Изобретение относится к области изготовления транзисторов на основе полупроводниковых материалов.
Из предшествующего уровня техники известен транзистор, изготовленный в виде кристалла, на котором сформированы металлические контактные площадки, не выходящие за пределы кристалла, отличающийся тем, что для монтажа транзистора в интегральную схему его необходимо установить в корпус и контактные площадки с помощью соединительной шины/проволоки приварить к выводам корпуса, при этом длина соединительной шины/проволоки, составляющая сотни микрон, ухудшает параметры транзистора.
Также известен транзистор в виде кристалла, размещенного на кристаллодержателе, при этом контактные площадки с помощью соединительной шины/проволоки приварены к выводам кристаллодержателя, отличающийся тем, что соединительная шина/проволока, длина которой составляет сотни микрон, ухудшает параметры транзистора, посадочное место в интегральной схеме для такого транзистора в десятки раз больше размера кристалла транзистора.
Задача, на решение которой направлено заявленное изобретение, заключается в реализации изделия, отвечающего современным требованиям улучшения эксплуатационных характеристик, возможности замены пришедшего в негодность/несоответствующего предъявляемым требованиям транзистора в монолитных интегральных схемах, в уменьшении размеров интегральных микросхем за счет уменьшения посадочного места транзистора, в простоте монтажа в интегральную микросхему, корпус или кристаллодержатель, в уменьшении материалоемкости.
Поставленная задача решается за счет того, что транзистор содержит токопроводящие выводы в виде металлической шины/балки, являющиеся продолжением контактных площадок и выходящие за пределы полупроводникового кристалла на расстояние, необходимое для приварки или припайки к токоведущим дорожкам, металлические шины/балки формируются одновременно с формированием контактных площадок, толщина шины/балки не менее 30 мкм, ширина шины/балки не менее 100 мкм, а размер полупроводникового кристалла по длине, ширине и толщине незначительно превышает минимально необходимое значение рабочей части транзистора.
Балочные выводы предпочтительно изготовлены по технологии контактных площадок.
Предпочтительно:
- ширина балочных выводов 100 мкм,
- толщина 30 мкм,
- длина, выходящая за пределы кристалла, 300-400 мкм, но не более 500 мкм.
Толщина полупроводникового кристалла составляет предпочтительно 20-30 мкм, но не менее 15 мкм.
Балочные выводы предпочтительно выполнены из золота.
Достигаемый технический результат заключается в комплексном улучшении эксплуатационных характеристик транзисторов за счет уменьшения длины соединительной шины/балки, уменьшения количества точек приварки и/или припайки шины/балки к токоведущим дорожкам, уменьшения размеров микросхемы за счет уменьшения посадочного места для транзистора, в возможности замены несоответствующего/сгоревшего транзистора в интегральной микросхеме.
Изобретение поясняется чертежами, которые не охватывают и, тем более, не ограничивают весь объем притязаний данного технического решения, а являются лишь иллюстрирующими материалами частного случая выполнения.
На фиг. 1 изображен внешний вид транзистора с балочными выводами.
На фиг. 2 изображен поперечный разрез А-А на фиг. 1.
Транзистор с балочными выводами содержит полупроводниковый (п/п) кристалл, на котором сформирована активная часть транзистора и металлические контактные площадки. Балочные выводы, являющиеся продолжением контактных площадок, выходят за пределы п/п кристалла предпочтительно на 300-500 мкм.
Длина и ширина п/п кристалла соответствует минимально необходимым размерам активной части транзистора и размерам контактных металлических площадок. Толщина п/п кристалла составляет предпочтительно 20-30 мкм.
Ширина балочных выводов составляет предпочтительно 100 мкм, толщина - предпочтительно 30 мкм.
Балочные выводы предпочтительно выполнены из золота.
Транзистор с балочными выводами изготавливают следующим образом. На пластине из полупроводникового материала изготавливают транзисторы методом диффузии, химического травления, напыления и гальванического осаждения металла. При напылении и гальваническом осаждении металла формируют металлические площадки, соответствующие форме и суммарному размеру контактных площадок к полупроводниковому кристаллу и балочным выводам. Полупроводниковую пластину с изготовленными транзисторами наклеивают лицевой стороной на носитель, преимущественно сапфировую пластину. Толщину полупроводниковой пластины методом химического травления уменьшают до 20-30 мкм. Изготавливают фоторезистивную маску, закрывающую рабочую часть транзистора. Полупроводниковую пластину по резистивной маске стравливают химическим методом до вскрытия балочных выводов.
Работа транзистора с балочными выводами (ТБВ) осуществляется следующим образом.
Работа транзистора ТБВ в составе интегральной микросхемы достигается посадкой транзистора ТБВ на предусмотренное для него место и приваркой балочных выводов к соответствующим токоведущим дорожкам. Маленькая масса полупроводникового кристалла ТБВ позволяет не приклеивать транзистор к подложке.
Транзистор ТБВ может быть использован в монолитной интегральной схеме взамен несоответствующего/пришедшего в негодность транзистора. Для этого транзистор интегральной схемы необходимо залить изолирующим компаундом, перерезать токоведущие дорожки, посадить на его место транзистор ТБВ и приварить балочные выводы к соответствующим токоведущим дорожкам.
Транзистор ТБВ может работать в исполнении корпусном или на кристаллодержателе. Для этого транзистор ТБВ устанавливается на соответствующее место в корпусе/кристаллодержателе и балочные выводы привариваются к выводам корпуса/кристаллодержателя. Во всех перечисленных выше случаях улучшение эксплуатационных характеристик транзистора ТБВ достигается уменьшением длины токоведущих шин/балок за счет уменьшения размеров полупроводникового кристалла, уменьшением в 2 раза точек приварки шин/балок и соответственно уменьшением переходного сопротивления. Повышается надежность работы транзистора ТБВ за счет маленького размера и соответственно веса полупроводникового кристалла.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
НОСИТЕЛЬ КРИСТАЛЛА ИС | 1998 |
|
RU2134466C1 |
БОЛЬШАЯ ИНТЕГРАЛЬНАЯ СХЕМА | 1990 |
|
RU2068602C1 |
КОРПУС ДЛЯ МОНТАЖА КРИСТАЛЛА ИНТЕГРАЛЬНОЙ СХЕМЫ И СПОСОБ ЕЕ МОНТАЖА | 1998 |
|
RU2191445C2 |
ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ КРЕМНИЕВАЯ СТРУКТУРА | 1996 |
|
RU2110117C1 |
ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ ЭЛЕМЕНТ ИНТЕГРАЛЬНОГО ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ | 1978 |
|
SU708891A1 |
Способ сборки полупроводникового прибора | 1991 |
|
SU1814109A1 |
ВЫВОДНАЯ РАМКА ДЛЯ СВЧ И КВЧ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ПРИБОРА | 2000 |
|
RU2191492C2 |
Мощная гибридная интегральная схема СВЧ-диапазона | 2023 |
|
RU2817537C1 |
ИНТЕГРАЛЬНАЯ СХЕМА | 1996 |
|
RU2133067C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ГИБРИДНОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ СХЕМЫ СВЧ-ДИАПАЗОНА | 2009 |
|
RU2417480C1 |
Изобретение относится к области изготовления транзисторов на основе полупроводниковых материалов, предпочтительно полевых транзисторов с барьером Шоттки на арсениде галлия. Транзистор с балочными выводами содержит токопроводящие выводы в виде металлической шины/балки, являющиеся продолжением контактных площадок и выходящие за пределы полупроводникового кристалла на расстояние, необходимое для приварки или припайки к токоведущим дорожкам, металлические шины/балки формируются одновременно с формированием контактных площадок, толщина шины/балки не менее 30 мкм, ширина шины/балки не менее 100 мкм, а размер полупроводникового кристалла по длине, ширине и толщине незначительно превышает минимально необходимое значение рабочей части транзистора. Достигаемый технический результат заключается в улучшении эксплуатационных характеристик транзистора за счет уменьшения длины соединительных металлических токоведущих шин/балок от кристалла транзистора до токоведущих дорожек в интегральной микросхеме до выводов в корпусе или кристаллодержателе, уменьшения количества точек приварки шин/балок к токоведущим дорожкам или к контактным площадкам, уменьшения посадочного места транзистора в интегральной микросхеме, а также повышения надежности работы транзистора за счет маленького размера и соответственно веса полупроводникового кристалла. 2 ил.
Транзистор с балочными выводами, характеризующийся тем, что содержит токопроводящие выводы в виде металлической шины/балки, являющиеся продолжением контактных площадок и выходящие за пределы полупроводникового кристалла на расстояние, необходимое для приварки или припайки к токоведущим дорожкам, металлические шины/балки формируются одновременно с формированием контактных площадок, толщина шины/балки не менее 30 мкм, ширина шины/балки не менее 100 мкм, а размер полупроводникового кристалла по длине, ширине и толщине незначительно превышает минимально необходимое значение рабочей части транзистора.
ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ КРЕМНИЕВАЯ СТРУКТУРА | 1996 |
|
RU2110117C1 |
Коледов Л.А | |||
Технология и конструкции микросхем, микропроцессоров и микросборок | |||
М | |||
Радио и связь, 1989, стр | |||
Цилиндрический сушильный шкаф с двойными стенками | 0 |
|
SU79A1 |
SU 1482479 A1, 27.11.1996 | |||
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ГИБРИДНОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ СХЕМЫ СВЧ-ДИАПАЗОНА | 2006 |
|
RU2314595C2 |
Авторы
Даты
2018-04-25—Публикация
2017-03-09—Подача