Тензометр изгибных деформаций образца Советский патент 1988 года по МПК G01B7/16 

Описание патента на изобретение SU1375944A1

со vj ел

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения деформаций образца с отверждаемым покрытием, вызванных внутренними напряжениями в формирующемся покрытии.

Целью изобретения является повышение чувствительности и точности измерений путем исключения влияния кручения образца на результат измерения изгибных деформаций.

На чертеже показан тензометр, общий вид.

Тензометр состоит из основания 1 с двумя консольно закрепленными на его концах тензобалками 2, плоскости минимальной жесткости которых лежат в одной плоскости, и прижимных опор 3. Опоры 3. размещены в основании 1 с возможностью их перемещения в плоскости, перпендикулярной плоскости тензобалок 2. Свободные концы тен зобалок расположены на равных расстояниях от средней точки между опорами причем они отстоят от этой средней точки дальше, чем опоры. Б центральной части основания 1 вьшолнено углуление 4, размеры которого соответствуют размерам образца 5.

Тензометр работает следующим образом.

Образец 5 помещается (вдвигается) в углубление 4 основания 1 и подводится к свободным концам тензобалок 2 перемещением прижимных опор 3, вы-- полненных, например, в виде винтовых толкателей. Тем самым на концах образца 5 между опорами 3 и свободньми

0

5

5 0

0

5

концами тензобалок 2 образуются равные плечи. На свободную поверхность образца 5 наносится слой покрытия, который при отверждении вызьгоает из- гиб образца 5 и тензобалок 2, приводящий к изменению показаний тен- зодатчиков, находящихся на балках 2.

Тензометр может усиленно использоваться для оперативного автоматизированного контроля образцов-свидетелей технологии нанесения покрытий на различные материалы в реальных заводских условиях, а также при разработке ускоренных режимов отверждения покрытий.

Формула изобретения

Тензометр изгибных деформаций образца, состоящий из основания, прижимных опор для образца, установленных на основании, и двух тензобалок, консольно закрепленных на основании, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и точности измерений путем исключения влияния кручения образца, плоскости минимальной жесткости тензобалок лежат в одной плоскости, а опоры размещены в основании с возможностью перемещения в плоскости, перпендикулярной плоскости тензобалок таким образом, что свободные концы тензобалок равно отстоят от средней точки между опорами на расстоянии большем, чем расстояние от опоры до средней точки.

Похожие патенты SU1375944A1

название год авторы номер документа
Тензометр 1986
  • Парфенюк Валерий Евтихиевич
  • Эльянов Леонид Михайлович
SU1374040A1
Устройство для измерения деформаций 1989
  • Рогожкин Михаил Васильевич
  • Мальков Валерий Иванович
  • Герасименко Михаил Антонович
  • Калайджян Размик Арменакович
  • Динельт Юрий Владимирович
SU1740981A1
Тензометр 1989
  • Ломакин Александр Александрович
  • Марченко Виталий Емельянович
SU1698627A2
Тензометр для измерения продольной и поперечной деформаций 1982
  • Гусев Валерий Емельянович
SU1099095A1
Тензометр 1983
  • Евецкий Юрий Леонидович
  • Чаусов Николай Георгиевич
SU1224552A2
Электромеханический тензометр 1982
  • Зябкин Виталий Варфоломеевич
SU1040327A1
Тензометр 1985
  • Морозов Юрий Данилович
  • Шиян Артур Витальевич
SU1366865A1
Тензометр 1980
  • Шибаков Владимир Георгиевич
  • Арутюнов Игорь Ервандович
  • Мухин Юрий Александрович
  • Гулевский Александр Алексеевич
  • Шибаков Юрий Георгиевич
SU929993A2
Тензометр для измерения продольной и поперечной деформации 1979
  • Герасименко Михаил Антонович
  • Калайджян Размик Арменакович
  • Рогожкин Михаил Васильевич
  • Ильяшевич Василий Семенович
  • Мальков Валерий Иванович
SU932198A1
Электромеханический тензометр 1986
  • Захаров Станислав Михайлович
  • Терехов Рем Георгиевич
  • Тормахов Николай Николаевич
SU1401264A1

Реферат патента 1988 года Тензометр изгибных деформаций образца

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения деформаций образца с отверждаемым покрытием, вызванных внутренними напряжениями в формирующемся покрытии. Цель изобретения - повышение чувствительности и точности путем исключения влияния кручения образца на результат измерения изгибных деформаций. Это достигается тем, что опоры для образца 3 могут перемещаться в плоскости, перпендикулярной плоскости минимальной жесткости двух консольно закрепленных на основании 1 тензо- балок 2, причем расстояние от опор до средней точки между ними меньше, чем расстояние от свободных концов тензобалок до этой средней точки. 1 ил. (Л

Формула изобретения SU 1 375 944 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1375944A1

Технология тонких пленок
Справочник под ред
Л
Майссела и Р
Глэнга, - М.: Советское радио, 1977, т.2, с
Котел 1921
  • Козлов И.В.
SU246A1
Тензометр 1977
  • Ильичев Владимир Яковлевич
  • Чернецкий Владимир Константинович
  • Абушенков Иван Дмитриевич
  • Мокрый Николай Иванович
SU678272A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 375 944 A1

Авторы

Черняков Эдуард Абрамович

Вол Дмитрий Владиславович

Даты

1988-02-23Публикация

1986-01-03Подача