Устройство для измерения диаметров субмикронных волокон Советский патент 1987 года по МПК G01B11/10 

Описание патента на изобретение SU1322087A1

.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности для измерения диаметров субмикронных волокон в процессе производства.

Цель из.обретения - повышение точности измерения за счет увеличения крутизны завис№1ости между выходным сигналом и диаметром волокна.

На фиг.1 изображена принципиальна схема устройства для измерения диаметров субмикронньк волокон 9 на фиг, 2 - вид А на фиг. 1,

Устройство содержит источник 1 коллимированного излучения и располо женные по коду излучения сканирующее зеркало 2, линзу 3 и фотоприемник, состоящий из двух фотоэлементов 4 и 5 с прямоугольной щелью, в центре каждого, установленных так, что их сне- точувствительные слои обращены навстречу и .--параллельно друг другу.

Вращение сканирующего зеркала 2 производится двигателем 6. Направляющие 7 служат для перемещения, контролируемого волокна 8., которое находится между фотоэлементами 4 и 5.

Предлагаемое устройство работает следующим образом.

Источник 1 коллимщэоваиного излучения направляет луч на скан:ирующее зеркало 2, находящееся в фок-усе лин

15

5

0

20

зы 3, которая фокусирует его далее в области применения в пятно с диаметром, заведомо большим диаметра волокна 8, при этом луч света сканирует в плоскости щелей фотоэлементов 4 и 5. Рассеянный волокном 8 свет попадает на фотоэлементы 4 и 5, они преобразуют его в импульс фототока, который несет информацию о диаметре волокна 8, При этом распределенные по плоскости фотоэлементы 4 и 5 захватывают поток рассеянного волокном 8 света, распространяющийся как вперед, так и назад. Крутизна зависимости между выходным сигналом с фотоприемника и диаметром волокна возрастает, что по- вьшает точность измерения.

Ф

о рмула изобретения

Устройство для измерения диаметров субмикронных волокон, содержащее источник коллимированного излучения и расположенные по ходу излучения сканирующее зеркало, линзу и фотоприемник, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, фотоприемник выполнен в виде двух фотоэлементов с прямругольной щелью в центре каждого, установленных так, что их светочувствительные слои обращены друг к другу и параллельны.

Вид А

V

8

Похожие патенты SU1322087A1

название год авторы номер документа
Устройство для непрерывного измерения толщины протяженных объектов 1981
  • Овод Владимир Иванович
SU1017919A1
БЛОК ДАТЧИКА ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА И СПОСОБ ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ ЭТОГО КОНТРОЛЯ 1998
  • Воллманн Христиан
  • Венерт Лутц
  • Ихлефельд Иоахим
  • Гриесер Ральф
RU2186372C2
Способ контроля диаметра оптических волокон 1990
  • Галушко Евгений Владимирович
  • Ильин Виктор Николаевич
SU1716316A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОПЕРЕЧНОГО РАЗМЕРА ДЕТАЛИ 1990
  • Евсеенко Н.И.
  • Райхерт А.А.
  • Зубиков П.В.
RU2047091C1
СИСТЕМА ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ КВАЗИУПРУГОГО РАССЕЯНИЯ СВЕТА И/ИЛИ СКАНИРОВАНИЯ ФЛУОРЕСЦЕНТНОГО ЛИГАНДА В ГЛАЗУ СУБЪЕКТА 2009
  • Хэртанг Пол
  • Вэлво Винсент
  • Нилан Денис Дж.
RU2503399C2
УСТРОЙСТВА, СИСТЕМЫ И СПОСОБЫ ТРЕХМЕРНОЙ ПЕЧАТИ 2014
  • Зедикер, Марк, С.
RU2641945C2
Способ измерения линейной скорости объекта и оптико-волоконный измеритель линейной скорости 1982
  • Яровой Л.К.
  • Богомолов Н.Ф.
  • Свирид В.А.
  • Хотяинцев С.Н.
SU1075814A1
ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИЙ АВТОГЕНЕРАТОР 1998
  • Бурков В.Д.
  • Гориш А.В.
  • Егоров Ф.А.
  • Коптев Ю.Н.
  • Кузнецова В.И.
  • Малков Я.В.
  • Потапов В.Т.
RU2169904C2
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ СЛАБОПОГЛОЩАЮЩИХ ВОЛОКНОСОДЕРЖАЩИХ МАТЕРИАЛОВ 1991
  • Шляхтенко П.Г.
  • Суриков О.М.
  • Зиновьев А.В.
  • Гылыкова Р.П.
RU2024011C1
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ КОНФОКАЛЬНЫЙ СПЕКТРОАНАЛИЗАТОР ИЗОБРАЖЕНИЙ 2019
  • Шульгин Владимир Алексеевич
  • Пахомов Геннадий Владимирович
  • Овчинников Олег Владимирович
  • Смирнов Михаил Сергеевич
RU2723890C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 322 087 A1

Реферат патента 1987 года Устройство для измерения диаметров субмикронных волокон

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, 6 частности для измерения диаметров субмикронных волокон в процессе производства. Цель изобретенияПовышение точности измерения за счет увеличения крутизны зависимости между выходным сигналом и диаметром волокна. Источник 1 Коллимированного излучения направляет луч на сканирующее зеркало 2, находящееся в фокусе линзы 3,которая фокусирует его далее в области измерения в пятно с диаметром, заведомо большие диаметра волокна 8, при этом луч сканирует в плоскости прямоугольных щелей фотоэлементов 4 и 5, установленных так, что их светочувствительные слои обращены навстречу и паралле гьно друг другу. Рассеянный волокном 8 свет попадает на фотоэлементы 4 и 5, они преобразуют его в импульс фототока, который несет ин- формацмо о диаметре волокна 8. 2 ил. fftf/. (Л Фиг./ в

Формула изобретения SU 1 322 087 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1987 года SU1322087A1

Патент США № 4074938, кл
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Устройство для непрерывного измерения толщины протяженных объектов 1981
  • Овод Владимир Иванович
SU1017919A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 322 087 A1

Авторы

Волгин Александр Николаевич

Таточенко Лев Кириллович

Даты

1987-07-07Публикация

1986-01-23Подача