Способ настройки электростатической отклоняющей системы в отпаянном электронно-лучевом приборе Советский патент 1989 года по МПК H01J9/44 

Изобретение относится к электронной технике, в частности к системам регистрации быстропротекающих процессов с использованием электронно-лучевых приборов (ЭЛП), например при помощи времяанализирующих электронно- оптических преобразователей (ЭОП).

Целью изобретения является повышение точности настройки за счет обеспечения возмол ности выравнивания чувствительности двух пар пластин и сохранения ее в СВЧ-диапазоне управляющих сигналов.

На чертеже показана схема ЭОП.

Схема содержит источник света 1, тест-объект 2, входную оптическую систему 3, ЭОП А, включающий фотокатод 5, фокусирующий электрод 6, анод 7, затворные отклоняющие плас- ,тины 8, затворную диафрагму 9, компенсирующие отклоняющие пластины регулируемой чувствительности 10 с механизмом регулирования 11 и люми35

несцентный экран 12. Позицией 13 обоз- 25 отклоняющей системы в отпаянном элек

тронно-лучевом приборе, содержащем Две пары отклоняющих систем, одна из которых соединена с механизмом регулирования чувствительности, включаю- 30 щий подачу, на пары отклоняющих пластин противофазных напряжений, контроль размеров характерного элемента изображения на люминесцентном экране и регулирование чувствительности одной из пар отклоняющих пластин до получения наибольшей степени фокусировки элемента изображения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности настройки за счет 4Q обеспечения возможности выравнивания чувствительности пар гшастин и сохранения ее в СВЧ-диапазоне управляю- щих сигналов, на отклоняющие пластины подают периодические напряжения оди- f- наковой амплитуды не менее величины

N

at

начен электронный луч, позицией 14- микроскоп.

Иэ1)бражение тест-объекта 2, в качестве которого может быть использована узкая щель 50-100 мкм или стандартная оптическая мира, подсвечивается источником света 1 и проектируется на фотокатод 5 при помощи входной оптической систе:мы 3. Сформированное под действ йем света электронное изображение фокусируется на экране 12 при помош:и электродов 6,7. На отклоняющие пластины 8, 10, включенные крест-накрест, подают периодические сигналы UgifCujt). Изображение ,тест-объекта, наблюдаемое на экране 12 при помопщ микроскопа 14, .будет размыто из-за колебаний с частотой ю и амплитудой А UplE,; И i где ,., ,; - чувствительности пар пластин. Одновременно при помощи механизма регулирования t1 изменяют расстояние между отклоняющими пластинами 10 до тех пор, пока , не становится равной Ej , т.е. , На экране будет наблюдаться четкое изображение. Поскольку электронно-оптическая система имеет предел пространственного разрешения N , то колебания с будут неразличимы, поэтому максимальная амплитуда напряже ния } должна обеспечить перемещение изображения на экране по крайней

50

5Е

где N - минимальный размер разрешимого элемента и-зображения на экране, мм;

d - разность исходных чувстви- тельностей пар отклоняющих пластик, мм/Б,

и с частотой не менее величины, при которой на люминесцентном экране наблюдается немеп.ькающее изображение характерного элемента.

мере на один разрешимый элемент, т.е. должно выполняться N

Для того, чтобы на экране злект- ро.нно-лучевого прибора в момент настройки не наблюдалось мельканий изображения, желательно частоту колебаний, электрического сигнала делать большей 40 - 50 Гц. При зтом можно использовать переменное напряжение, изменяющееся по гармоническому закону.

Способ обеспечивает настройку также при частотах до 1ГГц и более.

Способ бьш опробован при настройке импульсного ЗОП, для которого , г 0,05 мм/В, Ej 0,055 мм/В, N 0,1 мм и . Частота колебаний составляла 50 Гц. Настроенный

таким способом ЭОП обеспечил частоту кадрирования до 8ГГц.

Формула изобрет,ения Способ настройки электростатической

50

5Е

где N - минимальный размер разрешимого элемента и-зображения на экране, мм;

d - разность исходных чувстви- тельностей пар отклоняющих пластик, мм/Б,

и с частотой не менее величины, при которой на люминесцентном экране наблюдается немеп.ькающее изображение характерного элемента.

Изобретение относится к способу йастройки электростатической отклоняющей системы в отпаянном электроннолучевом приборе. Устройство содержит источник 1 света, тест-объект 2, входную оптическую систему 3, электронно-оптический преобразователь 4, включающий фотокатод 5, фокусирующий электрод 6, анод 7, затворные откло- няющие шта.стины (ОП) 8, затворную диафрагму 9j компенсирующие ОП 10 регулируемой чувствительности с ме- ханизмом 11 регулирования и люминесцентный экран 12, микроскоп 14. На затворную и компенсирующие ОП 8, 10, включенные крест-накрест, подают периодические сигналы, одновременно при помощи механизма 11 регулирования изменяют расстояние между компенсирующими ОП 10 до тех пор,п6ка чувствительности обоих пар ОП станут равными. На экране будет наблюдаться л четкое изображение. Изобретение повышает точность настройки за счет обеспечения возможности выравнивания чувствительности двух пар ОП и сохранения ее в сверхвысоко астотном диапазоне управляющих сигналов. 1 ил.. (Л .т / /У7 -Uoj((Ji) 33 I J .11 Ю ГЗ 12 / I / /V Од ел О1 о 00 00 : rfUoJ-()