I
7,1.
I I
J- I I hфиг. 1
/
со
СО О5
СО
Изобретение относится к измерению деформаций в конструкциях оптичесли- ми методами.
Цель изобретения - повышение чув- ствительности и точности измерений посредством повышения дифракционных решеток с различающейся шириной щели.
На фиг. 1 приведена схема воло- конно-оптического тензодатчика; на фиг. 2 - схема дифракционной решетки на фиг. 3 - зависимость интенсивност света I от взаимного смещения Л решеток.
Волоконно-оптический тензодатчик (фиг.1) содержит расположенные вдоль хода излучения первое оптическое волокно 1, первую градиентную линзу 2, две амплитудные дифракционные решет- ки 3 и 4, установленные с возможностью взаимного перемещения, вторую градиентную линзу 5 и второе оптическое волокно 6.
Используя формулу Геймгольца-Кирх- гофа, или формулу Рзлея- Зоммерфель- да, можно записать поле U(x,z) одной дифракционной решетки в точке Po(x.z) (Фиг.2)
. -ггЦ|г - 1о-1.)
av
где dV - граница области, охватывающей точку Р,.
G(9) функция для уравнения Гейм- гольца и условие Кирхгофа U/. тадифракционной ре
ково, что если бы шетки не было,то
ikr е
Го-.
01
G(x,z)
в теории Геймгольца-Кирхгофа или iki,
G(x,z)
01 в теории Рэлея - Зоммерфельда.
Если на решетку падает плоская волна, то согласно теории Геймгольца Кирхгофа
и(х,г) i|-A. 4 exElikro,,
01
Xtl+cos (n f в,) dS, a Рэлея-Зоммерфельда
(2)
ikA f ,J
U(x,z) i-и
Го,
-cos (fi f,)dS(3)
В случае распределения поля в дальней зоне второй дифракционной решетки
сое (п f oi)1;
z
(
Кроме того, z 7 D NA.
Тогда интеграл по плоскости распадается на сумму интегралов по каждой апертуре (щели) в дифракционной решетке. Пусть - координата точки в центре дифракционной решетки, тогда X х + f , где xj - координата края щели. Тогда легко показать, что
и(х z) 2EElilS2J:ikx V2zJ ,
Д. Л Z 2а sin C(pa)hN(pA), -iNP
где Р kx/zi - hN(y) т-
И
ein(Ny/2) г ./п/., .4 1 -SiSt - P - /2(N-l)y .
Рассмотрим дифракцию на двух ре- шетках, когда вторая дифракционная решетка находится в ближней зоне первой дифракционной решетки (фиг.2). Поле в точке Р определяется вновь через интеграл (1) или (3), но задать и на плоскости г 1можно, если знать и в ближней зоне первой дифракционной Фешетки, расположенной в плоскости . Можно воспользоваться следующим
представлением U(x);
U(x)
(6)
где Fe(x) - функция,определяющая, как фронт плоской волны оказался про- модулированным первой дифракционной .решеткой.
Вид функции (6) общий и не зависит от величины 1, но проще всего Fe(x) определить в пределах 1- О и 1- 00 (или другими словами, 1--Л и 1 7 Д ). Рассмотрим дифракционные решетки, расположенные в ближней зоне друг друга, т.е. 1 1 2аЬ/Л,
где b т- (Л -2а).
Б таком случае легко показать,что
1
2а
где а J - ширина щели второй дифракционной решетки при условии равенства их периода.
а где а 1
C(x,z) (j) Pj, 1
.ae(0)
24
того, предложенная конструкция увеличивает отношение сигнал/шум.
J Формула изобретения
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Монохроматор | 1987 |
|
SU1423919A1 |
Монохроматор | 1981 |
|
SU968628A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОПТОВОЛОКОННЫХ ДИФРАКЦИОННЫХ РЕШЕТОК С БОЛЬШИМ ПЕРИОДОМ, А ТАКЖЕ УСТРОЙСТВО НА ЕГО ОСНОВЕ ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ДВУХПОЛОСНЫХ ОПТОВОЛОКОННЫХ ДИФРАКЦИОННЫХ РЕШЕТОК С БОЛЬШИМ ПЕРИОДОМ | 1999 |
|
RU2205437C2 |
ДВУХФОТОННЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП С АВТОМАТИЧЕСКОЙ ТОЧНОЙ ФОКУСИРОВКОЙ ИЗОБРАЖЕНИЯ И СПОСОБ АВТОМАТИЧЕСКОЙ ТОЧНОЙ ФОКУСИРОВКИ ИЗОБРАЖЕНИЯ | 2012 |
|
RU2515341C2 |
ПЛАНАРНАЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКАЯ МИКРОЛИНЗА | 2013 |
|
RU2539850C2 |
Устройство для измерения малых перемещений | 1987 |
|
SU1465692A1 |
Диспергирующее устройство | 1984 |
|
SU1171744A1 |
УСТРОЙСТВО ВИДЕНИЯ ОБЪЕКТА | 2006 |
|
RU2329526C1 |
Преобразователь линейных перемещений | 1989 |
|
SU1733921A1 |
Проекционная система | 1976 |
|
SU705405A1 |
Изобретение относится к измерению деформаций в конструкциях оптическими методами. Цель изобретения -. повьшение чувствительности и точности измерений посредством вьшолнения дифракционных решеток с различающейся шириной щели. Волоконно-оптический тензодатчик содержит два оптических волокна 1,6, расположенные между ними две градиентные линзы 2, 5 и расположенные с возможностью взаимного перемещения между градиентными линзами 2,5 две дифракционные решетки 3,4. Причем первая дифракционная решетка выполнена с шириной щели а d/2 - 1 A/2d, а вторая - с шириной щели а d/2 и расположена на расстоянии 1 от первой, где d - период решеток; Л - длина волны излучения. 3 ил. ю
т.е. зависимость I от смещения и имеет вид представленный на фиг.З. Таким образом, диапазон регистрируемых устройством смещений есть в значительной мере функция расстояния между дифракционными решетками. Диапазон регистрируемых смещений можно расширить практически до величины А второй решетки при условии правильного выбора ее параметров. При этом регистрация смещений будет безлюфто- вой.
Использование изобретения позволяет получить безлюфтовый датчик смещения, что особенно необходимо для работы датчика при регистрации малых начальных деформаций. Кроме
0
,
0
Волоконно-оптический тензодатчик, содержащий расположенные вдоль хода излучения первое оптическое волокно, первую градиентную линзу, две амплитудные дифракционные решетки, установленные с возможностью взаимного перемещения, вторую градиентную линзу и второе оптическое волокно, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и точности измерения деформаций, первая дифракционная решетка выполнена с шириной щели аg а - 1 А/2а, а вторая с шириной щели а d/2 и рас- положена на расстоянии 1 от первой, где d - период решеток, Д - длина волны излучения.
f.
(DU2.i
Предложен ь/а (7/77w 3eecf7 H6fi
dC7/77W/(
A.
A
H-Ya
Фиг.З
Electron Letters, 1979, 15,749 | |||
Applied Optics, 1981, 20.3, 465. |
Авторы
Даты
1988-03-07—Публикация
1986-09-24—Подача