Способ определения качества обработки стеклянной шлифованной поверхности Советский патент 1956 года по МПК G01B11/30 G01D5/26 

IlfuMMCTOM изобретения является спогпб определения качества стеклянной шлифованной ноперхноети, осооенкость которого заключается в том, что на исследуемую поверхность направляют скользящий но поверхности пучок световых лучей и но отношению спектральных коэффициентов отражения этих лучей от псследуемой и эталонной поверхности судят о средней высоте неровностей поверхности.

Снособ основан на изменении снектралыЕого состава света, отражаемого от матовых стеклянных новерхностей.

Измерение средней высоты микронеровностей производится, например, в инфраООЛЫШ1Х (76-86) красных лучах при углах падення лучей }ia 1гсслсдуомую ловерхность.

Оптическая схема нрибора для осуН1ествления предлагаемого способа изображена на чертел;е. Прибор. включает коллиматор (Л) н приемное устройство (Б). Еоллнматор состоит нз источника света (1), расположенного в фокусе объектива (2), и нрямоугольной призмы (3), наклоненной под углом 3° к горизонтальной нлоскости для обеспечения заданного угла надения лучей света в 84°. Перед объективом (-2) расноложена ирисовая диафрагма () для и..мепении величины надающего на исследуемую поверхность энергетического потока излучения. Пучок свита, выходящий из коллиматора, надает на нглифованную (исслодуемую) попе)хность, а отраженные от icec лучи нонадают на прямоугольную призму (б), также .Т1аклоненную под углом 3° к горизонтальной нлоскости, и собираются в фокусе объектива (G) на диафрагме (7), за которой располо;ке11ы двояковогнутая линза (8) и серннсто-серебряный фотоэлемент (9), соединенный со стрелочным гальванометром (10). Для исключения рассеянного света между нсточником света (1) н объективом (2), объективом (6) н диафрагмой (7) расноложено несколько поперечных диафрагм. Инфракрасный светофильтр (11) слу;);ит для выделения участка спектра. Источник света - лампа накаливания - питается от аккумуляторов или другого стабнлизированного источннка тока.

Качество шлнфованной стеклянной поверхности может определяться тремя сиособами: 1) но градуировочной кривой, 2) путем сравнения И слсдусмпй iioHejixности с образцовой и Я) непосредственным отсчетом средней высоты микронеровностей по шкале гальванометра, заранее нроградуированной по тарированным пбразпам.

Предмет и з о б р е т г и и я

Способ оиределення качества обработки стеклянной П1лнфованной поверхности, о т л и ч а ю щ и и е я тем, что, е целью измерения средней втлсоты ми1;ронеровнос.тей, на исследуемую ноиерхимстг, направляют скользяп(ий пучо|; (световых лучей, угол падения которь1х близок к 90°, и но отношению спектральных коэффициентов отражения этих лучей от псследусмой и этало1шои новерхн()стп судят о средней высоте микронеровностей.