Прибор конденсаторного типа для контроля чистоты поверхности Советский патент 1960 года по МПК G01B7/34 H01G13/00 

Известны приборы емкостного типа для контроля чистоты поверхности, использующие контролируемую поверхность в качестве одной обкладки конденсатора, в то время как другая обкладка располагается под Поверхностью на пластине диэлектрика.

Отличительная особенность описываемого прибора состоит в том, что конденсатор выполнен из двух изолированных между собой и включенных в электрическую схему прибора металлических пластин, расположенных в одной плоскости параллельно контролируемой поверхности детали и индуктивно взаимодействующих между собой через эту деталь. Прибор такой конструкции обеспечивает контроль чистоты металлической поверхности без электрического включения испытываемой детали в цепь конденсатора.

Под контролируемым изделием может помещаться металлический лист для создания индуктивного взаимодействия между пластинами конденсатора при контроле чистоты поверхности изделий из диэлектрических материалов, например плоскопараллельных оптических стекол и т. п.

На фиг. I изображена схема описываемого устройства; на фиг. 2 - расположение пластин.

Конденсатор (щуп) прибора состоит из двух пластин / и 2, расположенных в одной ПЛОСКОСТИ. При приближении пластин такого конденсатора к металлической поверхности 3 получаются как бы два последовательно соединенных конденсатора. Емкость первого из них определяется емкостью .пластины 1 по отношению к исследуемой поверхности, а емкость второго - аналогичной емкостью пластины 2. Таким образом, исследуемая поверхность играет роль вторых пластин одновременно для обоих конденсаторов.

При исследовании плоскости из диэлектрических материалов, например, плоскопараллельных стекол, под исследуемую поверхность подкладывается металлический лист, выполняющий роль вторых ллас№ 134435- 2 тин для конденсаторов. Чувствительность такого прибора увеличивается за счет того, что контролируемая величина а учитывается дважды (обоими конденсаторами).

При контроле криволинейных новерхностей аналогичную кривизну придают конденсаторным лластинам.

Обычно прибор для контроля металлических новерхностей и пластины / и 2 устанавливают на диэлектрике 4, ino краям крторхого смонтированы стальные шарики 5, опирающиеся на исследуемую поверхность 3.

Контроль емкости щупа осуществляется по интерференционному методу электронным прибором. Триод Л является генератором колебаний высокой частоты. В сеточную цепь триода вклю.чен резонансный: контур, состоящий из постоянной индуктивности LI и Переменной емкости щула C.V. В анодную цепь включена катущка 2 обратной связи, напряжение с которой через конденсатор Сз подается на управляющую сетку пентагрида Л. Первая и вто-рая сетки .последнего использовань для второго генератора. В цепь нервой сетки включен контур, составленный из постоянной индуктивности LS и Переменного конденсатора Cs, посредством которого второй генератор настраивается в резонанс с первым. В цепь второй сетки включена катущка L обратной связи, напряжение на которую подается через гасяще-развязывающую ячейку RI-CT.

При настройке первого генератора, вызванной изменением емкости Сд-, в анодной цепи пентагрида появляются биения, которые через трансформатор Тр низкой частоты подаются на сетку лампы Л, выполняющей роль усилителя. В анодную цепь лампы Л включается индикатор Т (телефонная трубка), тон которого лропорционален отклонениям исследуемой поверхности от стандарта. Количественную и качественную оценку отклонений производят по настроенному конденсатору Cs.

Предмет изобре тения

1.Прибор конденсаторного типа для контроля чистоты поверхности, отличающийся тем, что, с целью осуществления контроля чистоты металлической поверхности без электрического включения испытываемой детали в цепь конденсатора, последний выполнен из двух изолированных между собой и включенных в электрическую схему прибора металлических лластин, помещенных в одной плоскости параллельно контролируемой поверхности и индуктивно взаимодействующих между собой через контролируемую деталь.

2.Прибор для контроля чистоты поверхности по п. 1, отличающ-ийся тем, что, с целью контроля чистоты поверхности изделий из диэлектрических материалов, например п-лоскопараллельных оптических стекол и лодобных, для создания индуктивного взаимодействия

между пластинами применен металлический лист, помещаемый под контролируемую деталь.