Способ электрометрического определения элементов залегания скрытых под наносами пластов Советский патент 1959 года по МПК G01V3/04 

Описание патента на изобретение SU121516A1

Круговые исследования симметричными электрометрическими установками (круговые профилирования и круговые зондирования) разработаны для определения простирания анизотропных пород. Этот способ может применяться лишь при наличии анизотропии горных пород, когда кажущиеся сопротивления, измеренные установкой, ориентированной Бкрест простирания, имеют еньшие значения, чем по простиранию. Недостатком способа являются весьма ограниченные его возможности, позволяющие, с одной стороны, применять его на участках, где нет чередования четко выраженных пластов или других неоднороднОСтей, а с другой,-получать из всех элементов залегания лищь одну линию простирания.

Замена симметричных установок несимметричными не устраняет указанных недостатков, а лищь способствует рещению вопроса о возможности рассмотрения изучаемой среды в качестве анизотропной.

Для получения всех элементов залегания, определяющих пространственное положение пласта, вне зависимости от наличия или отсутствия анизотропии, предлагается специальная круговая установка, центр которой располагается в определенных точках по отношению к изучаемому пласту, а единичные замеры выполняются }iecHNiMeTpn4HbiMH трехэлектродными или дипольными установками с разносами, определенным образом связанными с види.мой мощностью пласта.

Сущность предлагаемого способа заключается в проведении круговых исследований в точках максимальной деформации электрического поля, вызываемых экранными явлениями на контактах пластов и выполнением единичных замеров несимметричными трехэлектродными и дипольными установками с расстояниями между питающи.ми и измерительными электродами, превышающими видимую мощность пласта. Зависимость получаемых в резулы-ате таких исследований диаграмм от элементов залегания пластов изображена на фиг. 1.

№ 121516- 2 -

Полевые исследования предлагаемым способом складываются из следующих пяти этапов: выбора местоположения центра установки, выбора вида установки, установления размеров установки для единичных замеров, подготовки планплета для измерений и производства измерений.

Центр установки должен располагаться в точке максимальных изменений кажуидихся сопротивлений, вызываемых пластом. Местоположение этой точки устанавливается по результатам двустороднего электропрофилирования несимметричной установкой (дипольной или трехэлектродной)-с учетом минимальных искажений вызываемых неровностями земной поверхности и неоднородностью покровных отложений.

Установка для круговых исследований состоит из находящихся в центре измерительных электродов и расположенных по кругу через определенный интервал питающих заземлений. Практически для каждого единичного замера используются одни и те же измерительные электроды и питающие заземления, которые поворачиваются по кругу через заданные интервалы {фиг. 2). Питающие электроды могут располагаться в различных комбинациях (фиг. 2-а, б т в), лишь с сохранением асимметрии электродов относительно центра установки при каждом единичном измерении.

При выборе разносов установки, кроме общих для электроразведки требований, необходимо соблюдение следующих специфически обязательных для рассматриваемого способа требований. Во-первых, расстояние от крайнего измерительного электрода до ближайщего к центру питающего заземления должно превосходить видимую мощность пласта; во-вторых, разносы установок должны подбираться с таким расчетом, чтобы питающие заземления при круговых исследованиях оказывались вне сферы ощутимых воздействий от смежных пластов.

Подготовка планщета для измерений заключается в том, что из точки, выбранной в качестве центра для круговых исследований, на местности разбиваются лучевые направления с заданными интервалами азимутов (чаще всего 30°) и устанавливается местоположение питаюших заземлений.

Пзмерения, кажущихся сопротивлений производятся теми же приемами, что для любой другой разновидности метода сопротивлений.

Предмет изобретения

Способ электрометрического определения элементов залегания скрытых под наносами пластов, отличающийся тем, что измерения ведутся круговой установкой с центром в точках максимального изменения кажущихся сопротивлений, вызываемого пластом на поверхности земли, а единичные замеры выполняются при несимметричном расположении питающих электродов относительно измерительных и с расстояниями между ними, превыщающими видимую мощность пласта.

Похожие патенты SU121516A1

название год авторы номер документа
Электродное устройство для оценки монолитности горных пород 1981
  • Бобров Владимир Васильевич
SU972318A1
СПОСОБ КАРТИРОВАНИЯ ГОРНЫХ ПОРОД 1992
  • Боголюбов Анатолий Николаевич
  • Боголюбова Наталия Петровна
RU2030768C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЗАСОЛЕННОСТИ ГРУНТОВ И/ИЛИ УРОВНЯ ГРУНТОВЫХ ВОД И ИХ МИНЕРАЛИЗАЦИИ 1992
  • Спешков Б.А.
RU2048749C1
Способ поиска и разведки подземных вод в криолитозоне 2015
  • Безруков Сергей Петрович
  • Лаптев Дмитрий Анатольевич
RU2606939C1
Способ подземной электроразведки 2023
  • Сальников Алексей Павлович
RU2810190C1
СПОСОБ ГЕОЭЛЕКТРОТОМОГРАФИИ НЕУСТОЙЧИВОЙ КРОВЛИ УГОЛЬНЫХ ПЛАСТОВ 1991
  • Козел Константин Климентьевич[Ua]
RU2019698C1
СПОСОБ ГЕОЭЛЕКТРОРАЗВЕДКИ 2013
  • Колесников Владимир Петрович
RU2545309C2
Способ геоэлектроразведки 1983
  • Поносов Владимир Александрович
  • Степанов Юрий Иванович
SU1111120A1
Способ осевого электрозондирования 1989
  • Нахабцев Александр Сергеевич
  • Богданов Леонид Афанасьевич
  • Сапожников Борис Григорьевич
SU1746346A1
СПОСОБ ГЕОЭЛЕКТРОРАЗВЕДКИ 2006
  • Улитин Руслан Васильевич
  • Федорова Ольга Ивановна
RU2332690C1

Иллюстрации к изобретению SU 121 516 A1

Реферат патента 1959 года Способ электрометрического определения элементов залегания скрытых под наносами пластов

Формула изобретения SU 121 516 A1

SU 121 516 A1

Авторы

Блох И.М.

Даты

1959-01-01Публикация

1955-03-15Подача