Приставка к гониоспектрофотометру для измерения обратного рассеяния Советский патент 1988 года по МПК G01N21/01 

Описание патента на изобретение SU1448248A1

Изобретение относится к оптичес- кому спектральному приборостроению и может быть использовано для исследования индикатрис рассеяния материалов..

Цель изобретения - повышение точности измерения индикатрис рассеяния излучения.

На чертеже представлена оптическая схема приставки.

Приставка к гониоспектрофотомет- ру содержит осветительную оптическую систему, состоящую из зеркал 1 и 2, светоделителя 3, держателя 4 образца, приемной оптической системы 5.

Приставка работает следующим образом.

Приставка устанавливается на столик гониоспектрофотометра. Монохроматическое излучение попадает на зеркало 1 осветительной оптической системы, отражается от него и с помощью зеркала 2 направляется на светоделитель 3. Нормаль к светоделителю 3 расположена под углом 8-10° к оптической оси осветительной оптической системы. Отраженный от светоделителя 3 монохроматический пучок попада-т ет на образец, закрепленшяй в держателе 4. Образец рассеивает подсиоще сся на него излучение. Излучение,, рассеянное по направлению падающего пучка, проходит через светоделитель 3 и поступает в приемную оптическую систему 3«

Установка светоделителя 3 под углом 8-10 к направлению освещения в пристав1 е для измерения обратного рассеяния повышает точность измерения индикатрисы рассеяния излучения, отраженного по направлению падающего пучка, особенно при работе с. поляризованным излучением.

Точность определяется относительной ошибкой измерения, обусловленной различием коэффициентов отра- жения светоделителя для поляризации в плоскости падения и в ортогональной плоскости PJ и р, эта ошибка может быть оценена для светоделителя по формуле

.

где J - относительная ошибка измерения ;

- козффициенты зеркального отражения при ориентации вектора электрического поля падающего потока перпендикулярно плоскости падения и в плоскости падения соответственно.

Для угла падения 40-50 коэффициенты отражения составляют |),«0,25-0,30; РЙ - 0,55-0,60. При этом ошибка измерения составляет около 30%.

Для угла падения 1.0 разность коэффициентов отражения pj. н рц составляет 0,01-0,02 и относитель- ная ошибка приблизительной равна 2%.

Формула изобретения

Приставка к гоииоспектрофотомет- ру для измерения обратного рассеяния, содержащая оптически связанные осветительную оптическую систему, светоделитель, держатель образца и приемную оптическую систему, отличающаяся тем, что,

с целью повьшения точности измерения индикатрис рассеяния излучения, светоделитель-установен так, что нормаль к нему расположена под углом 8-10 к оптической оси осветительной оптической системы.

Похожие патенты SU1448248A1

название год авторы номер документа
Способ определения индикатрисы рассеяния естественного излучения плоскими рассеивающими объектами 1988
  • Кунецкий Мирча Георгиевич
  • Проценко Владимир Анатольевич
  • Сахновский Михаил Юрьевич
  • Сербунов Яков Михайлович
SU1659794A1
Способ определения показателя преломления материала 1989
  • Варшавчик Михаил Львович
  • Комовкина Рашида Арифовна
SU1642333A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОСТРАНСТВЕННОЙ ИНДИКАТРИСЫ РАССЕЯНИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ 2019
  • Сидоровский Николай Валентинович
RU2726036C1
Способ определения показателя преломления материала 1989
  • Варшавчик Михаил Львович
  • Комовкина Рашида Арифовна
SU1642334A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК СВЕТОРАССЕЯНИЯ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ 2007
  • Алабовский Андрей Владимирович
RU2329475C1
Устройство для измерения двунаправленной функции рассеяния (варианты) 2022
  • Соколов Вадим Геннадьевич
  • Потемин Игорь Станиславович
  • Жданов Дмитрий Дмитриевич
RU2790949C1
Способ определения шероховатости поверхности 1987
  • Валетов Вячеслав Алексеевич
  • Листовец Владислав Савельевич
  • Москвин Анатолий Иванович
  • Слякоткин Николай Владимирович
SU1538045A1
Способ измерения высоты микронеровностей шероховатой поверхности и устройство для его осуществления 1985
  • Ангельский Олег Вячеславович
  • Максимяк Петр Петрович
SU1302141A1
Эллипсометр 1988
  • Ковалев Виталий Иванович
SU1695145A1
Устройство для измерения индикатрис рассеяния нагретых образцов 1985
  • Хрипунов Петр Константинович
  • Клишин Виктор Алексеевич
SU1343313A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 448 248 A1

Реферат патента 1988 года Приставка к гониоспектрофотометру для измерения обратного рассеяния

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения и может быть использовано , для исследования индикатрис рассеяния материалов. Цель изобретения - повышение точности измерения индикатрис рассеяния излучения. Монохроматического излучение от гонио- спектрофотометра поступает на зеркала осветительной оптической систе- мь приставки. Эти зеркала направляют пучок на светоделитель, нормаль которого расположена под углом 8-10 к оптической оси осветительной оптической системы. После светоделителя пучок попадает на образец, закрепленный в держателе. Рассеянный по направлению падающего излучения пучок . проходит светоделитель и поступает на приемную оптическую систему. При указанной установке светоделителя относительная ошибка измерений при работе с поляризованным излучением уменьшается примерно в 15 раз по сравнению с установкой светоделителя под углом 40-50 . I ил. с S (Л 4 и СХ) ND И 00

Формула изобретения SU 1 448 248 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1448248A1

Непогодий И.А
и др
Гониофото- метр для исследования двунаправленных отражательных характеристик материалов
- Оптико-механическая промышленность, 1984, 3, с.19-21
Мазуренко М.М
и др
Регистрирующая гониоспектрофотометрирующая установка с высоким угловым разрешением для видимой и ультрафиолетовой области спектра
- Оптико-механическая промышленность, 1977, № 6, с.26-29.

SU 1 448 248 A1

Авторы

Клиентов Юрий Николаевич

Лазарева Наталия Ивановна

Поклад Евгений Борисович

Шестов Алексей Николаевич

Варшавчик Михаил Львович

Даты

1988-12-30Публикация

1986-06-17Подача