Устройство для измерения заряда и длительности сгустков заряженных частиц Советский патент 1987 года по МПК H05H7/00 

Изобретение относится к ускорительной технике, в частности к устройствам для измерения заряда и длительности сгустков заряженных частиц

Целью изобретения является повышение точности измерения за счет разделения измерения параметров сгустка на измерение заряда сгустка и упрощение обработки- результатов эксперимента путем сопоставления сигналов, получаеь1ых с электрооптических кристаллов .

. На чертеже схематично представлена конструкция предлагаемого устройства.

Оно состоит из двух злектрооптических кристаллов 1 и 2, установленных на внутренней стенке 3 канала транспортировки пзгчка. Первый из кристаллов 1 установлен параллельно предполагаемой траектории движения сгустков 4 заряженных частиц, второй кристалл 2 - перпендикулярно первому Оптическое излучение 5 вводится в кристаллы через 50% зеркала 6.

Устройство работает следуюищм образом.

Сгусток 4 заряженных частиц, двигаясь по предполагаемой траектории, создает в области расположения кристаллов электрическое поле, напряженность которого линейно связана с пло

ностью заряда в сгустке. Изменение напряженности вызывает соответствующее изменение оптических свойств

электрооптических кристаллов 1 и 2. Кристаллы воспринимают действие электрического поля по разному: первый из кристаллов 1, расположенный параллельно предполагаемой траектории, представляет собой волновод, работающий в режиме бегущей волны, второй 2, установленный перпендикулярно первому, воспринимает интегральное действие сгустка, тем самым накапливает информацию о заряде сгустка. Подразделяя измерение параметров сгустка (первый Кристалл обеспечивает измерение формы, второй - заряда сгустка), удается обеспечить повышение точности измерения. При одинаковых размерах кристаллов их длина должна быть соизмерима с протяженностью сгустка, ширина и высота меньше, протяженности сгустка. Выбор соотнощений, размеров кристаллов обусловлен как их соотн :шениями с протяженностью сгустка, так и технологическими особенностями электрооптического материала. При размерах кристалла

30x1,5x1,5 мм и протяженности сгустка, соизмеримой с длиной кристалла, режимы бегущей Р ,лны и интегратора практически оОеспечиваются,

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЗАРЯДА И ДЛИТЕЛЬНОСТИ СГУСТКОВ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ по авт. св. № 1056869, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения и упрощения последующей обработки результатов эксперимента, в преобразователь введен второй электрооптический кристалл, который расположен перпендикулярно первому кристаллу и прикреплен к той же внутренней стен-ке канала транспортировки пучка, к которой прикреплен первый кристалл.