i . л /
Т(
I $i
о --$;
R
СП
О5 10 , Изобретение относится к вакуумным электронорезистам, которые используются в сухих способах электронолитографии на полупроводниковых подложках в электронике и микроэлёктронике. Известен вакуумный электронорезйст состоящий из подложки и слоя .кремНИИорганического соединения - трифенилсиланол С1 3- Однако данный электронорезйст является негативным-с. низкой чувствительностью к дейр,твию электронного облучения 1% 10.f10 Кл/см Наиболее близким техническим решением к изобретению является электронорезист, состоящий из подложки-и слоя кремнийорганимеского соедине- ; ния - гексаметилдивинилсилсесквиоке сана, обладающий высокой чувствительностью к действию электронного облучения (10 2-110 Кл/см 123Недостатком известного электронорезиста является то, что он не позволяет проводить инверсию типа проодимости полупроводника ( соз давать р-п переходы ), так как не содержит в составе источник диффузанта.
Цель изобретения - расширение . функциональных возможностей электронорезиста.
Поставленная цель достигается тем, что в электронорезисте,состоящем из подложки и нанесенного на нее слоя кремнийорганического соединения, чувствительный слой выполнен из (винил, стибин) силсбсквиоксана, содер жащего в составе сурьму с общей формулой (SIRg x Sbx R - СН CH2, a X 0,5-1.
Количественный состав элемен - , тов окта (винил,стибина )силсесквиоксана.
Найдено,: С ,06; Н3,18; Sb 17,38; С1 0; Si 27,99.
Вычислено, С 25,04; Н 3,00;
Sb 17.0; Cl С; S 28,05.
На чертеже показано расположение лементов в молекуле.
Структура одного звена (С2Нз)7$1т5Ь0 2Молекулярный вес 700.
Данное соединение обладает спо- ; собностью сублимировать в вакууме, наличие радикалов винила в составе беспечивает ему высокую aji KtpoH-
Ную чувствительность -1 0 КЛ/СМ
кремния, глубина которой зависит от температуры отжига, времени диффузии и толщины защитной маски.
Наличие сурьмы в полученных защитных масках и их высокая термостабильность открывает новое функциональное назначение резиста - возможность, использования его в ка- . честве источника диффузанта сурьмы в полупроводниковую подложку и менять тип ее проводимости.
Пример 1. Получение защитной маски негативного типа и р-п перехода. .
Пленку чувствительного слоя наносят на установке УВН-71Р2, для чего 0,2 г (винил,стибин) силсес- ; квиоксана помещают в испаритель тигельного типа и напьшяют на холодную подложку кремния р -типа, расположенную над испарителем на расстоянии 20 см. .
Рабочий вакуум в камере 10 мм рт.ст., .время испа рёния вещества 2 мин.- Температуру испарителя изменяют от 20 до 150°С в следующем режиме: .30-Йр°С - выход испарителя на режим (20 мин );
ЙО-150°С - напыление пленки {2 мин).
Получена глянцевая равномерная по толщййе пленка, она составляет 0,3 мкм с дефектностью 0,5 пор/см.
Полученную пленку чувствительного слоя затем экспонируют электронами на электронно-лумевой установке ZBA - 10, при этом минимальная доза для получения негативного изображения составляет
Изобретение, полученное на пленке, проявляют с помощью вакуумного термического реиспарения необлученных участков пленки, для чего подлож3т.е. cnpco6Hoctb полимеризоваться при воздействии электронного облучения. Эти свойства позволяют использовать (винил,стибин ) силсесквиоксан в качестве вакуумного негативного электррнорезиста, т.е. создавать защитные маски на его основе сухими методами г вакуумным термическим испарением и рёиспарением. Для получения р-п перехода подложку кремния со сформированной защитной маской подвергают отжигу в диффузионной печи. При этом происходит диффузия сурьмы в подложку 3. ку кремния помещают на термостол вакуумной установки и проявляют в вакууме 510 мм рт.ст. в течение 20 мин при 1 в следующем режиме: 20-130 Г- 15, мин; 5 мин; Толщина чувствительного слоя пос ле проявления составляет 0,25 мкм. Зат.ем подложку со сформированной защитной маской подвергают отжигу в Диффузионной печи в течение 30 ми при . Глубина диффузии составляет 100 А, что подтверждается данными анализа вольт-амперной характеристики. В табл.1 приведены сравнительные данные известных и предлагаемого электронорезиста. Таким образом,несмотря на то,, что чувствительность и разрешающая способность данного электронорезист
Таблица 1 34 близки к известным,,он обладает новым функциональным назначениям - служит локальным источником диффузанта сурьмы. Это позволяет полученные защитные маски использовать для получения р -rt перехода проще и быстрее, чем в известном решений. В .2 приведены сравнительные данные получения р-п переходов изг вестного и предлагаемого электронрре- зиста. Данный электронорезист, по сравнению с извесгным полиметакрилатом , обладает более высокой электронной чувствительностью (лв 5 раз/, что позволяет повысить производительность процесса за счет сокращения времени; экспонирования пленок чувствительного слоя. Кроме того, расширяется диапазон его использования защитных масок.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Винилстибинсилсесквиоксан в качестве материала,чувствительного к действию электронного облучения и источника диффузанта сурьмы,и способ его получения | 1982 |
|
SU1067000A1 |
Электронорезист | 1978 |
|
SU701324A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ | 2007 |
|
RU2354008C1 |
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ СТРУКТУР В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ | 1999 |
|
RU2145156C1 |
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ ТОПОЛОГИЧЕСКОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ В ПЛЕНКЕ ХРОМА | 2010 |
|
RU2442239C1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ АМОРФНЫХ ПЛЕНОК ХАЛЬКОГЕНИДНЫХ СТЕКЛООБРАЗНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВ С ЭФФЕКТОМ ФАЗОВОЙ ПАМЯТИ | 2016 |
|
RU2631071C2 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ НА ОСНОВЕ GaInAsSb | 2023 |
|
RU2813746C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОДЛОЖКИ С РЕЗИСТОМ | 2004 |
|
RU2334261C2 |
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ НАНОТОЧЕК НА ПОВЕРХНОСТИ КРИСТАЛЛА | 2013 |
|
RU2539757C1 |
Электронорезист | 1982 |
|
SU1078399A1 |
Электронная чувствительI0 2i 0 4 Ю ность, Кл/см
10
10
. I
. НеполСухойностью сухой
Плохая
Высокая
Нет
Нет
-6
0
Жидкостный
УдовлетвоВысокаярительная
Да
Нет
Нанесение сурьмяносиликатных стекол на поверхность полупровод- ника
Получение защитной 1 маски
а)нанесение резиста
б)сушка
в)экспонирование
г)дубление
д)проявление
е)сушка
ж)дубление
Травление вскрытых участков сурьмяносиликатного стекла
Удаление защитной маски
Термическая обработка прм
Таблица 2
Получение защитной маски
а)напыление резиста
б)экспонирование
в)проявление
Термическая обработка, при «00-600 С
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Shouldiers -K.S., Advauces.ln Computers, ed, by F.- Alt,Academle Puss, New.Jork, 1962, 2, p | |||
Способ приготовления строительного изолирующего материала | 1923 |
|
SU137A1 |
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов | 1917 |
|
SU2A1 |
Авторское свидетельство СССР If 70132, кл | |||
Переносная печь для варки пищи и отопления в окопах, походных помещениях и т.п. | 1921 |
|
SU3A1 |
Авторы
Даты
1983-11-23—Публикация
1982-03-29—Подача