Способ испытания электрической прочности изоляции электродов электронных ламп Советский патент 1960 года по МПК G01R31/24 H01J9/42 

Описание патента на изобретение SU127763A1

Для испытания электрической прочности электродов электронных ламп обычно пользуются приложением нужного испытательного напряжения к соответствующему изоляционному промежутку лампы. Источником испытательного напряжения является пробойно-испытательная установка. Испытуемая лампа при этом находится в нерабочем состоянии.

В результате подобных испытании ве,1ичины 11олученнь х пробивных напряжений не характеризуют действительной прочности изоляции электродов лампы при ее работе к заданном электрическом и, следовательно, тепловом режиме.

Предлагаемый способ отличается от изпестнь х использованием самой испытуемой лампы д/ш получения испытательноп: нанрянсения, что дает возможность упростить процесс испытания ii проводить его ч режиме, близком к рабочему режиму .тампы, г, котором она находится в }словиях эксплуатации.

На сетку испытуемой лампы // (см. чертеж), лаходягцейся в заданном режиме по величинам питающих напряжеп ; сетки U и анодл и а, подается одиночный н.чи периодический отрицательный импульс, запирающий испытуемзю лампу. Амплитх да этого отрнцате.тыгаго импульса выбирается такой величины, чтобы обеспечить ; спыта-ние электрической прочности изоляции управляющей ceTKii. В случае возникновения пробоя изоляции сетки амплитздный вольтметр (на схеме не показан) покажет ,спад -напряжения.

На индуктивности дросселя Др, включенного в анод лампы, при резкой отсечке тока возникнет всплеск колебательного напряжения, от которого известным способом (например, диодом) оставляется только первый импульс положительной полярности. H3NiepHeMbm амплитудным вольтметром. Изменяя сопротивленме щунта R дроссе.1я, .можно менять в нужных пределах величину получаемого импульса напряжения допробоя изоляции анода испытуемой лампы 7.

(люсоб испыта)1кя электрической прочности изоляи;:: .;ектродов электронных ламн, основанный на нолучепин на электродах лампы имлульсных испытательных напряжений, о т л к ч а ю ni. п ис я тем, что, с ле.чьк) проп1,еппя процесс лспьпанпй п прпб.п«кеп я iKin-iiTaniui к реалып л условпям, л;; огт: пспытуе и)й .laMiib; подают ;ялыт; те, импульс отрпцателыюй нолярпостн н, ретулнруя неличилу €ОГ1ротиз.лемпя, niynTHpyiooiero ЛНДУКТПВНОСТЬ, : клк;чеппу1о к nevib .чампы, получают на аподе лампы положптел1)Пый отноогге.тьнс а: катода iicшмтуемый nMnv-UiC )e-6veMou амплстлды.

и 3 о б j) с т е и и я

Похожие патенты SU127763A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения напряжения отсечки анодного тока 1951
  • Медведев Р.С.
SU96567A1
Устройство для измерения малых постоянных токов управляющего электрода 1955
  • Медведев Р.С.
SU115921A1
Устройство для испытания вакуумных разрядных вентилей 1941
  • Александров А.Г.
SU62274A1
СПОСОБ ПРОВЕДЕНИЯ ИСПЫТАНИЙ НА ДОЛГОВЕЧНОСТЬ ГЕНЕРАТОРНЫХ ЛАМП 2008
  • Лисенков Александр Аркадьевич
  • Барченко Владимир Тимофеевич
  • Гончаров Вадим Дмитриевич
  • Прялухина Наталья Григорьевна
  • Скачек Ирина Геннадьевна
RU2383961C1
Устройство для испытания выпрямителей 1932
  • Александров А.Г.
SU32057A1
МНОГОМЕСТНАЯ НОЛУАВТОМАТИЧЕСКАЯУСТАНОВКА ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХПАРАМЕТРОВ И КАЧЕСТВА ОБМОТОК СТАТОРОВЭЛЕКТРОДВИГАТЕЛЕЙ 1968
SU428312A1
Способ создания ускорений 1957
  • Медведев Р.С.
SU113193A1
Устройство для испытания генераторных и мощных усилительных ламп 1941
  • Александров А.Г.
SU61887A1
Устройство контроля ресурса квантово-электронных передающих модулей 1988
  • Журавин Анатолий Исаевич
  • Елисов Дмитрий Евгеньевич
SU1575141A1
Устройство для дуплексного телеграфирования 1939
  • Браженас Р.С.
SU63525A1

Иллюстрации к изобретению SU 127 763 A1

Реферат патента 1960 года Способ испытания электрической прочности изоляции электродов электронных ламп

Формула изобретения SU 127 763 A1

SU 127 763 A1

Авторы

Медведев Р.С.

Даты

1960-01-01Публикация

1959-08-18Подача