Микроскоп для контроля соосности Советский патент 1962 года по МПК G01B11/26 G02B21/36 

Известные (например, из руководства по юстировке прибора ИАБ-451) микроскопы для контроля соосности, например соосности отверстий изделий типа карданного подвеса, обладают низко чувствительностью, т. е. не обеспечивают получения необходимой точности.

Предложенный микроскоп лишен указанного недостатка. Суш,ность изобретения заключается в том, что в микроскопе в качестве центрирующих элементов применены зеркальные шаровые поверхности. При этом обычный микроскоп заменен автоколимационным микроскопом.

На чертеже схематично изображен предложенный микроскоп.

Микроскоп состоит из осветителя 7, пластины 2 с перекрытием, полупрозрачной пластины 3, окуляр-микрометра 4 и объектива 5.

Принцип измерения соосности отверстий изделия заключается в использовании отражательных свойств зеркальных сферических поверхностей и свойств специального микроскопа. Плагтина 2 с перекрестием помещается в фокальной плоскости окуляр-микрометра 4. При освещении пластины 2 осветителем / перекрытие пластины видно в объективе в виде светящегося креста. С помощью специальной призменной насадки 6, помещаемой перед объективом 5, пучок лучей, выходящий из объектива микроскопа, преломляется под углом 90° и разделяется на два пучка, образуя угол 180° между собой. При этом оба пучка лежат на одной линии.

На этой линии находятся два изображения светящегося креста, создаваемые объективом. В отверстия а контролируемого изделия 7 вставляются щарики 8. Перемещением изделия центр одного из шариков совмещают с первым изображением светящегося креста, что проверяется по совпадению автоколлимационного изображения этого креста с перекрестием окуляра. После этого перемещением изделия параллельно базовой плоскости . совмещают центр, шарика, установленного во втором отверстии, со вторым изображением креста. По расстоянию , между автоколлимационным изображением креста и горизонтальной линией перекрестия окуляра измеряют расстояние между осями отверстий.

Возможно и последовательное совмещение центров двух шариков с одним изображением креста, если поворачивать изделие с помощью делительной головки.

Отличительной чертой предложенного микроскопа является повышение его чувствительности по сравнению с аналогичными известными микроскопами в два раза.

Предмет изобретения

Микроскоп для контроля соосности, например соосности отверстий, изделий типа кардапного подвеса, отличающийся тем, что в нем, с целью повышения чувствительности, применены зеркальные шаровые поверхности, играющие роль центрирующих элементов, а обычный, микроскоп заменен автоколлимадионным микроскопом.