Устройство для измерения напряженности магнитного поля Советский патент 1987 года по МПК G01R33/00 

Описание патента на изобретение SU1348760A1

Устройство относится к средствам магнитных измерений и предназначено для измерения напряженности постоянных и импульсных магнитных полей.

Целью изобретения является упрощение конструкции с одновременным снижением габаритов, что дает возможность производить магнитные измерения в труднодоступных местах малого объема.

На чертеже показана схема устройства.

Устройство включает поляризатор 1, магниточувствительный элемент, содержащий набор магнитооптических плецок 2, анализатор 3 и щкалу, нанесенную на поляризатор и проградуи- рованную в единицах напряженности магнитного поля, причем используются магнитные одноосные пленки, доменная структура которых может наблюдаться с помощью магнитооптического эффекта (например, пленка феррит- гранатов} .

Каждая пленка характеризуется величиной поля однородного зарождения, значение которого определяется формулой

где Q KH - А D К

2ПМ|

А (-2ПМГ

константа одноосной анизотропии магнитной пленки; намагниченность насыщения магнитной пленки; константа обмена магнитной пленки; толщина пленки.

Устройство работает следующим образом.

Для измерения магнитного поля в объем исследуемого поля вносится магниточувствительный элемент, состоящий из набора магнитооптических пленок. Каждая пленка, входящая в элемент, обладает определенной величиной поля однородного зарождения. Измерение поля происходит по изменению характера доменной структуры (ДС). В исходном состоянии пленки обладают лабиринтной ДС, после воздействия исследуемого поля на элемент, его ДС переходит в ДС, соответствующую однородному зарождению.

которая качественно отличается от лабиринтной ДС.

Переход ДС от лабиринтной к ДС, соответствующей однородному зарождению, происходит при строго определенных значениях внешнего магнит - ного поля, приложенного в плоскости элемента. После прекращения дейст10 ВИЯ поля на элемент, ДС соответствующая однородному зарождению, остается в пленке и может переходить в ДРУг:/ю только при воздействии поля, приложенного перпендикулярно плос15 кости образца, равному полю насыщения. Наблюдение ДС осуществляется с помощью магнитооптического эффекта. При изменении конфигурации ДС от лабиринтной в ДС, соответствующей

20 однородному зарождению, измеряют

величину напряженности внешнего магнитного полд, так как моменту однородного зарождения соответствует определенное значение напряженности

25 поля.

Таким образом, под действием внешнего магнитного поля лабиринтная ДС пленки, обладающей определенным по величине полем однородного зарожде30 ния, переходит в доменную структуру ), поля однородного зарождения, качест- (1) венно отличающуюся от лабиринтной ДС. Зная величину поля однородного зарождения, присущую каждой магнит2t ной пленке, входящей в магниточувствительный элемент, можно определить цену деления шкалы, нанесенной на поляризатор в единицах напряженности магнитного поля.

40 Предлагаемое устройство может быть использовано для допускового . контроля изготовляемых магнитных систем, у которых доступ к точкам

измерения обычными методами затруд- . нен, при этом полученная информация о напряженности поля может сохраняться элементом на неограниченное время.

50

55

Формула изобретения

Устройство для измерения напряженности магнитного поля, содержащее магниточувствитёльньй элемент, в виде магнитооптической пленки, ана - лизатор, поляризатор, отличающееся тем, что, с целью снижения габаритов с одновременным - упрощением конструкции, в устройст

Формула изобретения

Устройство для измерения напряженности магнитного поля, содержащее магниточувствитёльньй элемент, в виде магнитооптической пленки, ана - изатор, поляризатор, отличающееся тем, что, с целью снижения габаритов с одновременным - упрощением конструкции, в устройст31348760

во введена шкала, нанесенная на по- чиной поля однородного зарождения, ляризатор, а в качестве магнитоопти- при этом магнитооптический элемент ческого элемента используется набор расположен между анализатором и по- магнитных пленок и различной вели- ляризатором.

Похожие патенты SU1348760A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения радиуса кривизны магнитного поля 1982
  • Дубинко Сергей Владимирович
  • Иванов Виктор Александрович
  • Пухов Игорь Константинович
SU1078369A1
Способ Рандошкина В.В. измерения скорости доменных стенок в магнитоодноосной доменосодержащей пленке 1987
  • Рандошкин Владимир Васильевич
SU1788523A1
Способ измерения магнитного поля 1987
  • Рандошкин Владимир Васильевич
SU1499293A1
Способ формирования спиральной доменной структуры в магнетике и магнитооптический дефлектор-концентратор 1989
  • Логунов Михаил Владимирович
  • Рандошкин Владимир Васильевич
SU1675950A1
Устройство для измерения напряженности магнитного поля 1983
  • Мокроусов Владимир Андреевич
  • Суйков Виктор Васильевич
  • Тихонов Адольф Александрович
SU1128206A1
МАГНИТООПТИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЯ 1993
  • Рандошкин В.В.
  • Логунов М.В.
RU2047170C1
Способ определения коэрцитивной силы монокристаллических пленок феррит-гранатов 1988
  • Барьяхтар Федор Григорьевич
  • Гришин Александр Михайлович
  • Кузин Юрий Алексеевич
  • Мелихов Юрий Викторович
  • Редченко Александр Михайлович
SU1539839A1
Волоконно-оптический датчик магнитного поля и электрического тока 2020
  • Карлов Кирилл Рудольфович
  • Ракитин Сергей Александрович
  • Иванов Анатолий Николаевич
  • Вильнер Валерий Григорьевич
  • Голубев Николай Викторович
  • Даугель-Дауге Александр Георгиевич
  • Землянов Михаил Михайлович
  • Мамин Алексей Владимирович
RU2748305C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ СТИРАНИЯ ЗАПИСИ С МАГНИТНЫХ НОСИТЕЛЕЙ 2010
  • Лобанов Борис Семенович
  • Кузьминых Александр Сергеевич
  • Митягин Александр Юрьевич
  • Хлопов Борис Васильевич
RU2428749C1
Устройство для измерения углов поворота объектов 1984
  • Иванов Виктор Алексеевич
  • Дубинко Сергей Владимирович
SU1249318A1

Реферат патента 1987 года Устройство для измерения напряженности магнитного поля

Изобретение относится к магнитным измерениям. В устройство для измерения напряженности магнитного по-г ля в качестве магнитооптического элемента берут набор магнитных пленок 2 с различной величиной поля однородного зарождения и располагают его между анализатором 3 и поляризатором 1, на котором имеется шкала, что упрощает конструкцию устройства и снижает его габариты. 1 ил. ч ч ч ч ч 00 СХ) О5 I 1x1 I I I

Формула изобретения SU 1 348 760 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1987 года SU1348760A1

Чеперииков В.И
Магнитные изме зеиия
МГУ, 1969
Способ измерения магнитных полей 1979
  • Залысин Сергей Петрович
  • Червоненкис Андрей Яковлевич
  • Балбашов Анатолий Михайлович
  • Рыбак Владимир Иванович
SU842652A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 348 760 A1

Авторы

Дубинко Сергей Владимирович

Крамарь Александр Дмитриевич

Грошенко Николай Александрович

Пухов Игорь Константинович

Даты

1987-10-30Публикация

1984-09-04Подача