЙНОЙ СРЕДЫ 1992
  • Агзамов Р.З.
  • Павлов А.В.
  • Шустов Э.И.
RU2039352C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОКРЫТИЯ 2004
  • Ахобадзе Г.Н.
RU2262658C1
ОДНОКАНАЛЬНЫЙ БЕСКОНТАКТНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ТОЛЩИНЫ СЛОЯ НЕФТИ, РАЗЛИТОЙ НА ВОДНОЙ ПОВЕРХНОСТИ, УСТРАНЯЮЩИЙ НЕОДНОЗНАЧНОСТЬ ИЗМЕРЕНИЯ 2004
  • Бирульчик В.П.
  • Чирков В.В.
RU2251660C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ГРАНИЦ РАЗДЕЛА МЕЖДУ КОМПОНЕНТАМИ ТРЕХКОМПОНЕНТНОЙ СРЕДЫ В ЕМКОСТИ 2016
  • Совлуков Александр Сергеевич
RU2647186C1
Устройство дистанционного измерения диэлектрической проницаемости плоскослоистых диэлектриков естественного происхождения с суммарно-разностной обработкой интерференционных сигналов 2024
  • Линец Геннадий Иванович
  • Баженов Анатолий Вячеславович
  • Гривенная Наталья Владимировна
  • Малыгин Сергей Владимирович
  • Мельников Сергей Владимирович
  • Гончаров Владислав Дмитриевич
  • Димитренко Вячеслав Юрьевич
RU2821440C1
АНТЕННА ВЫТЕКАЮЩЕЙ ВОЛНЫ 2013
  • Габриэльян Дмитрий Давидович
  • Илатовский Александр Алексеевич
  • Корсун Роман Николаевич
  • Мусинов Вадим Михайлович
  • Федоров Денис Сергеевич
  • Шацкий Виталий Валентинович
RU2553059C1
УПРАВЛЯЕМАЯ ЛИНЗОВАЯ АНТЕННАЯ СИСТЕМА 2012
  • Чернокалов Александр Геннадьевич
  • Никишов Артём Юрьевич
  • Дунаева Мария Андреевна
RU2523967C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ГРАНИЦ РАЗДЕЛА МЕЖДУ КОМПОНЕНТАМИ ТРЕХКОМПОНЕНТНОЙ СРЕДЫ В ЕМКОСТИ 2020
  • Совлуков Александр Сергеевич
RU2765799C1

Реферат патента 2011 года УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОКРЫТИЯ

Изобретение относится к измерительной технике. Технический результат: повышение точности измерения толщины диэлектрического покрытия, нанесенного на диэлектрическую основу. Устройство содержит генератор электромагнитных колебаний 1, соединенный выходом с излучателем 2, первый приемник 3, первый детектор 4, второй приемник 5, соединенный со входом второго детектора 6, и вычислитель 7. Принцип действия устройства основан на преобразовании напряженностей электрических полей отраженных электромагнитных волн от двух границ разделов сред. 1 ил.

Формула изобретения RU 2 413 180 C1

Устройство для измерения толщины диэлектрического покрытия, нанесенного на диэлектрическую основу, содержащее генератор электромагнитных колебаний, соединенный выходом с излучателем, первый приемник, подключенный ко входу первого детектора, излучатель и первый приемник выполнены в виде зеркальных антенн и расположены в одной плоскости на одном расстоянии от контролируемого покрытия, отличающееся тем, что в него введены второй детектор, вычислитель и второй приемник, выполненный в виде зеркальной антенны и расположенный вместе с излучателем и первым приемником в одной плоскости на одном расстоянии от контролируемого покрытия, причем второй приемник подключен ко входу второго детектора, выход которого соединен с первым входом вычислителя, второй вход вычислителя подключен к выходу первого детектора.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2011 года RU2413180C1

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОКРЫТИЯ 2004
  • Ахобадзе Г.Н.
RU2262658C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО МАТЕРИАЛА 2003
  • Ахобадзе Г.Н.
RU2240504C1
EP 0529790 A1, 03.03.1993
DE 4110786 A1, 15.10.1992.

RU 2 413 180 C1

Авторы

Ахобадзе Гурам Николаевич

Даты

2011-02-27Публикация

2009-12-28Подача