Толщиномер диэлектрических покрытий Советский патент 1985 года по МПК G01B7/06 

Описание патента на изобретение SU1179096A2

Изобретение относится к неразрушающему контролю, может быть использовано для измерения толщины диэлектрических покрытий на электропроводящей основе и является усовершенств ванием устройства по основному авт. св. № 905620. Цель изобретения - повышение точности измерений. На фиг, 1 представлена структурна схема толщиномера диэлектрических по рытий; на фиг. 2 - зависимости погре ности измерения толщины от режима контроля и электромагнитных параметров основы. Толгциномер диэлектрических покрытий содержит последовательно соединенные автогенератор 1, накладной вихретоковый преобразователь 2, ампли тудный детектор 3, сумматор 4 и инди катор 5, амплитудно-фазовый детектор 6, подключенный сигнальным входам к выходу накладного вихретокового пр образователя 2, опорным входом через фазовращатель 7 - к выходу автогенер тора 1 и выходом - к второму входу сумматора 4, перемножитель 8, подключенный первым входом к выходу амплитудного детектора 3, вторым входом к выходу амплитудно-фазового детектора 6 и выходом - к третьему входу сумматора 4. Толщиномер диэлектрических; покрыти работает следующим образом. Вносимое напряжение с выхода накладного вихретокового преобразователя 2, запитываемого синусоидальным током от автогенератора 1, поступает одновременно на входы амплитудно-фазового детектора 6 иамплитудного детекто| аЗ. Опорное напряжение фазочувствительного детектора 6 с помощью фазовращателя 7 устанавливается синфазным с током возбуждения накладного вихретокового преобразователя 2. Посто- .. янные напряжения с выходов обоих детекторов поступают на выходы перемножителя 8, передаточная функция которого может быть записана в следующем виде: где К - коэффициент передачи; и,и„- выходные напряжения амплитудно-фазового детектора 6 и амплитудного детектора 3, соответственно. Выходные напряжения обоих детекторов и перемножителя 6 поступают на входы сумматора 4. Коэффициенты передачи сумматора 4 по каждому из входов могут быть выбраны так, что его выходное напряжение, подаваемое на индикатор 5, практически не зависит от изменений удельной электрической проводимости и магнитной проницаемости материала основы в широких пределах и зависит от толщины диэлектрического покрытия. Возможность отстройки от влияния вариации электромагнитных параметров основы подтверждается зависимостями представленными на фиг. 2, где введены следующие обозначения: h ()/2R, h, 2 Р3 1 тояния от центров обмоток накладного вихретокового преобразователя до электропроводящей поверхности;R эквивалентный радиус накладного вихретокового преобразователя; RVuj|aj(5/(U- - обобщенный параметр, характеризую1ций влияние удельной электрической проводимости ё и от1 осительной магнитной проницаемости jU. материала основы; u) - круговая частота тока возбуждения преобразователя; jUjj - магнитная постоянная. Из приведенных зависимостей еле- дует, что максимальная погрешность измерений, связанная с вариацией f и (5 , не превышает 1%. Следовательно,введенная с помощью перемножителя коррекция позволяет как минимум в 4 раза снизить методическую погрешность измерений.

Похожие патенты SU1179096A2

название год авторы номер документа
Толщиномер диэлектрических покрытий 1983
  • Арбузов Виктор Олегович
  • Коровяков Виктор Александрович
  • Федосенко Юрий Кириллович
  • Шакина Ирина Николаевна
SU1113726A1
Толщиномер диэлектрических покрытий 1980
  • Бакунов Александр Сергеевич
  • Беликов Евгений Готтович
SU905620A1
Толщиномер диэлектрических покрытий 1984
  • Беликов Евгений Готтович
  • Кислов Владимир Анатольевич
  • Тимаков Леонид Константинович
  • Тычинин Алексей Петрович
SU1216637A1
Толщиномер диэлектрических покрытий 1982
  • Беликов Евгений Готтович
  • Тычинин Алексей Петрович
SU1067346A2
Электромагнитное устройство для из-МЕРЕНия РАССТОяНия дО элЕКТРОпРОВО-дящЕй пОВЕРХНОСТи 1979
  • Бакунов Александр Сергеевич
  • Беликов Евгений Готтович
  • Володин Сергей Павлович
  • Герасимов Виктор Григорьевич
  • Клюев Владимир Владимирович
  • Костров Дмитрий Сергеевич
  • Останин Юрий Яковлевич
SU847002A1
Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий 1984
  • Арбузов Виктор Олегович
  • Завалов Юрий Николаевич
  • Коровяков Виктор Александрович
SU1168798A1
Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий 1984
  • Арбузов Виктор Олегович
  • Арбузов Сергей Олегович
  • Бакунов Александр Сергеевич
  • Коровяков Виктор Александрович
SU1213345A1
Вихретоковый структуроскоп 1985
  • Арбузов Виктор Олегович
  • Арбузов Сергей Олегович
  • Бакунов Александр Сергеевич
  • Коровяков Виктор Александрович
SU1307323A1
Вихретоковый толщиномер 1983
  • Клюев Владимир Владимирович
  • Федосенко Юрий Кириллович
  • Коровяков Виктор Александрович
  • Арбузов Виктор Олегович
SU1087768A1
Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий на электропроводящей неферромагнитной основе 1985
  • Беликов Евгений Готтович
  • Кислов Владимир Анатольевич
  • Тычинин Алексей Петрович
SU1263994A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 179 096 A2

Реферат патента 1985 года Толщиномер диэлектрических покрытий

ТОЛЩИНОМЕР ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ по авт. св. № 905620, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, он снабжен перемножителем, подключенным первым и вторым входами к выходам амплитудного и амплитудно-фазового детектора соответственно, а выходом - к третьему входу сумматора. Ш (Л 1 QD О Од

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1985 года SU1179096A2

Толщиномер диэлектрических покрытий 1980
  • Бакунов Александр Сергеевич
  • Беликов Евгений Готтович
SU905620A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 179 096 A2

Авторы

Арбузов Виктор Олегович

Бакунов Александр Сергеевич

Завалов Юрий Николаевич

Коровяков Виктор Александрович

Даты

1985-09-15Публикация

1984-03-20Подача