Способ измерения малых (ксвн10) коэффициентов отражений на свч Советский патент 1960 года по МПК G01R27/06 

Описание патента на изобретение SU131800A1

Известны способы измерения малых и больших коэффициентов отражения в трактах свч диапазона, основанные на определении положения узла стоячей волны слева от неоднородности при перемещении короткозамкнутого поршня, включенного справа от нее, и определении по полученным данным величины ксвн. Недостаток подобных способов состоит в ИХ трудности, так как в процессе измерения приходится производить большое количество отсчетов.

В описываемом способе указанный недостаток устранен тем, что неоднородность в малом ксвн включают в резонатор бегущей волны, имеющий переменную связь с волноводом, неоднородность с большим ксвн включают в основной волновод, и ксвн неоднородностей определяют по показаниям измерительной линии в основном волноводе и коэффициенту связи волновода с резонатором бегущей волны при резонансе последнегоДля пояснения описываемого способа на фиг. 1 приведена схема устройства для измерения малых коэффициентов отражений (); на фиг. 2 - больших (ксвн 10).

Источник 1 СВЧ энергии подключен к основному волноводу 2, нагруженному на согласованную нагрузку 3. Резонатор бегущей волны, образованный волноводными секциями 4, 5, 6, фазовращателем 7 и направленным ответвителем 8 связан при помощи ответвителя с основным волноводом 2. Регулировкой ответвителя 8 можно изменять связь между основным волноводом 2 и резонатором. При измерении малых коэффициентов отражений, исследуемую неоднородность 9 включают в резонатор бегущей волны взамен волноводиой секции 5 частоты свч колебаний, генерируемых источником /, и фазовый сдвиг, создаваемый фазовращателем 1, подбирают так, чтобы электрическая длина волноводной петли резонатора равнялась целому числу длин волн. Величину связи основного волновода 2 с резонатором подбирают при помощи ответвителя 8 так, чтобы выполнялось условие pi t С, коэффициент отражения измеряемой неоднородности Р, а С - коэффициент связи волновода 2 с резонатором бегущей волны. Измерив ксвн в основном

2 -I С I

волноводе, по показаниям измерительной линии, не показанной на чертеже, находят значение коэффициента отражения измеряемой неоднородности из формулы

рак.

2 1 с I - 2|/М - Ipii) (1 -Ul)

где рвх. макс - ВХОДНОЙ коэф-фициент отражения {в основном волноводе) при резонансе. При измерении больших ксвн измеряемую неоднородность 9 включают в Основной волновод перед согласуюндей нагрузкой- 3, устанавливают величину осиовиого волновода 2 с резонатором так, чтобы получить легко и удобно измеряемую величину ксвн на входе основного волновода | . мни I и определяют коэффициент отраисследуемой неоднородности 9 из формулы

жения PI

1

I i с./-«

/ - основание натуральных логарифмов, а - затухание в резонаторе в неперах.

Предмет из О;брете«:| я

Способ измерения малых (ксвн 1,1) и больших (ксвн 10) коэффициентов отражений на свч, отличающийся тем, что, с целью ум:еньшения трудоемкости измерений, неоднородность с малым ксвн включают в резонатор бегущей волны, имеющий переменную связь с волноводом, неоднородность с большим ксвн включают в основной волновод, и ксвн неоднородностей определяют по показаниям измерительной линии в основном волноводе и коэффициенту Связи волновода с резонатором бегущей волны при резонансе последнего.

PI

Г

Похожие патенты SU131800A1

название год авторы номер документа
Устройство для повышения чувствительности поидеромоторных ваттметров 1957
  • Кукуш В.Д.
SU115482A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ДИСПЕРСИОННОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ГИБРИДНОЙ ЗАМЕДЛЯЮЩЕЙ СТРУКТУРЫ В ПРОЦЕССЕ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПУЧКОВО-ПЛАЗМЕННОГО СВЧ-ПРИБОРА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2000
  • Боровиков П.В.
  • Завьялов М.А.
  • Конкин В.А.
  • Тюрюканов П.М.
RU2171517C1
МИКРОВОЛНОВАЯ ПЕЧЬ И СПОСОБ ОПТИМИЗАЦИИ ЕЕ КОНСТРУКТИВНЫХ ПАРАМЕТРОВ 2003
  • Столяров О.И.
RU2253193C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ ПОТЕРЬ 1970
SU278796A1
СПОСОБ СОГЛАСОВАНИЯ ЗАМЕДЛЯЮЩЕЙ СИСТЕМЫ ЛАМПЫ БЕГУЩЕЙ ВОЛНЫ С ВОЛНОВОДНЫМИ ТРАКТАМИ 2011
  • Андреев Николай Владимирович
  • Белугин Владимир Михайлович
  • Васильев Алексей Евгеньевич
  • Куликова Наталия Владимировна
RU2484578C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ВЫСОКОПРОВОДЯЩИХ МАТЕРИАЛОВ 1992
  • Столяров О.И.
  • Цимбал Ф.А.
RU2094783C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ НИЗКОИМПЕДАНСНЫХ МАТЕРИАЛОВ НА СВЧ 2004
  • Дмитриенко Г.В.
  • Трефилов Н.А.
RU2247400C1
АНТЕННАЯ РЕШЕТКА С ШИРОКОУГОЛЬНЫМ ЧАСТОТНЫМ СКАНИРОВАНИЕМ 2017
  • Винников Владимир Иосифович
  • Ефремов Вячеслав Самсонович
  • Сучков Александр Владимирович
RU2664794C1
ЛАМПА БЕГУЩЕЙ ВОЛНЫ 2012
  • Андреев Николай Владимирович
  • Белугин Владимир Михайлович
  • Васильев Алексей Евгеньевич
  • Куликова Наталия Владимировна
  • Розанов Николай Евгеньевич
RU2516874C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВЛАЖНОСТИ НА СВЧ И ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ ЭЛЕМЕНТ В ВИДЕ ОТКРЫТОГО ВОЛНОВОДНОГО РЕЗОНАТОРА ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ СПОСОБА 1992
  • Кондратьев Е.Ф.
RU2096768C1

Иллюстрации к изобретению SU 131 800 A1

Реферат патента 1960 года Способ измерения малых (ксвн10) коэффициентов отражений на свч

Формула изобретения SU 131 800 A1

SU 131 800 A1

Авторы

Кукуш В.Д.

Михайлик В.Г.

Даты

1960-01-01Публикация

1959-12-23Подача