Способ калибровки контактного устройства Советский патент 1984 года по МПК G01R27/28 

Описание патента на изобретение SU1084703A1

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано для определения элемен тов волновой матрицы рассеяния или передачи навесных элементов и плана ных неодноролностей полосковых линий передачи, Известен способ калибровки контактного устройства, при котором регистрируют комплексное отношение падающих и отраженных волн на входных г 8аничыых сечениях контактного устройства и тем caNejM позволяют охарактеризовать«волновые параметры ;элементов вместе с контактным устройством. Исключение влияния контак ного устройства на результаты измерения Достигается его калибровкой с .помощью известных эталонных мер Cl Недостатком этого способа явля-, ется необходимость аттестации микрб полосковых нагрузок и мер волнового сопротивления. Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является способ калибровки контактного устройства, состоящего из двух последовательно соединенных коаксиальнополосковых переходов с контактными узлами,, включающий измерение коэффи циента отражения на входе и выходе контактного устройства при последов тельном- подключении к нему четырех разомкнутых на конце отрезков полос ковых линий с произвольным волновым сопротивлением ZQ, длины которых отличаются на величину, лежащую в пределах Л/8-ЗЛ/8, где /1 - длина во ны в отрезке полосковой линии, и оп ределении параметров контактного устройства 2. Однако известный способ не обесп чивает высокую точность измерений. Цель изобретения - повышение точ ности, измерений. Дпя достижения поставленной цели согласно способу калибровки контакт ногЪ .устройства, состоящего из двух последовательно соединенных к&аксиально-полосковых переходов с контак ными узлами/ включающему измерение коэффициента отражения на входе и выходе контактного устройства при последовательном подключении к нему четырех разомкнутых на конце отрезков полосковых линий с произвольным волновым сопротивлением ZQ , длины, которых отличаются на величину, леж щую в пределах Д/8-ЗД/8, где Д - дли на волны в отрезке полосковой линии и определение параметров контактного устройства, дополнительно между контактными узлами коаксиальнополосковых переходов включают отрезок полосковой линии произвольной длины с произвольным известным вол новым сопротивлением измеряют элементы волновой матрицы передачи контактного устройства с подключенным к нему отрезком полосковой линии, а параметры калибруемого контактного устройства определяют с етом измеренных элементов .матрицы передачи. На чертеже приведена конструкция устройства, реализующего способ. Способ -реализуется следующим образом. На подложке из диэлектрического материала 1 формируются калибровочные меры в виде четырех открытых на конце отрезков полосковых линий 2, отличающихся по длине на величину 2, проходной секции 3, в. виде отрезка полосковой линии и отрезка полосковой линии 4 с исследуемым навесным или планарным элементом 5. Цикл выполняемых измерительных операций, разбивается на три этапа. . На первом этапе выполняется измерение коэффициентов отражения f и р| во входных сечениях контактного устройства при поочередном подключении первых четырех мер - две к контактным узлам контактного устройства ( р; - коэффициент отражения на первом входе, р- - на втором входе контактного устройства ). На втором атапе к контактным узлам подключается проходная секция 3, соединяющая оба входа контактного устройства и измеряется волновая матрица передачи т контактного устройства с проходной секцией. На третьем этапе к контактным уздам подключается полосковая линия с исследуемыми элементами и измеряется волновая матрица рассеяния s или передачи tT контактного устройства. ; Результаты выполненных измерений позволяют расс читать волновую матрицу .рассеяния 5 или передачу Tj . исследуемого, элемента на границах референсных плоскостей и определить эффективную проницаемость эф постоянную затухания ot и коэффициент отражения от открытого конца полоскозой линии P-J с заданным волновым сопротивлением .,-(f.-J)(fi-fV) . lFrf2)(f3-f4) v tpif: b,,.jc,,,; г,е с.гсч(с,/ъ,.) , , где ft фазовая постоянная, угол, «rct (с./Ъ./ определяется на интервале 0,21Г. . -(-М). Лглп I где С - скорость светаj F - частота, на которрй выподнялись измерения. Из двух значений бзфН выбирается то, которое ближе к расчетной (ожидаемой ) величине эф Соответствую щий корень у используется в дальнейшем расчете 2oi.l п f + Cf , непер. Элементы волновой матрицы передачи СА первого челлрехполюсвика погрешности расчитываются следующим образом А,, , , 21 JiV(frMli. (PrfzPrf2-f3 B,(p-,(frf2)) cr-fr(h Элементьг волновой матрицы передач CB второго четырехполюсника погреш ности расчитываются аналогично с ис пользованием формул для А,,, В и Сд с той лишь разницей, что р,-- необходимо заменить на 5ч индексы 1 ,на 2. В УгТЛсрАГв, 21 11 22 2 / Коэффициент отражения Г от открытого конца полосковрй линии определяется из соотношения С,ГЛ,8, r,t. -(,), где у di + ) Е эф . Знак + или - надо выбирать та чтобы выполнялось условие Pg( По известным матрицам (т или ( и Т-матрицам четырехполюснико погрешности и вJ.вычисляется т либо fS3 матрица измеряемого элемента n W-HM; , ,,, где , LB - обратные Т-матрица четырехполюсников погрешности . а . 2 « ГА,2 М о Вгз После расчета Т либо 3 - матриц исследуемых объектов, их волновые параметры могут быть охарактеризованы по любым референсным плоскостям (например, на граничных сечения элементов ) с помощью известного преобразования т и SJ и заданных .смещений референсных плоскостей. Выбор удлинения 2 и частот F, На которых выполняют измерения, осуществляется с помощью соотношений г/с откуда следует, что отнсяиение верхней Fg и нижней FK границ частного диапазона составляет величину РВ/Р„ З. Преимуществом предлагаемого способа измерения СВЧ элементов по сравнению с известными является отсутствие какой-либо априорной информации о параметрах используемых калибровочных мер, и возможность, а также получение более точной информации не только об исследуемом элементе, но и о тракте, в котором он установлен. Точность калибровки контактного устройства предлагаемым методом определяется лишь точностью измерения комплексного отношения обратной и прямой волны на граничных сечениях контактного устройства постоянстасэм поперечных размеров полрсковой линии и диэлектрической проницаемости используемых подложек, а также воспроизводимостью характеристик контактного устройства при смене калибровочных мер.

Похожие патенты SU1084703A1

название год авторы номер документа
Способ калибровки контактного устройства 1986
  • Никулин Сергей Михайлович
  • Петров Виталий Владимирович
SU1345140A1
Тестовая плата для измерения параметров СВЧ-транзистора 1990
  • Плигин Сергей Георгиевич
SU1730600A1
Держатель транзисторов в устройствах для измерения электрических параметров 1987
  • Петров Виктор Петрович
  • Савелькаев Сергей Викторович
SU1478156A1
Способ калибровки коаксиального контактного устройства 1989
  • Савелькаев Сергей Викторович
SU1774286A1
Способ измерения параметров проходных сверхвысокочастотных элементов 1977
  • Новиков Ю.К.
SU713259A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ЖИДКОСТИ 2010
  • Усанов Дмитрий Александрович
  • Скрипаль Александр Владимирович
  • Абрамов Антон Валерьевич
  • Боголюбов Антон Сергеевич
  • Куликов Максим Юрьевич
  • Пономарев Денис Викторович
RU2419099C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ РАССЕЯНИЯ ЧЕТЫРЕХПОЛЮСНИКА НА СВЧ 2012
  • Балыко Александр Карпович
  • Королев Александр Николаевич
  • Мякиньков Виталий Юрьевич
  • Сафонова Елена Олеговна
  • Бувайлик Елена Васильевна
RU2494408C1
Способ измерения S-параметров четырехполюсников СВЧ, предназначенных для включения в микрополосковую линию 2017
  • Савелькаев Сергей Викторович
  • Ромасько Светлана Владимировна
RU2653569C1
Устройство для согласования импедансов 2014
  • Столяров Олег Иванович
RU2652455C2
СПОСОБ КАЛИБРОВКИ КОНТАКТНОГО УСТРОЙСТВА 1993
  • Зайцев А.Н.
  • Логанов С.В.
RU2072521C1

Реферат патента 1984 года Способ калибровки контактного устройства

СПОСОБ КАЛИБРОВКИ КОНТАКТНОГО УСТРОЙСТВА, состоящего из двух последовательно соединенных коаксиально-полосковых переходов с контактными узлами, включающий измерение коэффициента отражения на входе и выходе контактного устройства при последовательном подключении к нему четырех разомкнутых на конце отрезков полосковых линий с произволь/ным волновым сопротивлением ZQ , -длины которых отличаются на величину, лежащую в пределах Д/8-ЗД/8, где Д - длина волны в отрезке полосковой линии, и определение параметров контактного устройства, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, дополнительно между контактными узлами коаксиально-полосковых переходов включают отрезок полосковой линии произвольной длины с произвольным известным волновым сопротивлением (Л 2о и измеряют элементы волновой матрицы передачи контактного устройства . с подключенным к нему отрезком полосковой линии, а параметры калибоу.емого контактного устройства определяют с учетом измеренных элементов матрицы передачи. 00 4 О СО

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1984 года SU1084703A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Кипятильник для воды 1921
  • Богач Б.И.
SU5A1
Сер, Радиоизмерительнаятехника) Проспект 4.3, 1978
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Silva E.F, Mc.Phun М.К
Calibration of an automatic network analyser, using transmission lines of unknown characteristic impedance, loss and dispersion
Radion and Electronic Engineers, 1978, Vol 48, No 5, p.227-234 (прототип ).

SU 1 084 703 A1

Авторы

Никулин Сергей Михайлович

Петров Виталий Владимирович

Салов Александр Николаевич

Даты

1984-04-07Публикация

1982-05-24Подача