Прецизионный спекторфотометр Советский патент 1985 года по МПК G01J3/42 

Описание патента на изобретение SU1173201A1

00

to

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению и предназначено для измерения оптических характеристик поглощающих сред и отражающих поверхностей.

Целью изобретения является повышение точности измерений.

На чертеже представлена блок-схема устройства.

На схеме показаны источник света 1, линза 2, плоскопараллельные пластины 3 с полупрозрачным покрытием 4, образец 5, эталон 6, модулятор 7, фотоприемник 8, электронные ключи 9 и 10 для разделения сигнала, датчики 11 и 12 сигнала управления ключами, система 13 обработки сигнала, лучи 14 и 15 интерферометра, щели 16 и отверстия 17 и 18 в модуляторе.

Свет от источника 1 преобразуется линзой 2 в параллельный световой луч и подается на первую пластину 3 интерферометра, где он с помощью полупрозрачного покрытия 4 разделяется на два луча 14 и 15. Далее луч 14 попадает на образец 5, а луч 15 - на эталон 6 и, поочередно проходя через отверстия 17 и 18 модулятора, они попадают на пластину 3, после чего сводятся на фотоприемнике 8.

Во время работы при вращении модулятора 7 лучи попадают на фотоприемник поочередно, поскольку отверстия 17 и 18 смещены одно относительно другого на некоторый-угол, -т.е. луч 15 проходит через образец 6 и через одно из отверстий 17 попадает на покрытие 4 второй пластины 3 и, отражаясь от нее, попадает на фотоприемник 8, который вьфабатьшает сигнаЛ, про-порциональный величине светового потока. В этот же момент временной датчик 11 управления ключами формирует управляющий импульс, который открывает ключ 9, и сигнал с фотоприемника подается в систему 13 обработки сигнала . При дальнейшем повороте модулятора перекрьшается луч 15 и открывается луч 14, который проходит через отверстие 18, через пластину 3 и попадает на фотоприемник 8, В этом случае датчик 12 выдает сигнал управления и сигнал пропускания в систему обработки 13 через ключ 10.

Юстировка устройства осуществляется получением на фотоприемнике 8 интерференционных полос бесконечной ширины, для чего в устройстве предусмотрена возможность плавного перемещения пластин 3 и в модуляторе сделаны специальные щели 16, позволякмцие пропускать одновременно оба луча.

Критерием идентичности обоих каналов является интерференционная картина при строго параллельном расположении пластин интерферометра. По нулевому максимуму интерференционной картины контролируют качество сведения лучей с точностью длины волны.

1

15

Похожие патенты SU1173201A1

название год авторы номер документа
Интерференционное устройство для контроля линз 1990
  • Казаков Николай Павлович
  • Крылов Юрий Николаевич
  • Гиргель Сергей Сергеевич
  • Горелый Николай Николаевич
  • Войтенко Игорь Георгиевич
SU1758423A1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МНОГОЛУЧЕВОЙ СВЕТОФИЛЬТР (ВАРИАНТЫ) 2012
  • Чесноков Владимир Владимирович
  • Чесноков Дмитрий Владимирович
  • Михайлова Дарья Сергеевна
  • Сырнева Александра Сергеевна
RU2491584C1
ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ИЗОТРОПНЫХ И АНИЗОТРОПНЫХ МАТЕРИАЛОВ 1991
  • Андрущак Анатолий Степанович[Ua]
RU2102700C1
Бесконтактный интерференционный профилограф 1986
  • Шестаков Николай Петрович
  • Шешуков Александр Петрович
  • Фроленко Владимир Анатольевич
SU1384950A1
Устройство для воспроизведения углов 1986
  • Коробкин Александр Геннадьевич
  • Брда Виктор Александрович
  • Лихтциндер Борис Аронович
SU1427174A1
ФАЗОВЫЙ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 1972
SU339771A1
Интерференционный компаратор для измерения плоско-параллельных концевых мер длины 1975
  • Ефремов Юрий Павлович
  • Свердличенко Виктор Данилович
SU767508A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТЕЛЕСКОПИЧЕСКИХ СИСТЕМ И ОБЪЕКТИВОВ 2012
  • Ларионов Николай Петрович
RU2518844C1
Лазерный космический гравитационный градиентометр 2021
  • Фатеев Вячеслав Филиппович
  • Денисенко Олег Валентинович
  • Сильвестров Игорь Станиславович
  • Давлатов Руслан Аскарджонович
RU2754098C1
Устройство для определения плотности ткани 1985
  • Смирин Лев Нехемович
  • Серебренников Александр Иннокентьевич
  • Терехин Владимир Иванович
  • Ерыгин Виктор Николаевич
SU1382887A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 173 201 A1

Реферат патента 1985 года Прецизионный спекторфотометр

1. ПРЕЦИЗИОННЫЙ СПЕКТРОФОТОМЕТР, содержащий оптически связанные между собой источник излучения, линзу, светоделительное устройство, модулятор и приемное устройство, отличающийся тем, что, с целью повышения т.очности изд ерений, светод(глительное устройство вьшолнено в виде интерферометра типа Жамена, модулятор выполнен в виде диска и расположен между пластинами интерферометра, причем диск модулятора имеет по крайней мере одну щель. 2. Спектрофотометр, по п.1, от личающийся тем, что, с це,лью. повышения светосилы, на.передние i поверхности пластин интерферометра нанесены полупрозрачные покрытия. СЛ

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1985 года SU1173201A1

Sell D
А senvitive spectrophotometer for optical reflectance measurements
- Appl
Opt., 1970, 9, №10, 1976
Патент США №4092069, кл
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 173 201 A1

Авторы

Альперович Лев Исаакович

Сальников Сергей Викторович

Даты

1985-08-15Публикация

1983-03-14Подача