Способ определения показателей преломления и дисперсий исследуемых тел Советский патент 1961 года по МПК G01N21/43 G02B21/02 

Известные способы определения показателей преломления и дисперсии исследуемых те,1 не обеспечивают исследования мелких кристаллов и предметов с кривыми иоверхиостями.

Способ согласно изобретению лишен этого недостатка. Сущность изобретення заключается в том, что определение показателей преломления дпснерспи ocyиJ,ecтвляeтcя с иомои1ыо оку.1ярного микрометра путем измерения зон иолиого внутреииего отражения в коносконической проекции, которая ироизводится объективом микроскопа с предельной аппаратурой и линзой Бертрана.

Микрорефрактометр для осуществлен11Я этого способа выиолнен Б виде обычного иоляризациоиного мнкроскоиа по типу Пульфри.ха, li тубус которого устанавливают иммерсионны объектив с фронтально ,1инзой из стек.ча с вь сокнм иоказате.чем нрсломлеиия.

На чертеже показана схема осуществления способа при номощи такого микрорефрактометра в отражениом свете и в проходящем свете.

Между обт:.ективом / и тубусом микроскопа вводится опак-иллюминатор с п.частинкой Бека 2, через который производится освещение изучаемого иренарата (кристаллика) 3, находящегося в иммерсии 4. Микроскон фокусируется иа верхнюю грань кристаллика, после чего включается линза Бертрана 5 и рассматривается выходной зрачок объектива микроскона. Измеряя окулярным микрометром 6 диаметр темного кружка на светлом фоне в зрачке объектива, определяют ноказатель нреломления кристаллика (в этих условиях ;:иаметры темных кружков прямо иронорциональны показателям нреломления исследуемых объектов).

В том случае, когда грань иснытуемого объектива, от которой наблюдается отражение, не параллельна наружной поверхности фронтальной линзы объектива, темный кружок в зрачке объектива сместится в сторону. В этом случае его возвращают в центральное ноложение, наклоняя препарат иа соответствующий угол.

Производя измерения при двух взаимноттернендикулярных иоложениях поляризатора, при соответствующей ориентировке кристалла, можио определить все показатели преломления анизотронных кристаллов.

Производя измерения в монохроматическом свете разных длин волн, определяют дисперсию кристалла.

Аналогичным образом постуиают при измерениях в ироходяи1,ем свете, но в этОлМ с.чучае онак-ил.гюминатор отсутствует, а под препаратом помещают высокоапертурньп конденсатор с фронтальной линзой из стекла с высоким показателем преломлеиия; при этом измеряют ди;ь метр светлого кружка в центре ноля на темном фоне.

Предметное стекло также должно иметь высокий показатель ире/;омлення.

Предмет изобретения

Способ определения показателей преломления и дисперсии liccvieдуемых тел с ирименеиием микрорефрактометра типа П льфри а, о глнчаю-щийся те.м, ч го, с целью ос ществления возможности исследования мелких кристаллов и тел с кривыми поверхностями, онределеаие показателей преломлений и дисиерспн производят путем измерения скулярным микро.метром зон полного внутреннего отражения в коноскснической проекции, даваемой объективом микроскоиа с предельиой апертурой и линзой Бертрана.