Изобретение относится к электрооптическим модуляционным устройствам светового потока, предназначенным для преобразования поляризационных параметров Стокса в различных системах измерения, передачи и обработки оптической информации, при поляризационной селекции для повышения помехоустойчивости и т. п.
Цель изобретения повышение граничной частоты и упрощение изменения фазы модуляции.
На чертеже изображена оптическая схема предлагаемого стокс-модулятора.
Стокс-модулятор состоит из диафрагмы 1, коллиматора 2, двух прозрачных металлических электродов 3, 4, напыленных на стеклянные подложки, между которыми зажаты монокристаллы DKDP 5, 6 Z-среза, линейного анализатора 7 и интерференционного фильтра 8, установленных перед светоприемником излучения (ФЭУ) 9. Для стабилизации рабочих параметров и заданного режима работы стокс-модулятора с ФЭУ помещен в термостатирующее устройство 10. Выход ФЭУ подсоединен к блокам обработки информации и блоку регистрации (не показаны).
Исследуемое излучение проходит через диафрагму 1, коллиматор 2, два монокристалла 5, Z-среза, зажатые между двумя прозрачными электродами 3,4, напыленными на стеклянные подложки, линейный анализатор 7, интерференционный фильтр 8 и падает на ФЭУ 9.
Если к электродам 3, 4 приложено переменное напряжение U Uocoswt, где Uо амплитуда, w частота модуляции на выходе ФЭУ установленного после стокс-модулятора, на двух монокристаллах 5,6 будет присутствовать постоянная и переменная составляющие, содержащие полную информацию о факторе Стокса исследуемого излучения.
Стокс-модулятор представляет собой самостоятельное функциональное устройство, которое может быть использовано в системах точечной и распределенной поляриметрии и эллипсометрии для решения различных научных и прикладных задач.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ КОМПЕНСАЦИИ ДИСПЕРСИИ СОСТОЯНИЙ ПОЛЯРИЗАЦИИ СВЕТА И БЫСТРОДЕЙСТВУЮЩИЙ ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКИЙ МОДУЛЯТОР НА ОСНОВЕ ХИРАЛЬНЫХ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛОВ | 2012 |
|
RU2522768C2 |
СТОКС-КАЛИБРАТОР | 1982 |
|
SU1083739A1 |
Многолучевой интерферометр | 1982 |
|
SU1060939A1 |
ФАЗОСДВИГАТЕЛЬ С УПРАВЛЯЕМЫМИ ПАРАМЕТРАМИ | 1996 |
|
RU2096761C1 |
СПОСОБ И УСТАНОВКА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСТАТОЧНЫХ НАПРЯЖЕНИЙ В МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛАХ ПОЛЯРИЗАЦИОННО-ОПТИЧЕСКИМ МЕТОДОМ | 2002 |
|
RU2240501C2 |
СПОСОБ УПРАВЛЕНИЯ ПОЛЯРИЗАЦИЕЙ СВЕТА И БЫСТРОДЕЙСТВУЮЩИЙ УПРАВЛЯЕМЫЙ ОПТИЧЕСКИЙ ЭЛЕМЕНТ С ПРИМЕНЕНИЕМ ХОЛЕСТЕРИЧЕСКОГО ЖИДКОГО КРИСТАЛЛА (ВАРИАНТЫ) | 2007 |
|
RU2366989C2 |
Рефрактометр для анизотропных кристаллов | 1982 |
|
SU1100541A1 |
Устройство для автоматического определения поляризационного состава светового импульса | 1981 |
|
SU989335A1 |
СПОСОБ ВИЗУАЛИЗАЦИИ МИКРОКОНТРАСТНЫХ ОБЪЕКТОВ И ОПТИЧЕСКИЙ ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ НАНОСКОП ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 1994 |
|
RU2029976C1 |
Устройство для измерения оптических параметров прозрачных сред на основе интерферометра Маха-Цендера | 1982 |
|
SU1130778A1 |
СТОКС-МОДУЛЯТОР, содержащий последовательно расположенные активный элемент, выполненный в виде двух электрооптических кристаллов с азимутами наведенных осей, развернутыми относительно друг друга на 45o, и линейный анализатор, отличающийся тем, что, с целью повышения граничной частоты и упрощения изменения фазы модуляции, в качестве активного элемента модулятора использована стопа из двух пластин Z-среза, вырезанных из одного электрооптического кристалла, размещенная между двумя общими для обеих пластин прозрачными электродами, причем азимут наведенной от первой пластины стопы перпендикулярен плоскости главного пропускания линейного анализатора.
СТОКС-МОДУЛЯТОР, содержащий последовательно расположенные активный элемент, выполненный в виде двух электрооптических кристаллов с азимутами наведенных осей, развернутыми относительно друг друга на 45o, и линейный анализатор, отличающийся тем, что, с целью повышения граничной частоты и упрощения изменения фазы модуляции, в качестве активного элемента модулятора использована стопа из двух пластин Z-среза, вырезанных из одного электрооптического кристалла, размещенная между двумя общими для обеих пластин прозрачными электродами, причем азимут, наведенной от первой пластины стопы перпендикулярен плоскости главного пропускания линейного анализатора.
Мустель Е.Р | |||
Парыгин В.Н | |||
Методы модуляции и сканирования света | |||
М.: Наука, 1970, с.15 | |||
Hauge P | |||
Recent developments in instrumentation in ellipsometry, Surface Science, 96, 1980, p.119-121. |
Авторы
Даты
1996-05-10—Публикация
1983-05-11—Подача