Интерферометр Советский патент 1956 года по МПК G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU102251A1

В известных интерферометрах для измерительных целей световой пучок расщепляется на два пучка, проходящие разлнчпые оптпческие путн ) iiHTepiIiepnрующпе между собой. Распределение nitтепспвностей света в интерференционной K;il)Tirne будет синусоидальным н шнрпиа ннтерференцнонной полосы будет равпа расстоянию мел;ду максимумами.

Полуширину интерференционной по.лосы можно уменьшить увеличением числа 11птерферн))ующих пучков и увеличить тем самым точность змереннй относптельного смещения пнтерфсрепционл1ых полос при из генении разности хода к одном из расщепленных пучков.

В нредлагаемом интерферометре в отлпчие от рапее пзвестных пнтерферомет)ов, работающпх в параллельных нучках. повьпиенне точности достигается введением в оптическую систему интсрфером(гра одной или двух (в зависимости от типа интерферометра) полупрозрачных отражающих поверхностей, перпендикулярных падающему пучку лучей. Одна такая новерхность применяется в тех интерферометрах, в которых одпн из рас1цепленных пучков возвращается к источi( света (инте)ферометры Майксльсона, Тваймана и др.); при .чтом она устапаилт ваетс1 перед первым pacп eплян)

зеркалом. Две таких иоверхногги применяются в тех интерферометрах, в которых ни одии ; paeи eнлeнпыx иучкон не возврап|;ается к источнику света (пнтер1|)ер11мет)ы Лгамена, Рождественскоп и др.): при этом одна из них устанав.чивается нсред первглм рас цепляюни1м зерка.юм, а другая после сведения 1)асщеи. ленных иучков в оди1г.

Благодаря ппторфереицип пучков, получаемых при многократных (гг1)а;кенпя от указанных поверхностей, относнтельная полуширина ппте)ференционн1,1х полос (в долях расстояння между полосами) может бьггь уменьшена в раза, а точность пзмерен1 й пнтерфе)ометром новьпиена в соотвстстиутн|,ее чнсло раз.

II р е д м е т и з о о р с т е н и п

Интерферометр. работа1оп;ий B нарал.те.дьных световых пучках, о т .л и ч а ю1ц и и с я тем, что, с целью новьииения точности измереннй при работе с ни, иерпенднкулярно падаипцим пучкам .лучей установлены или две. к зависимости от тииа интерферометра, полун1)о:;рачные отражающие поверхпост1 д.чя со; дання интерфе11е11Ц11И пучков. по.Пчаомых вс.ледствне многократнпго отралсенпи света от указанных HiiiiepxHuciei:.

Похожие патенты SU102251A1

название год авторы номер документа
Интерферометр для определения длин при геодезических работах 1935
  • Шварц У.О.
SU46366A1
Интерферометр для измерения перемещений объекта 1981
  • Старков Алексей Логинович
SU983450A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕМЫЦЕНИЙ ОБЪЕКТА 1973
  • В. М. Сихарулидзе
SU407185A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТЕЛЕСКОПИЧЕСКИХ СИСТЕМ И ОБЪЕКТИВОВ 2012
  • Ларионов Николай Петрович
RU2518844C1
Двухканальный интерферометр Жамена 1990
  • Воронов Сергей Генрихович
  • Мурзаханов Зуфар Газизович
SU1728675A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК 1992
  • Ян Карл Буэринг
  • Дэниэл Мэнсфилд
RU2124701C1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ В ОБРАЗЦАХ С ГРАДИЕНТОМ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ 1994
  • Герасимова Людмила Андриевна
RU2083969C1
Способ интерференционных измерений в диффузно-когерентном излучении 1975
  • Власов Николай Георгиевич
  • Гинзбург Вера Моисеевна
  • Штанько Александр Евгеньевич
SU554467A1
Интерферометр для определения углов и расстояний 1950
  • Линник В.П.
SU97966A1
Способ измерения оптической неоднородности прозрачных сред и формы отражающих поверхностей и интерферометр сдвига для его осуществления (его варианты) 1984
  • Шехтман Валентин Неухович
SU1237960A1

Реферат патента 1956 года Интерферометр

Формула изобретения SU 102 251 A1

SU 102 251 A1

Авторы

Тарасов К.И.

Даты

1956-01-01Публикация

1950-09-02Подача