Способ определения линейных параметров многополюсника Советский патент 1987 года по МПК G01R27/32 

113

Изобретение относится к технике ррдиоизмерений и-может использоваться для измерения матриц линейных параметров транзисторов, интегральных схем и других многополюсников.

Цель изобретения - повышение точности за счет устранения погрешностей, обусловленньк паразитными элементами резисторов.

На фиг. 1 и 2 изображены структурные электрические схемы устройств для осуществления предлагаемого способа.

Устройства для осуществления предлагаемого способа содержат источник

1синусоидального сигнала, резисторы

2и 3, образцовый резистор 4 и иссле- дуемьй многополюсник 5.

Способ осуществляют следующим образом.

Для измерения вектора калибровочных напряжений собирают устройство в соответствии с фиг. 1. подключении источника 1 через резистор 2 к образцовому резистору 4, к которому подсоединяется контактное приспособление 6, предназначенное для соединения i-ro входа исследуемого многополюсника 5, обладающего матрицей YP проводимости, и резистора 3 к выходу контактного приспособления 6,- предназначенного для подсоединения j-ro входа исследуемого многополюсника 5, измеряют компоненты Up,- вектора и калибровочных напряжений.Данные измерения проводят N раз.

Затем собирают устройство в соответствии с фиг. 2, для чего отсоединяют образцовый резистор 4 от 1-входа и измеряют диагональные и недиагональные компоненты Up,-- и U(,jj матрицы опорных напряжений U. При каждом подключении источника 1 к очередному 1-влоду контактного приспособления измеряют одну диагональную компоненту вектора U и N-1 недиагональных его компонент, причем операций повторяют N раз по числу входов.

Для определения компонент матрицы полюсных напряжений собирают устройство по фиг. 2 путем подключения .исследуемого многополюсника с матрицей Y проводимости к соответствующим входам контактного приспособления. Про- цесс измерений диагональных и недиагональных компонент U-- и U,-,- мать Л

рицы напряжений U аналогичен процессу измерения матрицы напряжений Uo.

02

Данные измерений используют для определения коэффициентов матриц ли- нейных параметров исследуемого многополюсника, причем результаты калибровки измерительного приспособления в виде составляющ11 х векторов напряжений U|j и матрицы напряжений U, а также данные калибровки пробника измерительного прибора, а именно значение его входной проводимости на заданной частоте измерений используют для определения систематических поправок, посредством которых определяют точные значения коэффициентов

матрицы исследуемого многополюсника путем нахождения коэффициентов матрицы:

Y D (М) - (MO r l, где D - скалярная матрица с диагональным элементом, равным 2; М и Mj, - матрицы, диагональные и недиагональные коэффициенты которых определяют по формулам

2 -11. ( 1 )

UOH Uoi

т,-

YY -Ji- r

ii/i n T i

Uov;

Un;

- 1)

M -.

о Uj / V

/ --- - --Г I ; ij,tl pviy o I,

ГУ, . - Y --i - ( - m Y ) Uojj Co, i

М

oi ;

2UoJic Uj)u .s Y

ri l,

v ojjpj;;M

Y,. - У„ ( - 1 ) Y,.

0

1 и j - индексы входов исследуемого многополюсника; . - диагональный элемент матрицы напряжений U для входа i;

и о,-; - диагональный элемент матрицы напряжений U для входа i;

и UQ- - элементы вектора напряжений % для входов i и J;

к;

j

м..

II

м.

oji

31317370

-элемент матрицы напря- М и М - жений и, который соответствует напряжению

на входе j при подключении источника ЭДС к г входу i;

-проводимость образцового резистора для входа i;

-проводимость образцово- 10 го резистора для входа J;

-входная проводимость измерительного прибора;

-диагональный элемент f5 матрицы напряжений U

для входа j;

-недиагональный элемент матрицы Ug,который соответствует напряжению 20 на входе j при подключении источника ЭДС к входу i.

М

Ои

М

oj-;

где 1 и J

Формула изобретения

Способ определения линейных параметров многополюсника, включающий подачу синусоидального сигнала на один из входов исследуемого много- полюсника при подключении к нему последовательно, а к остальным входам - параллельно, резисторов и измерение комплексных напряжений U-- , Ц- на всех входах исследуемого MHoгополюсника, отличающийся тем, что, с целью повьшения точности за счет устранения погрешностей,обус- ловленных паразитными элементами резисторов, дополнительно измеряют на- пряжения Up., на каждом из резисторов в отсутствии исследуемого многополюсника при поочередном подсоединении к каждому из резисторов последовательно источника ЭДС, измеряют напряжения на образцовом резисторе при поочередном подключении его последовательно к каждому из резисторов и.источнику ЭДС, а линейные параметры исследуемого многополюсника onределяют путем нахождения коэффициентов матрицы:

Y D (М)- - (M,)

.

где D - скалярная матрица с диагональным элементом, равным 2

матрицы, диагональные и не- диагональные коэффициенты которых определяются по формулам

м..

II

м.

М

Ои

М

oj-;

где 1 и J - индексы входов исследуеUii

Uoi,

01

. i

.I.;

1.

ij

oi,

oj,диагональный элемент матрицы напряжений U для входа i;

диагональный элемент матрицы напряжений U для входа i;

элемент вектора напряжений U для входа i; элемент вектора напряжений и для входа j; элемент матрицы напряжений и, который соответствует напряжению на входе j при подключении источника ЭДС к входу 1; проводимос.ть образцового резистора для входа i; проводимость образцового резистора для входа ; входная проводимость измерительного прибора;

диагональный элемент матрицы напряжений 1), для входа j;

диагональньй элемент матрицы напряжений 1 для входа j;

недиагональньй элемент матрицы Up, который соответствует напряжению на входе j при подключении источника ЭДС к вхо- ДУ i.

Cfi

(Л

V/ Jr

Составитель Р.Кузнецова Редактор А.Ренин Техред М.ХоданичКорректор И.Муска

Заказ 2418/40Тираж 730Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.Ужгород, ул.Г|)оектная,4

(.Е

JL

Изобретение относится к технике радиоизмерений и обеспечивает повышение точности за счет устранения погрешностей, обусловленных паразитными элементами резисторов. Способ заключается в том, что на один вход исследуемого многополюсника (ИМИ) 5 через последовательно включенный резистор 2 подают синусоидальньш сигнал от источника 1 синусоидального сигнала. К другим входам ИМП 5 подключаются параллельно резисторы 3. На всех входах ИМП 5 измеряют ком- плексные напряжения U11 UjiПри отсутствии ИМП 5 и поочередном подключении последовательно к каждому резистору 3 источника ЭДС измеряют диагональные и недиагональные компоненты Up.- , Upp- матрицы опорных напряжений Up. Затем при поочерёдном подключении образцового резистора последовательно к каждому резистору 3 и источнику ЭДС измеряют напряжение . на нем - компонент вектора калибровочных напряжений Uj. Операции измерений напряжений на ИМП 5, опорных и калибровочных напряжений осуществляются по N раз.Данные измерений используются для определения коэф.матрицы по формулам. Ц5и этом з читывают- ся систематические поправки дпя определения точных значений коэф. матрицы ИМП 5. Резисторы 2,3 и образцовый резистор подключаются через контактное приспособление 6. 2 ил. с $ (Л 00 м СА