где: р - 6 - 0- отнощение амплитуд ортогональных компонент поля отраженной волны; сдвиг фаз между векторами ортогона.пьных компонент после отражения; длина волны источника сигнала; угол падения волны на диэлектрик.
№ 130077- 2 - ,
Предмет изобретения
Способ определения параметров диэлектриков по изменению поляризационной структуры отраженной волны, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерения, в качестве источника сигнала используют волну с круговой поляризацией, а параметры исследуемого диэлектрика определяют, измеряя его деполяризующие свойства.
| название | год | авторы | номер документа |
|---|---|---|---|
| Устройство для измерения диэлектрической постоянной на сантиметровых волнах | 1946 |
|
SU71430A1 |
| Способ контроля размеров и обнаружения поверхностных дефектов в изделиях | 1941 |
|
SU62465A1 |
| Антенна | 1947 |
|
SU73503A1 |
| Способ непосредственного измерения диэлектрической проницаемости материалов на сверхвысоких частотах | 1954 |
|
SU101134A1 |
| Устройство для автоматической стабилизации СВЧ мощности | 1959 |
|
SU133926A1 |
| Устройство для измерения диэлектрической проницаемости жидкостей и газов при сверхвысоких частотах | 1952 |
|
SU101968A1 |
| Индикатор уровня проходящей по волноводу мощности на сверхвысоких частотах | 1954 |
|
SU114503A1 |
| Устройство для измерения в свободном пространстве напряженности СВЧ поля и проходящей мощности | 1960 |
|
SU137145A1 |
| Лампа бегущей волны | 1948 |
|
SU118194A1 |
| Антенна | 1954 |
|
SU101155A1 |
