Способ количественного исследования оптических неоднородностей при помощи теневого прибора Советский патент 1959 года по МПК G02B27/46 

Известные способы количественного исследования оптических псоднородностей при помощи теневого прибора rie позволяют производить одновременное измерение величи1 Ы влияния пеоднородностеи в дву.х направлениях.

Для устранения указанного недостатка предлагается перед фокпльной плоскостью прибора устанавливать диафрагму, имеющую ряды точечных отверстий, и по направлению и величине смещен ; дифракцио;;ных картин .создаваемых этими отверстиями, судить о направлении и неличине влияния оптической неоднородности.

На чертеже изображена схема прибора для осуществления указанного способа.

В теневой прибор устанавливают на некотором расстоянии от фокальной плоскости 1 диафрагму 2 с точечных отверстиГи обраsyioiiUix Б фокальной плоскости ряды дифракцио1 ных картин. Па-эхчение этих картин изменяется при наличии неоднородностей з исследуел о;1 среде. По величине и направлению смещения дифракционных кппти.ч, проектируемых на экран 3 при помощи точечного источ11ика света 4.: можно судить о направлении и величине влияния неоднородности и о месте ее нахождения. Параметры рещетки и размер источника 4 вьтбираются в зависимости от измеряемого объекта. Пр1 измерениях на а родинамических трубах берутся рещетки с периодом 0,1-2 /...и и источник размером 0,02-0,4 мм, при гидродинамических измерениях nepiio.i рещетки может возрастать до сантиметра.

Предмет изобретения

Способ количественного исследования оптических неоднородностей при помощи теневого прибора, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что. с целью одновременного измерения величины влияния неоднородностей в двух направлениях, перед фокальной плоскостью прибора устанавливают диафрагму, имеющую ряды точечных отверстий, и по направлению и велич1не смещения дифракционных картин, создаваемых этими точечными отверстиями, судят о направлении и величине влияния оптической неоднородности.