Способ регистрации кратностей на нейтронном мониторе с компенсацией эффекта совпадений Советский патент 1990 года по МПК G01T1/15 

Описание патента на изобретение SU1461200A2

.... :

Изобретение относится к экспериментальной технике регистрации кос- мцческих лучей, используемой при ре- гистрации кратностей в нейтронном мониторе.

Целью изобретения является повьше- ние точности измерений путем компенсации .потерь совпавших кратностей,

:Суть способа заключается в том, что дополнительно регистрируют крат, ности, для определения величины Кото рык подсчитьтают суммарное количест- ;. .во нейтронов, зарегистрированных нейтронными счетчиками в течение вре- .мени сбора в.каждой части секций m из тех п секций, в которых зарегист-: рированы нейтроны, во всех сочетаниях m , секпий из п для всех врэмож .2 .

ных значений m из п, определяемгдх |условием 1 т п N. Дпя каждой кратности отсчет времени сбора начиг- нают в момент регистрации первого нейтрона в соответствующих ш секци- ях. Число случаев каждой кратности регистрируют через делитель с коэф-фшдаентом деления - (-SlS-EL) в

ш

соответствующих кратностям каналазс со знаком плюс при нечетном значении m и со знаком

HOMi

минус -при чет

Компенсация потерь совпавших крат- иостей обеспечивается тем, что имеет место равенство вероятностей каждого распределения совпавпгихгкратностей по каждой части секций т, т.е. вероятность совпадения нескольких кратностей в одной секции и оовпаде- ния тдких же кратностей в нескольких . секциях по одной в каждой, или в другом люЛом сочетании секции одна и та же, т,К,-секции нейтронного, монитора идентичны и поток частиц косгг , мических лучей равновероятно, падает на каждую секцию, Поэтону при раз-, де-пьной регистрации краткостей при их совпадении в нескольких секциях, по одной в их можно использовать для компенсации потерь сов- павгаих кратностей. Регистрация вели- чинъ кратностей для всех значе1шй m от 1 до п, а не только для m l9 необходима для того чтобй компенсировать, случаи регистрации лонных кратностей в части секций т, образо ванных совпадением нескольких кратностей, количество которых больше м При дополнительньтй способ совпадает с основным При количестве секций N выполняется компенсация эффекта- совпадений, в том числе компенса- ,ция потерь совпавших кратностейаДО N-ro порядтса включительно,.

При практическом использовании способа для N - 3, , для трехсек-- ционного; нейтронного монитора-,кото рыми оснащена мировая сеть станций космических лучей, регистрацию кратностей ведут следующим образомв

В случае, если в течение времени : сбора нейтроны зарегистрированы толь. ко в одной секции из трех то для определения величины кратности под. считьюают количество нейтронов в ;этой секции и число случаев казадой кратности регистрируют в соответст- вую.щих.кратностям каналах со знаком плюс т.е, добавляют ...-.к ранее . зарегистрированному числу соответст- вуюпшх кратностей,.

Если в течение времени сбора нейт- pOHtbl зарегистрированы в двух секциях из трех, ТО

. 1) число кратностей, для Ьпреде- , ления величины которьт подсчитыва-

-ют суймарное количество нейтронов в этих двух секциях регистрируют че- , рез -делитель с коэффициентом деления 2 со знаком минус, т.е вычитают половику числа этих кратностей из ра нее зарегистрированного числа соот-

ветствуюших кратностей;

14612ПО

2) число кратностей, для определения величины которьк подсчитьгаают ..э- личество нейтронов в каждой секции отдельно регистрируют через делитель с коэффициентом деления 2/3 со

20

28

знаком плюс.

Если в течение времени сбора нейтроны зарегистрированы во всех трех секциях, то;

1)число кратностей, для определения величины которых подсчитывают суммарное количество нейтронов во всех трех секциях, регистрируют со знаком

2)число .кратностей, для определения величины которых подсчитьгаают суммарное количество нейтронов в двух секциях из трех во всех сочетаниях, а именно в первой и второй,

в первой и третьей, во второй и третьей - регистрируют через дели- тель с коэффициентом деления 2/3 со знаком минус |

3)число кратностейJ для определения величины которых подсчитьшают количества нейтронов отдельно в каждой из трех секций, регистрируют через делитель с коэффициентом деле30 ния 1/3 со знаком плюс.

Отсчет времени сбора для каждой кратности начинают в момент регистрации первого нейтрона в тех секциях, в которых определяют величину краткости в .

Предлагаемый способ регистрации кратностей с компенсацией эффекта совпадений ает возможность исключить из данйых по кратностям не только ложные кратности, образованные . совпадением нескольких истинный Kpat- ностей, но и компенсировать noTeifti совпавших истинных кратностей. Это имеет важное значение при использо45 вании измерений распределения кратностей. для исследования энергетического спектра космических л учей, с

которым оно связано,

gg Ф О р м У Л а .И 3 О б р е Т е И И Я

.Способ регистрации кратностей на нейтронном мониторе с компенса- 1(ией эффекта совпадений по авт,ев, 55 9.7955, Ьтличающийся тем, что, с .целью повышения точности измерений путем компенсации потерь совпавших кратностейJ, при регистрации нейтронов в течение времени

ЗБ

40

0

8

знаком плюс.

Если в течение времени сбора нейтроны зарегистрированы во всех трех секциях, то;

1)число кратностей, для определения величины которых подсчитывают суммарное количество нейтронов во всех трех секциях, регистрируют со знаком

2)число .кратностей, для определения величины которых подсчитьгаают суммарное количество нейтронов в двух секциях из трех во всех сочетаниях, а именно в первой и второй,

в первой и третьей, во второй и третьей - регистрируют через дели- тель с коэффициентом деления 2/3 со знаком минус |

3)число кратностейJ для определения величины которых подсчитьшают количества нейтронов отдельно в каждой из трех секций, регистрируют через делитель с коэффициентом деле0 ния 1/3 со знаком плюс.

Отсчет времени сбора для каждой кратности начинают в момент регистрации первого нейтрона в тех секциях, в которых определяют величину краткости в .

Предлагаемый способ регистрации кратностей с компенсацией эффекта совпадений ает возможность исключить из данйых по кратностям не только ложные кратности, образованные . совпадением нескольких истинный Kpat- ностей, но и компенсировать noTeifti совпавших истинных кратностей. Это имеет важное значение при использо45 вании измерений распределения кратностей. для исследования энергетического спектра космических л учей, с

которым оно связано,

gg Ф О р м У Л а .И 3 О б р е Т е И И Я

.Способ регистрации кратностей на нейтронном мониторе с компенса- 1(ией эффекта совпадений по авт,ев, 55 9.7955, Ьтличающийся тем, что, с .целью повышения точности измерений путем компенсации потерь совпавших кратностейJ, при регистрации нейтронов в течение времени

Б

0

5.1А612ПО

сОора в п секциях из полного количе-сочетаний п секций из п и всех возства секций нейтронного монитора Nможных значений m из п, определяедополнительнр регистрируют кратности,ммх условием , и число слудля определения величины которых чаев каждой кратности регистрируют

подсчитывают суммарное количество через делитель с коэффициентом де-:

нейтронов, зарегистрированных в кая- т (. соответствуй дои части секций а из п в тече-Nп

ние времени сбора, отсчет которогощих кратнастям каналах со знаком

начинают в момент регистрация nepBO- f при нечётном m и со знаком

го нейтрона в этих секциях, для всех , минус -при четном.

Похожие патенты SU1461200A2

название год авторы номер документа
Способ регистрации кратностей на нейтронном мониторе с компенсацией эффекта совпадений 1974
  • Коротков В.К.
SU497955A1
БИВЛПОТЕКА I 1972
  • И. Н. Капустин В. А. Радкевич
SU335636A1
УСТРОЙСТВОJUM ОПР!НЕЙТРОННОИКОМПОН1ЛУЧ1f1Изобретение относится к устройствам, предназначенным для разделения потока нейтронов космических лучей по энергиям, регистрируемого нейтронным монитором или супермонитором станции космических лучей. Данные регистраторов кратностей используются при излучении вариаций космических лучей.,Определение кратностей нейт-» ронной компоненты космических лучей основано на том.что первичный, нейтрон, попадая в тело датчика нейтронного монитора, вызывает ге-т нерацию некоторого числа вторичных нейтронов, имеющих общее название "звезда*, которые регистрируются счетчиками. Чем больше энергия пришедшего первичного • нейтрона, тем больше вторичных нейтронов в "звезде", тем больше число их зарегистрируется счетчиками, т.е. тем больше кратность зарегистрированной "звезды" (одноч кратные, двукратные и т.д. "звез- рс ды").101520Подсчет количества нейтронов в "звезде", т.е. определение её кратности, производится в течени^ определенного времени сбора ''Тс , которое выбирается несколько большим времени ?ивни "звездц" в датчике нейтронного монитора, Отсчет времени сбора Тс начина-» ется от момента регистрации счет^ чиками первого нейтрона регистрИ'п руемой "звезды".Известно устройство для опре- деления кратностей нейтронной компоненты космических лучей - по авт.св. № 335636, статистичес>& ки полно исключающее р выходных данных влияние эффекта двойных совпадений.Такое устройство содержит фор«1ирователи основного врше- ни сбора, форлирователь времени задержки, формирователь контрольного времени и формирователь ком- пенсйрущез?С) времени cSo]^, соединенные последовательно,подсчи- тываюпше кратность регистрир!уе- 1971
  • Изобретени И.Н.Капустин В.А.Радкевич
SU433434A1
Способ измерения нейтронных сечений 1975
  • Мурадян Г.В.
  • Адамчук Ю.В.
  • Щепкин Ю.Г.
  • Устроев Г.И.
SU548100A1
Детектор для регистрации актов радиационного захвата нейтронов и деления 1983
  • Мурадян Г.В.
  • Щепкин Ю.Г.
  • Восканян М.А.
  • Адамчук Ю.В.
SU1131336A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОНСТАНТЫ РАДИОАКТИВНОГО РАСПАДА 2007
  • Васильев Валерий Васильевич
RU2377599C2
Способ измерения нейтронных сечений 1980
  • Адамчук Юрий Владимирович
  • Восканян Мартин Арменакович
  • Мурадян Генрик Ваганович
  • Щепкин Юрий Германович
SU862095A1
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ИСТОЧНИКА ПРОНИКАЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ 2006
  • Бармаков Юрий Николаевич
  • Боголюбов Евгений Петрович
  • Микеров Виталий Иванович
  • Кошелев Александр Павлович
RU2308740C1
СПОСОБ ПАСПОРТИЗАЦИИ И КОНТРОЛЯ СОХРАННОСТИ ИЗДЕЛИЙ ИЗ ЯДЕРНЫХ МАТЕРИАЛОВ 1998
  • Иванов А.И.
  • Лущиков В.И.
RU2150693C1
ДЕТЕКТОР ДЕЛЯЩИХСЯ МАТЕРИАЛОВ 2001
  • Иванов А.И.
  • Лущиков В.И.
  • Мазный Н.Г.
  • Роланд Марк Стефан
  • Хвастунов М.М.
  • Шабалин Е.П.
RU2212652C2

Реферат патента 1990 года Способ регистрации кратностей на нейтронном мониторе с компенсацией эффекта совпадений

Формула изобретения SU 1 461 200 A2

SU 1 461 200 A2

Авторы

Коротков В.К.

Даты

1990-09-15Публикация

1986-07-02Подача