Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов Советский патент 1986 года по МПК G01R27/26 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и по сравнению с авт.св. № 1161898 позволяет сократить время измерений. Устройство содержит измерительную камеру (ИК) 1 с расположенными в // )/Г(//ГГ t л. , 12 f ней активным элементом 2 и СВЧ-переключателем 10, резистор 3, усилитель 4 с регулируемым коэффициентом усиления, операционный усилитель 5, два ключа 6 и 12, усилитель 7, элемент памяти 8, индикаторный прибор 9 и два источника питания (ИП) 11 и 13. При подключении СВЧ-переключателя 10 и ИП 11 синхронно через ключи 6 и 12 замыкается цепь инверсного входа через усилитель 7, в результате чего отпадает необходимость в выходе измеряемого образца из ИК 1, что приводит к сокращению времени, .затрачиваемого на проведение измеi рений. Цель достигается введением СВЧ-переключателя 10, ИП 11 и клю(Л ча 12. 1 ил. ts3 Pi 4; СО N