Способ настройки фазированной антенной решетки со строчно-столбцевым управлением Советский патент 1988 года по МПК G01R29/10 

со

Ф

Изобретение относится к технике i антенных измерений и может быть использовано для настройки фазированных антенных решеток (ФАР)ло полю, измеренному в ближней зоне в заводских или стационарных условиях.

Цель изобретения - повышение точности аппроксимации.

На чертеже представлена структурная электрическая блок-схема устройства для осуществления способа настройки ФАР со строчно-столбцевым управлением.

Устройство для настройки ФАР со строчно-столбцевым управлением содержит генератор СВЧ 1, амплифазо- метр 2, аналого-цифровые преобразователи 3, координатно-иэмерительное

15 Сначала в регистр блока 6 ввода корректирующих кодов записывают все коды o(o(in)0, ,2,...,M, и Ло() 0, ,2,3,...,N, измеряют амплитуд ное распределение поля A(|(m,n) и фаустройство 4,. исследуемую ФАР 5, блок 2о зовое распределение поля Vj(m,n) на

6ввода корректирующих кодов, ЭВМ

7и измерительный зонд 8.

Устройство для настройки ФАР со строчно-столбцевым управлением работает следующим образом.

25

плоскости в М N узлах прямоугольной сетки в ближней зоне перед раскрывом ФАР 5. Затем вычисляют первое при- ближение ol(mj и /ь( п) по форму лам:

06192

СВЧ-сигнал,. вырабатываемый генератором 1, подается на ФАР, подлежащую настройке, и на опорный канал

5 амплифазометра 2. С помощью ЭВМ 7 через блок 6 ввода корректирующих кодов в ФАР 5 заносятся все коды, равные нулю. Затем с помощью коор- динатно-измерительного устройства

10 А происходит перемещение измерительного зонда 8, расположенного на расстоянии Л/10 от излучающих модулей ФАР 5.

Сначала в регистр блока 6 ввода корректирующих кодов записывают все коды o(o(in)0, ,2,...,M, и Ло() 0, ,2,3,...,N, измеряют амплитудное распределение поля A(|(m,n) и фазовое распределение поля Vj(m,n) на

плоскости в М N узлах прямоугольной сетки в ближней зоне перед раскрывом ФАР 5. Затем вычисляют первое при- ближение ol(mj и /ь( п) по форму лам:

Изобретение относится к технике антенных измерений. Для повышения точности аппроксимации измерение амплитудного распределения поля Aj(m,n) и фазового распределения (. (in,n), ,...,M; ,...,N5 производят j раз, где ,...,J. После каждого цикла измерений строчную з,(т) и столбцевую /ч/п) аппроксимации фазового распределения поля уточняют в соответствии с соотношениями, приведенными в ф-ле изобретения. Устр-во, реализующее сп-б, содержит генератор СЕЧ 1, амплифазометр 2, АЦП 3, координатно-измерительное устр-во 4, исследуемую антенну 5, блок 6 ввода корректирующих кодов, ЭВМ 7, измерительный зонд 8. 1 ил. (Л

(n)arctg

t

Ao(m,n)cos Vo(m,n) .)

Tn , , .

Устанавливают на фазовращателях35 n) распределения поля в M)iN узлах злементов решетки фазовое распреде- прямоугольной сетки. Вычисляют вто- ление о/,(га)+ /,(п). Вновь измеряют рое приближение 1з(т) и /},(п): амплитудное Ai(m,n) и фазовое (т,

А .(mjnjsiny lmjn)

Пг1

.rctg

/5(m)arctg

Устанавливают на фазовращателях злементов решетки фазовое распределение d, (m)-t-(,(т)+л,(п)+л,(п). Повторяют указанные операции измерени амплитудного распределения поля Aj-,(ni,n) и фазового распределения Vi-() причем после каждого измерения определяют величины (i(m) и /%, (п) и устанавливают на фазовращателях элементов ФАР 5 фазы (/(т)

Ap(m,n)sin (т,п)

t

A,(ra,n)cos v/m,n)

г I

У A,(m,n)sini(m,n)

in« 1 M

ZZA,(m,n)cos (I- (m,n)

IM J

ln«

+ o(n) + ...+ « j(m)+/i,(n) + ...+ /i,(n). Реально для настройки ФАР 5 со строч- но-стролбцевым управлением достаточно выбрать величину D равной 3-5.

Формула изобретения

Способ настройки фазированной антенной решетки со строчно-столбцевым управлением, заключающийся в изния точности, измерение амплитудног распределения поля A.-fm.n) и фазово

го распределения v

/ . V 1U у 11

y(m,n),

где ,

мерении амплитудного и фазового распределений поля на плоскости в M N узлах прямоугольной сетки, где М - число строк, а N - число столбцов фазированной антенной решетки (ФАР, в ближней зоне перед раскрывом ФАР и последующим вычислением по результа- фазового распределений поля Aj(m,n) там измерений строчной и стоолбцевой и (m,n) строчную У.(т) и столб- аппроксимации измеренного фазового JQ распределения поля, отличающийся тем, что, с целью повыше2,..,,М, ,2,.,.,N, производят J раз, где ,,..,J, причем после ка дого цикла измерений амплитудного и

цевую /}.(п) аппроксимации фазового распределения поля уточняют в соответствии с соотношениями:

rf (т)(у., (m)+arctg ,

AJ. ,(m,n)sin(y.(m,n)-fl/. (т)-. Jn)); п; -,

; А . ,(m,n)cos(v. (m,n)W, .(m)-/) (n))

. ц, 1 J14 J JM

ZlA, (ra,n)sin(v (m,n)-o (т)-л (n)) m.t JM ZlA;,(m,n)cos(y (m,n)rf (m)-A (n)),

J j

j l,2,...,J; al(ni} fb,( ,2,...,M; ,2,...,N.

rt.(n) /. {n)+arctg

ния точности, измерение амплитудного распределения поля A.-fm.n) и фазового распределения v

/ . V 1U у 11

y(m,n),

где ,

фазового распределений поля Aj(m,n) и (m,n) строчную У.(т) и столб-

2,..,,М, ,2,.,.,N, производят J раз, где ,,..,J, причем после каждого цикла измерений амплитудного и

фазового распределений поля Aj(m,n) и (m,n) строчную У.(т) и столб-

цевую /}.(п) аппроксимации фазового распределения поля уточняют в соответствии с соотношениями: