Электронный микроскоп Советский патент 1959 года по МПК H01J37/26 H01J29/56 H01J29/80 

Описание патента на изобретение SU122822A1

В современных электронных микроскопах, содержащих объективную и проекционную линзы, с целью регулирования диапазона увеличения в значительных пределах, применяют слабую промежуточную линзу, оптические параметры которой существенно отличаются от параметров объектива и проекционной линзы. Полевая аберрация промежуточной линзы в несколько раз превыщает полевую аберрацию остальных лннз, в то же время аберрация увеличения и вращения ее несоизмерима с соответствующими аберрациями объективной и проекционной лннз, что исключает взаимную компенсацию полевых аберраций всех трех линз. Наличие хроматической аберрации, создаваемой промежуточной линзой, составляет существенный недостаток электронного микроскопа с регулируемой -степенью увеличения.

Этот недостаток устранен в предлагаемом электронном микроскопе применением в нем второй промежуточной линзы, установленной соосно с основной промежуточной линзой на расстоянии от нее, определяемом фокусными расстояниями линз микроскопа.

Схема проекционного блока электронного микроскопа изображена на чертеже. Микроскоп содержит две промежуточных линзы У и 2 и проекционную линзу 3.

Действие такой системы заключается в следующем. При увеличении ускоряющего напряжения, соответствующем изменению увеличения микроскопа, фокусные расстояния обеих промежуточных линз изменяются. В результате .увеличения преломляющей силы первой промежуточной линзы главный луч в ее фокальной плоскости сильнее отклоняется к оси, вследствие чего луч пересекает вторую линзу в точке, расположенной ближе к оси, че.м до изменения ускоряющего напряжения. Но в этой точке луч отклоняется к оси слабее, чем в точке, в которую луч падал до изменения ускоряющего напряжения. Таким образом, несмотря на то, что преломляющая сила второй линзы возросла, главный луч пересекает иредметную плоскость все в той же точке.

Предмет изобретения

Электронный микроскоп с объективной, проекционной и промежуточной линзами, отличающийся тем, что, с целью устранения хроматической аберрации, он снабжен второй промежуточной линзой, установленной соосно с основной промежуточной линзой на расстоянии ог нее, зависящем от фокусных расстояний линз.

Похожие патенты SU122822A1

название год авторы номер документа
ОПТИЧЕСКАЯ КОЛОНКА ДЛЯ ИЗЛУЧЕНИЯ ЧАСТИЦ 1994
  • Мартин Фредерик Уайт
RU2144237C1
КОРПУСКУЛЯРНО-ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА ФОРМИРОВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 2007
  • Саченко Вячеслав Данилович
RU2362234C1
КОСМИЧЕСКИЙ ЗЕРКАЛЬНО-ЛИНЗОВЫЙ ТЕЛЕСКОП 1999
  • Маламед Е.Р.
  • Путилов И.Е.
  • Сокольский М.Н.
  • Лапо Л.М.
RU2154293C1
ПРОЕКЦИОННАЯ ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА 2010
  • Шишкин Игорь Петрович
  • Пискунов Дмитрий Евгеньевич
RU2462741C2
СОЗДАЮЩИЙ ИЗОБРАЖЕНИЕ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ ФИЛЬТР ДЛЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ И СПЕКТРОСКОП С ПОДОБНЫМ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИМ ФИЛЬТРОМ 2010
  • Фуннеманн Дитмар
RU2529463C2
ОБЪЕКТИВ С ТЕЛЕЦЕНТРИЧЕСКИМ ХОДОМ ЛУЧЕЙ 2006
  • Лапо Лина Михайловна
  • Совз Ирина Евгеньевна
  • Сокольский Михаил Наумович
  • Полищук Григорий Сергеевич
  • Трегуб Владимир Петрович
RU2305857C1
Вариообъектив 1988
  • Оскотский Марк Лейвикович
SU1522138A1
Электроннооптическая система про-СВЕчиВАющЕгО элЕКТРОННОгО МиКРОСКОпА 1978
  • Анаскин Иван Филиппович
  • Агеев Евгений Васильевич
  • Стоянов Павел Александрович
SU811365A1
Окуляр микроскопа 1991
  • Буцевицкий Александр Владимирович
  • Иванов Андрей Викторович
  • Курчинская Людмила Ниловна
  • Усоскин Владимир Владимирович
SU1793414A1
ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ФИЛЬТР ДЛЯ РАЗДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОННЫХ ПУЧКОВ 2005
  • Гайдукова Инна Семеновна
  • Гринфельд Дмитрий Эдуардович
  • Розенфельд Леонид Борисович
RU2305345C1

Иллюстрации к изобретению SU 122 822 A1

Реферат патента 1959 года Электронный микроскоп

Формула изобретения SU 122 822 A1

SU 122 822 A1

Авторы

Стоянов П.А.

Даты

1959-01-01Публикация

1959-02-05Подача