Электромагнитный дефектоскоп Советский патент 1986 года по МПК G01N27/90 

Описание патента на изобретение SU1272212A1

«1 Изобретение относится к неразрушающему контролю-и может быть использовано .для дефектоскопии неферромагнитных электропроводящих объектов . Цель изобретения - повышение достоверности ко.нтроля за счет обеспечения заданного режима-. На чертеже представлена структурная схема электромагнитного дефектоскопа. Электромагнитный дефектоскоп состоит из последовательно соединенных буферного каскада 1, управляемого генератора 2, дифференциального вихретокового преобразователя 3, буферного каскада 4, первого измерительного канала, состоящего из широкополосного усилителя 5, фазового детектора 6, подключенного опорным входом к выходу генератора 2, вычитателя 7, подключенного вторым вхо дом к задатчику 8 и интегратору 9, масштабного усилителя 10 и вы- читателя 11, между вторым входом последнего и вторым выходом буферного каскада 4 включен второй измерительный канал, идентичный первому и состоящий из последовательно соединенных широкополосного усилителя 12, фа зового детектора 13, подключенного опорным входом к выходу генератора 2, вычитателя 14, подключенного вторым входом к задатчику 15, и интегратора 16, индикатора 17, подключенного к выходу вычитателя 11, генератора 18 тактовых импульсов, соеди.ненного выходом с вторыми входами буферных каскадов 1 и 4. Первый и . третий входы буферного каскада 1 сое динены с выходами масштабного усилителя 10 и интегратора 16« Дефектоскоп работает следующим образом. Первоначально устанавливают напр жения задатчиков 8 и 15 и коэффициент К усиления масштабного усилителя 10. Напряжения задатчиков 8 и 15 оп ределяют величину фазы вносимого в вихретоковый преобразователь 3 напряжения, соответствующую заданному значению обобщенного параметра X Р. uoojw, где U - циклическая частота колебаний электромагнитного по .ля; jn - абсолютная магнитная прони цаемость материала изделия-, 6 - удельная электрическая проводимость R- ра2аиус изделия, при которых работает аждый измерительный канал. Коэффииент К устанавливается равным К , где Х и Xj - обобщенные араметры первого и второго измерительных каналов соответственно. Б процессе контроля генератор 18 тактовых импульсов поочередно включает первый и второй измерительные каналы. Частота, вырабатываемая генератором 2, регулируется путем обратной связи, имеющейся в каждом канале. При этом обеспечивается режим с обобщенным параметром Х при работе первого канала и с j Р Р боте второго канала. Если в контролируемом изделии нет дефектов, то при указанной настройке на выходе вычитателя 11 напряжение отсутствует. При этом вариация 6 не приводит к появлению ложных сигналов, так как автоматически изменяется, частота ш и (J при работе первого и второго каналов. Кроме того, не требуется перестройка для контроля изделий с различной удельной электропроводностью. Формула изобретения Электромагнитный дефектоскоп, содержащий последовательно соединенные генератор, дифференциальный вихретоковый преобразователь и буферный каскад, вычитатель и индикатор, подключенный к выходу вычитателя, два идентичных измерительных канала, каждый из которых содержит фазовый детектор, подключенньш опорным входом к выходу генератора, входы обоих измерительных каналов подключены к вьгкоду буферного каскада, а выход первого измерительного канала подключен к первому входу вычитателя, отличающийся тем, что, с целью повьш1ения достоверности контроля, он снабжен вторым буферным каскадом, генератором тактовых импульсов, подключенным к первому и второму входу соответственно первого и второго буферных каскадов, и масштабным усилителем, каждый измерительный канал снабжен подключенным к второму входу фазового детектора широкополосным усилителем, вход которого является входом измерительного канала, и подключенными к выходу фазов.ого детектора последовательно соединенными дополнительным вычитателем, второй

312722124

вход которого подключен к задатчи-тор выполнен управляемым и подклюку, к интегратором, являющимся выхо-чан своим управляющим входом к выходом измерительного канала, выход вто-ду второго буферного каскада, соерого измерительного канала подключендиненного входами с выходами первок второму входу первого вычитателя 5го измерительного канала и масштабчерез масштабный усилитель, генера-ного усилителя.

Похожие патенты SU1272212A1

название год авторы номер документа
Вихретоковое устройство для неразрушающего контроля с температурной компенсацией 1987
  • Рябцев Валерий Кириллович
  • Уринюк Валерий Дмитриевич
  • Запускалов Валерий Григорьевич
  • Легкобыт Анатолий Кондратьевич
SU1490615A1
Измеритель геометрических параметров неферромагнитных изделий 1978
  • Дмитриев Юрий Степанович
  • Буров Виктор Николаевич
  • Латышев Леонид Евгеньевич
  • Корнеев Борис Васильевич
  • Шатерников Виктор Егорович
SU748234A1
ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ КОРРОЗИОННЫХ ПОВРЕЖДЕНИЙ СТЕНОК ФЕРРОМАГНИТНЫХ КОНСТРУКЦИЙ 2008
  • Федосенко Юрий Кириллович
  • Махов Виктор Михайлович
RU2397485C2
ВИХРЕТОКОВЫЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ 1995
  • Булгаков В.Ф.
  • Гольдштейн А.Е.
  • Калганов С.А.
RU2090882C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТЕХНИЧЕСКОЙ ДИАГНОСТИКИ РЕЛЬСОВОГО ПУТИ 1995
  • Редькин Владимир Ильич
  • Рябцев Валерий Кириллович
  • Запускалов Валерий Григорьевич
  • Егиазарян Анатолий Ваганович
  • Туробов Борис Валентинович
  • Ковалевский Виктор Михайлович
RU2066646C1
Вихретоковое устройство неразрушающего контроля 1988
  • Рябцев Валерий Кириллович
  • Запускалов Валерий Григорьевич
  • Легкобыт Анатолий Кондратьевич
SU1522086A1
Устройство для контроля температуры внутренних слоев детали 1990
  • Игнатьев Борис Сергеевич
  • Панов Владимир Александрович
  • Панов Сергей Александрович
  • Лунегова Александра Алексеевна
SU1758450A1
Вихретоковое измерительное устройство 1988
  • Конюхов Николай Евгеньевич
  • Шишкин Алексей Рудольфович
  • Буров Виктор Николаевич
SU1559278A1
Устройство для контроля температуры внутренних слоев детали 1986
  • Лицин Натан Моисеевич
  • Панов Владимир Александрович
  • Панов Сергей Александрович
SU1362961A1
Двухчастотный модуляционный дефектоскоп 1977
  • Глазков Леонид Александрович
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Иванов Борис Александрович
  • Скрипник Виктория Иосифовна
SU847174A1

Реферат патента 1986 года Электромагнитный дефектоскоп

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии электропроводящих объектов. Повышение достоверности контроля достигается благодаря тому, что в дефектоскопе используются два измерительных канала, каждый из которых выполнен с обратной связью, обеспечивающей заданный режим измерения, и генератор выполнен управляемым. Путем автоматической регулировки частоты генератора 2 в процессе измерения устанавливаются режимы при работе каждого из измерительных каналов. При отсутствии дефектов в изделии напряжение на выходе обоих каналов отличаются в К раз, где К - коэффициент усиления масштабного усилителя 10. Это соотношение не зависит от велиi чины удельной электропроводности 6 изделия. В результате индикации де(Л фекта при вариации 6 не произойдет. С 1 ил.

Формула изобретения SU 1 272 212 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1986 года SU1272212A1

Устройство для электромагнитной дефектометрии 1980
  • Ануфриков Владимир Иванович
  • Горбатов Георгий Зиновьевич
  • Трахтенберг Лев Исаакович
  • Шкатов Петр Николаевич
SU945769A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП 0
SU167062A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 272 212 A1

Авторы

Горохов Анатолий Валерьевич

Панов Владимир Александрович

Садиков Алексей Яковлевич

Даты

1986-11-23Публикация

1985-06-25Подача