Фотоэлектрический микрометр Советский патент 1957 года по МПК G01B7/06 G01B11/06 

Предметом изобретения яв.чястся фотоэлектричеекий .микрометр для непрерывного измерения толщины листового и проволочного материала пепоередетвенно в процессе его изготовления, состоящий из осветителя, объектива с щелевой апертурной диафрагмой и фотоэлемента.

Фотоэлектрические микрометры, осуществляющие непрерывное измерение толщины изделий в процеесе их изготовления, известны.

Предлагаемый .микрометр отличается тем, что в нем применен вращающийся обтюратор, выполненный в виде бараба(га с треугольными параллельными щелями или отверстиями другой формЕз на его боковой поверхности, или диска с отверстиями, дающими при пересечении ими изображения измеряемого материала световые импульсы трапециевидной формы с фупкциона.пьной завиеимостью и.х продолЖ1 тельности от толщины материа.la.

Эта особенность дает возможность определить толщину материала по впе.я-и.мпульсному методу.

ооеспеч вающему повьинение точности из.мерения.

Устройство описываемого микрометра схематически изображено на чертеже. Прибор состоит из осветителей /. объектива 2 с апертурной диафрагмой 3 в виде прямоугольной ще.чи, обтюратора -/ цилиндрической формы с узкими прямоугольными ще,1ями. фотоэлектронного умножителя 5 и зеркала 6 наружного отражателя, установленного под углом в 45 к оптической оси объектива 2 для получения изображения кромки листа или толщины круглого материала на внутренней цилиндрической поверхности обтюратора.

изобретения

1. Фотоэлектрический . для непрерывного измерения то.идииы листового и проволочного г атериала непосредственно в процессе его изготовления, состоящий из осветителя, объектива с щелевой апертурной Д1гафрагмой и фотоэлемента, отличающийся . что для возможности определения толщины по вpe rя-импyльcнo.мy мстоду, обеспечивающему повышение точноети измерения, применен вращающийся обтюратор, вынолненный в виде бараб.ана с узкими прямоугольными параллельными н;елями или отверстиями другой формы на его боковой поверхности, или диска с отверстиями, дающими при пересечении ими изображения измеряемого материа.па световые импульсы трапециевидной формы с функциональной зaвиcи юcтI ю их п)од(),. тельности от толщины материа.лг.

2. Фотоэлектрический микрометр по п. 1, о т л и ч а ю щ и и с к тем. что, с це.тью обеспечения независимости результатов измерения от колебаиий материала, апертурна;; диафрагма выполнена в виде прямоугольной узкой щели, д.чиниая стороиа которой паралле.чьиа направлени 0 движения материа/и:.