СКАНИРУЮЩАЯ ДИФРАКЦИОННАЯ СИСТЕМА Советский патент 1995 года по МПК G01J3/18 

Описание патента на изобретение SU1213836A1

Изобретение касается оптического спектрального приборостроения.

Целью изобретения является увеличение точности и производительности спектральных измерений за счет повышения светосилы.

На чертеже приведена схема сканирующей дифракционной системы вертикальной компановки, две проекции.

Сканирующая дифракционная система содержит дифракционную решетку 1, горизонтальные щели 2 и 3, связанное с решеткой плоское зеркало 4, входной объектив 5, входной подвижный объектив 6, узел 7 поворотов на одинарный и двойной углы. Дифракционная решетка наклонена к оси вращения на угол блеска и штрихи ее установлены горизонтально.

Излучение через щель 2 падает на плоское зеркало 4, отражаясь от которого попадает на входной подвижный объектив 6. С входного объектива излучение попадает на дифракционную решетку 1. Зеркально отраженные ее ступенями лучи выходным объективом 5 фокусируются на выходную щель 3. При повороте решетки 1 с зеркалом 4 и одновременном повороте на двойной угол объектива 6 изменяется угол падения лучей на решетку и осуществляется сканирование спектра в соответствии с формулой
Δ= 2hcosϕо= kλ , где h - высота ступеней решетки, равная ее постоянной, умноженной на синус угла блеска;
ϕо - угол падения лучей на поверхности ступеней;
k - порядок спектра;
λ - длина волны.

Составляющая угла ϕверт в вертикальной плоскости (в плоскости дисперсии) не превышает 19о, составляющая в горизонтальной плоскости ϕгор изменяется от 0 до значения порядка 70о (угол блеска решетки величину угла не ограничивает).

Сканирующая дифракционная система может быть выполнена и по горизонтальной схеме.

Похожие патенты SU1213836A1

название год авторы номер документа
Двойной дифракционный монохроматор 1982
  • Эрме Э.К.
  • Лепасаар Т.П.
  • Уммер Ю.Э.-М.
  • Кинк Р.А.
SU1044111A1
СПОСОБ МОДУЛЯЦИИ ИНТЕНСИВНОСТИ ИЗЛУЧЕНИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 1999
  • Захаров И.С.
  • Спирин Е.А.
  • Рыков Э.И.
RU2168155C2
Дифракционный полихроматор 1981
  • Егоров Георгий Николаевич
  • Журавлев Дмитрий Аркадьевич
  • Журавлева Валентина Петровна
  • Мезенцев Александр Николаевич
  • Тюрин Виктор Степанович
SU958869A1
СПЕКТРАЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО 1996
  • Спирин Е.А.
  • Захаров И.С.
RU2094758C1
Монохроматор 1981
  • Вершинский Александр Евгеньевич
  • Лебедев Евгений Иванович
  • Александров Олег Васильевич
  • Мищенко Евгений Данилович
SU968628A1
ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКОЕ СКАНИРУЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО 1971
SU422976A1
Устройство для монохроматизации синхротронного излучения 1983
  • Адамчук В.К.
  • Федосеенко С.И.
  • Александров В.М.
  • Хомченко В.Д.
  • Пейсахсон И.В.
  • Савушкин А.В.
SU1108857A1
Дифракционная диспергирующая система 1972
  • Матвеев Леонид Григорьевич
SU727999A1
Монохроматор с дифракционной решеткой 1979
  • Кельман Вениамин Моисеевич
  • Родникова Ирина Викторовна
SU842428A1
Сканирующий спектральный прибор 1980
  • Кацнельсон Леонид Борисович
  • Малый Анатолий Владимирович
  • Малышев Анатолий Иванович
  • Лейкина Лора Яковлевна
SU934246A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 213 836 A1

Формула изобретения SU 1 213 836 A1

СКАНИРУЮЩАЯ ДИФРАКЦИОННАЯ СИСТЕМА, содержащая оптически связанные неподвижные входную и выходную щели, входной и выходной объективы, дифракционную решетку с узлом поворота и механически связанное с ней плоское зеркало, отличающаяся тем, что, с целью увеличения точности и производительности спектральных измерений за счет повышения светосилы, дифракционная решетка установлена так, что ее серединный штрих пересекает под прямым углом ось ее вращения, а плоскость решетки наклонена к оси вращения на угол блеска.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1995 года SU1213836A1

Дифракционная диспергирующая система 1972
  • Матвеев Леонид Григорьевич
SU727999A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 213 836 A1

Авторы

Матвеев Л.Г.

Даты

1995-03-27Публикация

1983-07-22Подача