Устройство для определения частотно-контрастной характеристики системы воспроизведения изображения Советский патент 1987 года по МПК G01M11/00 

1

Изобретение относится к метрологии систем воспроизведения изобретения (СВИ) и может быть использовано в оптико-электронной промышленности для контроля качества СВИ (объективов, электронно-оптичес сих преобразователей, телевизионных систем, построенных с использованием матричных- и многоэлементных фотоприемникрв и т.д.)

Цель изобретения - расширение рабочего диапазона измерения частотно- контрастной характеристики в области высоких пространственных частот.

На фиг,1 приведена схема устройства; на фиг.2 - радиальная мира, используемая в качестве тест-объекта и анализирующей миры; на фиг.З - дополнительный вариант схемы устройства для определения частотно-контрастной характеристики системы воспроизведения изображения с использованием линейной штриховой миры в качестве тест-объекта и анализирующей маски; на фиг,4 - линейно-штриховая мира.

Устройство состоит из источника измерения 1, конденсора 2, тест-объекта 3, в качестве которого используется радиальная (фиг.2) или линейно-штриховая, (фиг.4) миры, микрообъектива 4, системы 5 воспроизведения изображения, микрообъектива 6, ирисовой диафрагмы 7, радиальной или линейно-штриховой миры 8, идентичной тест-объекту 3, причем радиальная мира установлена с возможностью вращения, а линейно-штриховая

мира - с возможностью линейного пере- 40 тест-объекта и установленные за сис- мещения в направлении, перпендикуляр- темой воспроизведения изображения

ном расположению штрихов, объектива 9, фотоприемника 10, усилителя 11, выпрямителя 12, дифференциатора 13, двухкоординатного самописца 14, вторая координата которого согласована с устройством 15 управления размером ирисовой диафрагмы 7, средства 16 перемещения радиальной миры фиг.1, выпрямителя 17, средства 18 линейного перемещения (фиг.З) линейно штриховой миры.

Устройство работает следующим образом.

Источник света 1 с помощью конден- 5 i идентичных по форме периодических сора 2 освещает тест-объект 3, изоб- растров.

968862

ражение которого-с помощью микрообъектива 4 формируется на входе системы 5 воспроизведения изображения. С выхода системы 5 воспроизведения 5 изображения изображение тест-объекта с помощью микрообъектива 6 переносится в ограниченную ирисовой диафра - мой 7 плоскость анализирующей миры 8, идентичной тест-объекту 3. ПрошедtO щий через анализирующую миру 8 световой поток фокусируется объективом 9 на приемную площадку фотоприемника 10. Устройства 16 или 18 перемещения или обесп€;чивают перемещение миJ5 ры 8, в результате чего на фотоприемник 10 поступает модулированный сигнал, из которого в результате обработки электронными устройствами определяется коэффициент передачи конт20 раста изображбшия тест-объекта 3 на выходе системы 5 воспроизведения изображения в зависимости от пространственной частоты перемещения ана25

лизирующей маски либо числом штрихов (в случае использования линейно- штриховой миры), либо максимальным размером ирисовой диафрагмы (в случае использования радиальной миры).

ЗС Формула изобретения

У.стройство для определения частотно-контрастной характеристики системы воспроизведения изображения, 35 включающее установленные последовательно перед системой воспроизведения изображения источник излучения, конденсор, тест-объект, оптическую систему формирования изображения

оптическую систему формирования изображения тест-объекта, анализатор изображения, снабженный средством

4- его перемещения, перед которым установлена диафрагма с возможностью изменения ее отверстия, фотоприемник, выход которого соединен с устройством электронной обработки сигнала,

50 отличающееся тем, что с целью расширения рабочего диапазона измерения в области высоких пространственных частот тест-объект и анализатор изобрг1жения выполнены в виде

фиг.2

Изобретение относится к метрологии систем воспроизведения изображения. Цель изобретения - расширение рабочего диапазона измерения частот- но-контрастной характеристики в области высоких пространственных час- тот. С выхода системы воспроизведения с помощью микрообъектива 6 изображение тест-объекта переносится в ограниченную диафрагмой 7 плоскость анализирующей миры 8 . (AM), идентичной тест-объекту 3. Прошедший через AM 8 световой поток фокусируется объективом 9 на приемную площадку фо топриемника 10. Устройство 16 перемещения перемещает АН 8, в результате чего на фотоприемник 10 поступает модулированный сигнал, по которому в результате обработки электронными устройствами определяется коэффициент передачи контраста изображения тест-объекта 3 на выходе системы 5 воспроизведения изображения в зависи мости от пространственной частоты пе ремещения АИ 8. 4 ип. S (Л ю :о 65 (30 СХ) О)

фиг.З

I

.

Составитель С.Соколов Редактор М.Недолуженко Техред И.Попович

Заказ 768/44

Тираж 777Подписное

ВНИИГШ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Корректор М.Демчик