00
to
Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению и предназначено для измерения оптических характеристик поглощающих сред и отражающих поверхностей.
Целью изобретения является повышение точности измерений.
На чертеже представлена блок-схема устройства.
На схеме показаны источник света 1, линза 2, плоскопараллельные пластины 3 с полупрозрачным покрытием 4, образец 5, эталон 6, модулятор 7, фотоприемник 8, электронные ключи 9 и 10 для разделения сигнала, датчики 11 и 12 сигнала управления ключами, система 13 обработки сигнала, лучи 14 и 15 интерферометра, щели 16 и отверстия 17 и 18 в модуляторе.
Свет от источника 1 преобразуется линзой 2 в параллельный световой луч и подается на первую пластину 3 интерферометра, где он с помощью полупрозрачного покрытия 4 разделяется на два луча 14 и 15. Далее луч 14 попадает на образец 5, а луч 15 - на эталон 6 и, поочередно проходя через отверстия 17 и 18 модулятора, они попадают на пластину 3, после чего сводятся на фотоприемнике 8.
Во время работы при вращении модулятора 7 лучи попадают на фотоприемник поочередно, поскольку отверстия 17 и 18 смещены одно относительно другого на некоторый-угол, -т.е. луч 15 проходит через образец 6 и через одно из отверстий 17 попадает на покрытие 4 второй пластины 3 и, отражаясь от нее, попадает на фотоприемник 8, который вьфабатьшает сигнаЛ, про-порциональный величине светового потока. В этот же момент временной датчик 11 управления ключами формирует управляющий импульс, который открывает ключ 9, и сигнал с фотоприемника подается в систему 13 обработки сигнала . При дальнейшем повороте модулятора перекрьшается луч 15 и открывается луч 14, который проходит через отверстие 18, через пластину 3 и попадает на фотоприемник 8, В этом случае датчик 12 выдает сигнал управления и сигнал пропускания в систему обработки 13 через ключ 10.
Юстировка устройства осуществляется получением на фотоприемнике 8 интерференционных полос бесконечной ширины, для чего в устройстве предусмотрена возможность плавного перемещения пластин 3 и в модуляторе сделаны специальные щели 16, позволякмцие пропускать одновременно оба луча.
Критерием идентичности обоих каналов является интерференционная картина при строго параллельном расположении пластин интерферометра. По нулевому максимуму интерференционной картины контролируют качество сведения лучей с точностью длины волны.
1
15
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Интерференционное устройство для контроля линз | 1990 |
|
SU1758423A1 |
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МНОГОЛУЧЕВОЙ СВЕТОФИЛЬТР (ВАРИАНТЫ) | 2012 |
|
RU2491584C1 |
ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ИЗОТРОПНЫХ И АНИЗОТРОПНЫХ МАТЕРИАЛОВ | 1991 |
|
RU2102700C1 |
Бесконтактный интерференционный профилограф | 1986 |
|
SU1384950A1 |
Устройство для воспроизведения углов | 1986 |
|
SU1427174A1 |
ФАЗОВЫЙ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР | 1972 |
|
SU339771A1 |
Интерференционный компаратор для измерения плоско-параллельных концевых мер длины | 1975 |
|
SU767508A1 |
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТЕЛЕСКОПИЧЕСКИХ СИСТЕМ И ОБЪЕКТИВОВ | 2012 |
|
RU2518844C1 |
Лазерный космический гравитационный градиентометр | 2021 |
|
RU2754098C1 |
Устройство для определения плотности ткани | 1985 |
|
SU1382887A1 |
1. ПРЕЦИЗИОННЫЙ СПЕКТРОФОТОМЕТР, содержащий оптически связанные между собой источник излучения, линзу, светоделительное устройство, модулятор и приемное устройство, отличающийся тем, что, с целью повышения т.очности изд ерений, светод(глительное устройство вьшолнено в виде интерферометра типа Жамена, модулятор выполнен в виде диска и расположен между пластинами интерферометра, причем диск модулятора имеет по крайней мере одну щель. 2. Спектрофотометр, по п.1, от личающийся тем, что, с це,лью. повышения светосилы, на.передние i поверхности пластин интерферометра нанесены полупрозрачные покрытия. СЛ
Sell D | |||
А senvitive spectrophotometer for optical reflectance measurements | |||
- Appl | |||
Opt., 1970, 9, №10, 1976 | |||
Патент США №4092069, кл | |||
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторы
Даты
1985-08-15—Публикация
1983-03-14—Подача