Изобретение относится к неразрушающему контролю, может быть использовано для измерения толщины диэлектрических покрытий на электропроводящей основе и является усовершенств ванием устройства по основному авт. св. № 905620. Цель изобретения - повышение точности измерений. На фиг, 1 представлена структурна схема толщиномера диэлектрических по рытий; на фиг. 2 - зависимости погре ности измерения толщины от режима контроля и электромагнитных параметров основы. Толгциномер диэлектрических покрытий содержит последовательно соединенные автогенератор 1, накладной вихретоковый преобразователь 2, ампли тудный детектор 3, сумматор 4 и инди катор 5, амплитудно-фазовый детектор 6, подключенный сигнальным входам к выходу накладного вихретокового пр образователя 2, опорным входом через фазовращатель 7 - к выходу автогенер тора 1 и выходом - к второму входу сумматора 4, перемножитель 8, подключенный первым входом к выходу амплитудного детектора 3, вторым входом к выходу амплитудно-фазового детектора 6 и выходом - к третьему входу сумматора 4. Толщиномер диэлектрических; покрыти работает следующим образом. Вносимое напряжение с выхода накладного вихретокового преобразователя 2, запитываемого синусоидальным током от автогенератора 1, поступает одновременно на входы амплитудно-фазового детектора 6 иамплитудного детекто| аЗ. Опорное напряжение фазочувствительного детектора 6 с помощью фазовращателя 7 устанавливается синфазным с током возбуждения накладного вихретокового преобразователя 2. Посто- .. янные напряжения с выходов обоих детекторов поступают на выходы перемножителя 8, передаточная функция которого может быть записана в следующем виде: где К - коэффициент передачи; и,и„- выходные напряжения амплитудно-фазового детектора 6 и амплитудного детектора 3, соответственно. Выходные напряжения обоих детекторов и перемножителя 6 поступают на входы сумматора 4. Коэффициенты передачи сумматора 4 по каждому из входов могут быть выбраны так, что его выходное напряжение, подаваемое на индикатор 5, практически не зависит от изменений удельной электрической проводимости и магнитной проницаемости материала основы в широких пределах и зависит от толщины диэлектрического покрытия. Возможность отстройки от влияния вариации электромагнитных параметров основы подтверждается зависимостями представленными на фиг. 2, где введены следующие обозначения: h ()/2R, h, 2 Р3 1 тояния от центров обмоток накладного вихретокового преобразователя до электропроводящей поверхности;R эквивалентный радиус накладного вихретокового преобразователя; RVuj|aj(5/(U- - обобщенный параметр, характеризую1ций влияние удельной электрической проводимости ё и от1 осительной магнитной проницаемости jU. материала основы; u) - круговая частота тока возбуждения преобразователя; jUjj - магнитная постоянная. Из приведенных зависимостей еле- дует, что максимальная погрешность измерений, связанная с вариацией f и (5 , не превышает 1%. Следовательно,введенная с помощью перемножителя коррекция позволяет как минимум в 4 раза снизить методическую погрешность измерений.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Толщиномер диэлектрических покрытий | 1983 |
|
SU1113726A1 |
Толщиномер диэлектрических покрытий | 1980 |
|
SU905620A1 |
Толщиномер диэлектрических покрытий | 1984 |
|
SU1216637A1 |
Толщиномер диэлектрических покрытий | 1982 |
|
SU1067346A2 |
Электромагнитное устройство для из-МЕРЕНия РАССТОяНия дО элЕКТРОпРОВО-дящЕй пОВЕРХНОСТи | 1979 |
|
SU847002A1 |
Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий | 1984 |
|
SU1168798A1 |
Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий | 1984 |
|
SU1213345A1 |
Вихретоковый структуроскоп | 1985 |
|
SU1307323A1 |
Вихретоковый толщиномер | 1983 |
|
SU1087768A1 |
Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий на электропроводящей неферромагнитной основе | 1985 |
|
SU1263994A1 |
ТОЛЩИНОМЕР ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ по авт. св. № 905620, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, он снабжен перемножителем, подключенным первым и вторым входами к выходам амплитудного и амплитудно-фазового детектора соответственно, а выходом - к третьему входу сумматора. Ш (Л 1 QD О Од
Толщиномер диэлектрических покрытий | 1980 |
|
SU905620A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторы
Даты
1985-09-15—Публикация
1984-03-20—Подача