Установка для исследования радиационного окрашивания материалов и покрытий Советский патент 1988 года по МПК G01N21/55 

Описание патента на изобретение SU1364961A1

СлЭ О5 4 СО Од

Изобретение, относится к приборостроению и предназначено для исследований радиационного окрашивания материалов и покрытий.

Целью изобретения является повышение точности измерений коэффициента отражения исследуемых материалов, сокращение длительности и трудоемкости проведения измерений и обработки результатов.

На фиг. 1 представлена схема установки; на фиг. 2 - структурная схема блока управпения и обработки сигналов

трических сигналов, регистрирующее устройство 14.

Световой луч от источника 12 проходит через монохроматор 11 и вводится в вакуумную камеру 1. С помощью сканирующего зеркала монохроматический луч последовательно направляется на внутреннюю поверхность интегрирующей сферы или измеряемый образец.

Блок управления и обработки электрических сигналов работает следующим образом.

Электрический сигнал, полученный

Похожие патенты SU1364961A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОЙ ФОКУСИРОВКИ ИЗЛУЧЕНИЯ 1991
  • Решетов В.П.
RU2035772C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ ДЕТАЛЕЙ 1999
  • Леун Е.В.
  • Беловолов М.И.
  • Загребельный В.Е.
  • Жирков А.О.
  • Рыбалко А.П.
RU2158416C1
СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ СПЕКТРА ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 1996
  • Спирин Е.А.
  • Захаров И.С.
RU2119649C1
Устройство для измерения коэффициентов отражения металлов и сплавов в жидком состоянии 1986
  • Тешев Руслан Шахбанович
  • Шебзухов Азамат Аюбович
  • Карданов Резуан Магомедович
SU1383167A1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПОЛОЖЕНИЯ ГРАНИЦЫ ДЕТАЛИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 1999
  • Леун Е.В.
  • Абдикаримов Н.Н.
  • Телешевский В.И.
  • Серебряков В.П.
  • Жирков А.О.
  • Загребельный В.Е.
RU2157963C1
ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКОЕ ОБЗОРНО-ПОИСКОВОЕ УСТРОЙСТВО 1972
SU335655A1
Двухлучевой логарифмирующий фотометр 1990
  • Квартальнов Лев Алексеевич
  • Зверев Борис Анатольевич
SU1717969A1
СПЕКТРОФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ ДЕТЕКТОР ДЛЯ КАПИЛЛЯРНОГО ЭЛЕКТРОФОРЕЗА И КАПИЛЛЯРНОЙ ЖИДКОСТНОЙ ХРОМАТОГРАФИИ 2000
  • Беленький Б.Г.
  • Белов Ю.В.
  • Комяк Н.И.
  • Курочкин В.Е.
  • Савушкин А.В.
  • Суханов В.Л.
  • Шишацкая Л.П.
  • Хор С.Т.
RU2189038C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ВЕЩЕСТВА В РАСТВОРЕ 2002
  • Мухамедяров Р.Д.
  • Харисов Р.И.
RU2243539C2
Устройство для испытания материалов на ударное сжатие 1980
  • Ковальский Вадим Николаевич
SU922581A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 364 961 A1

Реферат патента 1988 года Установка для исследования радиационного окрашивания материалов и покрытий

Изобретение относится к области пpибopocVpoeния и предназначено для исследования радиационного окрашивания. Целью изобретения является повышение точности измерений козффици- ента отражения исследуемых материалов, а также сокращение длительности и трудоемкости проведения измерений и обработки результатов. Это достигается за счет введения в состав установки автоматического однолучевого записывающего спектрофотометра с временной модуляцией луча. Бл .годаря тому, что оптический луч от источника излучения до входа в интегрирующую сферу проходит по одному и тому же оптическому пути и усиление электрических сигналов происходит в одном и том же электрическом тракте, а луч с помощью зеркала последовательно посылается на поверхность интегрирующей сферы и исследуемого образца, изменение пропускания оптического тракта и усиления в электрическом тракте будут одинаково сказываться на показаниях фотоприемного устройства, снятых в момент нахождения луча на измеряемом образце или на поверхности интегрирующей сферы, и компенсироваться при определении величй - ны коэффициента отражения. 2 ил. (Л

Формула изобретения SU 1 364 961 A1

Установка содержит вакуумною каме- 15 нз фотоприемном устройстве 8, прохору 1 с оптически прозрачными окнами 2 и откачную систему 3, обеспечивающую требуемое разрежение над поверхностью испытуемых образцов 4, источники 5 ионизирующего излучения, закрепленные на фланцах корпуса, обеспечивающие требуемое программой радиационное воздействие, подвижный термостатируемый столик 6 с испытуемыми образцами, интегрирующую сферу 7 с закрепленным на ней фотоприемным устройством 8, сканирующее зеркало 9, датчик 10 положения светового луча, монохроматор 11, источник 12, монохроматический блок 13 излучения управления и обработки электрических сигналов и регистрирующее устройство 14. Указанные блоки в. совокупности представляют собой однолучевой автоматический самопишущий спектрофотометр с временной модуляцией луча, обеспечивающий измерение полусферического спектрального коэффициента отражения исследуемого образца.

Установка работает следующим образом.

Производится установка исследуемых образцов 4 на термостатируемый столик 6, затем откачка вакуумного объема с помощью откачной системы 3. В соответствии с программой включаются источники 5 ионизирующего излучения и производится набор необходимой дозы. Исследуемые образцы, закрепленные на термостатируемом столике, подводятся к измерительному окну интегрирующей сферы 7.

Включается источник монохрома20

30

дит через управляемый делитель 15 напряжения и усиливается в линейном усилителе 16. Усиленный сигнал поступает в коммутатор 17, который направляет сигналы либо в канал сравнения, либо в измерительный канал. Управление коммутатором осуществляется сигналами с датчика 10 положения светового луча, совмещенного со сканирую25 щим зеркалом. Датчик расположен таким образом, что включение коммутатора осуществляется после окончания переходного процесса, вызванного конечными размерами входной щели сферы. Импульсы, выделяющиеся на первом выходе коммутатора, заряжают запоминающий конденсатор, установленный на первом входе схемы 18 сравнения до напряжения, действующего в момент нахождения светового луча на поверхности интегрирующей сферы. По окончании действия импульса, сформированного датчиком положения светового луча, ключевой каскад коммутатора закрывается, на запоминающем конденсаторе продолжает сохраняться постоянное напряжение. Схема сравнения сравнивает это напряжение с опорным, поступающим из источника 19 опорного на4g пряжения. Разность этих напряжений поступает на вход интеграторов 20 и 21. При наличии разностного сигнала интеграторы вырабатывают напряжение, которое управляет коэффициентом переgQ дачи управляемого делителя и напря35

40

жением, поступаюощм из блока 22 питания на фотоприемник. Коэффициент передачи и напряжение питания фотоприемника изменяются таким образом, тического излучения 12, привод скани- 55 разностный сигнал на выходе уст- рующего зеркала 9, датчик 10 положа- ройства сравнения становится равным ния светового луча, питание фотопри- нулю, что будет только при равенстве емного устройства 8, блок автомати- уровней сигнала и опорного напряже- ческого управления и обработки элек- ния. В результате процесса регулиро0

0

дит через управляемый делитель 15 напряжения и усиливается в линейном усилителе 16. Усиленный сигнал поступает в коммутатор 17, который направляет сигналы либо в канал сравнения, либо в измерительный канал. Управление коммутатором осуществляется сигналами с датчика 10 положения светового луча, совмещенного со сканирую5 щим зеркалом. Датчик расположен таким образом, что включение коммутатора осуществляется после окончания переходного процесса, вызванного конечными размерами входной щели сферы. Импульсы, выделяющиеся на первом выходе коммутатора, заряжают запоминающий конденсатор, установленный на первом входе схемы 18 сравнения до напряжения, действующего в момент нахождения светового луча на поверхности интегрирующей сферы. По окончании действия импульса, сформированного датчиком положения светового луча, ключевой каскад коммутатора закрывается, на запоминающем конденсаторе продолжает сохраняться постоянное напряжение. Схема сравнения сравнивает это напряжение с опорным, поступающим из источника 19 опорного наg пряжения. Разность этих напряжений поступает на вход интеграторов 20 и 21. При наличии разностного сигнала интеграторы вырабатывают напряжение, которое управляет коэффициентом переQ дачи управляемого делителя и напря5

0

жением, поступаюощм из блока 22 питания на фотоприемник. Коэффициент передачи и напряжение питания фотоприемника изменяются таким образом, 5 разностный сигнал на выходе уст- ройства сравнения становится равным нулю, что будет только при равенстве уровней сигнала и опорного напряже- ния. В результате процесса регулирования интегратор переходит в режим хранения и его выходное напряжение остается постоянным до следующего изменения входного сигнала.

Таким образом, величина сигнала, снимаемого с фотоприемника в момент нахождения луча на поверхности сферы поддерживается на постоянном уровне и соответствует 100% отражению.

Электрические импульсы, снимаемые с фотоприемника в момент нахождения луча на поверхности образца, с второго выхода коммутатора поступают на первьЕй вход регистрирующего устройст- ва 14. На второй вход которого поступает напряжение с датчика устройства сканирования монохроматора по длинам волн. В результате регистрируется зависимость коэффициента отра- женин исследуемого материала от длины волны.

Формула изобретения

Установка для исследования радиационного окрашивания материалов и покрытий, состоящая из вакуумной камеры с оптически прозрачными окнами, откачной системы, источников ионизирующего излучения, терМостатируемого столика для закрепления исследуемых образцов, интегрирующей сферы с закрепленным на ней фотоприемным устройством, источника монохроматического излучения с датчиком сканирования по длинам волн, блока обработки и регистрации электрических сигналов.

(-dh

п

5 0

5

0

5

с целью повышения точности и снижения трудоемкости измерений, внутри вакуумной камеры установлены сканирующее зеркало с автоматическим приводом и датчик положения светового луча, при этом блок обработки и регистрации электрических сигналов включает в себя управляемый делитель, линейный усилитель, коммутатор, схему сравнения, источник опорного напряжения, два интегратора, управляемый источник питания и регистрирующее устройство, причем выход фотоприемного устройства подключен к первому входу управляемого делителя, подключенного к входу линейного усилителя, выход усилителя подключен к коммутй- тору, управляющий вход которого подключен к датчику положения светового луча, первый выход коммутатора подключен к первому входу схемы сравнения, второй вход которой подключен к источнику опорного напряжения, выход схемы сравнения подключен к входам первого и второго интеграторов, выход первого интегратора подключен к второму входу управляемого делителя, выход второго интегратора подключен к управляющему входу управляемого источника питания, второй выход коммутатора подключен к первому входу регистриующего устройства, второй вход которого подключен к датчику устройства сканирования источника монохроматического излучения по дли - нам волн. 5

5

17

22

qpuz.2

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1364961A1

Михайлов М.М
и др
Космическая технология и машиностроение
- М.: Наука, 1982, с.100
Патент США № 3847024, кл
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 364 961 A1

Авторы

Евкин Игорь Васильевич

Кузнецов Александр Борисович

Тендитный Владимир Андреевич

Даты

1988-01-07Публикация

1985-06-11Подача