Способ определения фактической площади контакта твердых тел Советский патент 1986 года по МПК G01N3/56 

to

а tc

со 4

N) Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения характеристик кои- тактного взаимодействия твердых тел, в том числе при трении, при об работке металлов давлением и др. Цель изобретения - повьппение точ ности определения фактической площади контакта твердых тел при испол зовании тонкой пленки вещества-инди катора, нaнeceннo o на одну из контактирующих поверхностей. Способ осуществляют следующим об разом , На контактную поверхность образца наносят тонкий слой фоторезиста, например, пентрифугированием, высуши вают его, затем образец приводят в соприкосновение с поверхностью контр образца под заданной сжимающей нагрузкой, после чего контактную пару разгружают, поверхность образца с пленкой фоторезиста подвергают травлению и по площади протравившихся участков судят о фактической пло щади контакта исследуемых образцов. 2 При контактном взаимодействии поверхностей пленка фоторезиста подвергается деформации и разрушению в местах фактического контакта, что приводит к разрушению адгезионных связей пленки фоторезиста с поверхностью, на которую она была нанесена. Вследствие этого травление поверхности образца после контактного взаимодействия выявляет границы площади фактического контакта. Формула изобретения Способ определения фактической площади контакта твердых тел, заключающийся в том, что на одну из поверхностей контакта наносят тонкую пленку вещества-индикатора, приводят поверхности в соприкосновение под нагруз.кой, а о величине фактической площади контакта судят по изменению пленки после, контактного взаимодействия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения, в качестве материала пленки используют фоторезист, который подвергают травлению после контактного взаимодействия.

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения характеристик контактного взаимодействия твердых телд в том числе при трении, при обработке металлов давлением и др. Целью изобретения является повьшение точности определения фактической площади контакта твердых тел. Цель достигается за счет использования в качестве вещества-индикатора, наносимого на одну из контактирующих поверхностей, фоторезиста, обладающего способностью при нанесении его на щероховатуиэ поверхность в виде тонкой пленки практически не искажать микрорельеф поверхности-подложки. При этом фактическая площадь контакта определяется по пЯощади про9 травившихся участков на поверхности с нанесенной пленкой фоторезиста (Л после контактного взаимодействия.