Прибор для измерения коэффициентов отражения плоских зеркально-отражающих поверхностей при падении на них света по нормали Советский патент 1961 года по МПК G01N21/55 

ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖЕНИЯ nJiOCKMX ЗЕРКАЛЬНО-ОТРАЖАЮЩИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ПРИ ПАДЕНИИ НА НИХ СВЕТА ПО НОРМАЛИ

Описываемый прибор может быть пспользовлп для измерения коэффициентов отражеиия плоскопараллельных плоекоете в видимой илн блпжайше пнфракраеной области спектра при иормалыюм падении света на испытуемы образе и отл гчается от известпых, имеющ1 Х осветительное устройство. фотоэломе гг светодел 1тел1, пласт 1нку, тем, что светоделительная пластинка в нем выполнена поворотной. Это искл Очает коэффипиент отражения и и)зволяет -скор ть процесс измерения.

На чертеже изображена схема прибора.

Свет от 11сточ ип а / форм)уетеи is к 1араллел з 1ом пучок требуемого спектрального состава в осветительной системе, состояи1ей из зеркала 2 и объективов 3 4; зате поток света нтенсивностью /о надает на поворотную светоделительпую пласт нку 5, имеющую полупрозрачное покрытие, соответствующее требуемой области спектра. При /-/ е 5етодел 1тель:1011 г лаетиики 5 отражен {ая от ее часть потока интенсивностью /о г (где г -- коэффициент отраЛСеп я светоделительной пластинки) попадает непосредственно на фотоэлемент j. вызывая сигнал ,.r. Проходящая часть потока при этом не используется. При положен //-// светодел тел ой пласт нки 5 проходящая через нее часть потока падает по на испытуемый образец 7, отражается от него и возвращается на пласт нку 5. которая напра ляет часть этого потока на фотоэлемент 6. вызывая с 1гнал /-- lQ-%,R-r (где т - коэффициент роп}ска ия светоде,- 1тельно г ::лстинки, искомый коэффициент отражения образца).