Способ определения концентрации и подвижности носителей тока в полупроводниках Советский патент 1989 года по МПК G01N22/00 

Описание патента на изобретение SU1465750A1

Похожие патенты SU1465750A1

название год авторы номер документа
Способ измерения постоянной Холла листовых материалов 1987
  • Сидорин Виктор Викторович
  • Сидорин Юрий Викторович
SU1478105A1
Способ контроля качества магнитного материала 1984
  • Сидорин Виктор Викторович
  • Сидорин Юрий Викторович
SU1264049A1
Способ определения параметров магнитных материалов 1984
  • Сидорин Виктор Викторович
  • Григулис Юрис Карлович
  • Сидорин Юрий Викторович
  • Пориньш Виестурс Мартынович
SU1249412A1
Датчик для измерения холловской подвижности носителей заряда в полупроводнике 1988
  • Сидорин Виктор Викторович
  • Сидорин Юрий Викторович
  • Пориньш Виестурс Мартынович
  • Григулис Юрис Карлович
SU1665290A1
Датчик для измерения параметров полупроводниковых материалов 1985
  • Сидорин Виктор Викторович
  • Сидорин Юрий Викторович
SU1332205A1
Датчик холла 1972
  • Беспаленко Валерий Юрьевич
  • Боянков Вячеслав Иванович
  • Бугаков Виктор Алексеевич
  • Зеленский Геннадий Григорьевич
  • Котосонов Николай Васильевич
  • Романова Римма Алексеевна
  • Скутнев Александр Васильевич
  • Хлявич Яков Лейбович
SU446920A1
Способ определения параметров полупроводниковых материалов 1990
  • Сидорин Виктор Викторович
  • Сидорин Юрий Викторович
  • Пориньш Виестурс Мартынович
  • Григулис Юрис Карлович
SU1746337A1
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕННОСТИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ПОЛЯ 2007
  • Рыбников Юрий Степанович
  • Александров Валерий Борисович
RU2337370C1
НЕРАЗРУШАЮЩИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОДВИЖНОСТИ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ СТРУКТУРЕ 2018
  • Усанов Дмитрий Александрович
  • Постельга Александр Эдуардович
  • Шаров Игорь Викторович
  • Калямин Алексей Александрович
RU2679463C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУР 2015
  • Усанов Дмитрий Александрович
  • Скрипаль Александр Владимирович
  • Пономарев Денис Викторович
  • Латышева Екатерина Викторовна
RU2622600C2

Реферат патента 1989 года Способ определения концентрации и подвижности носителей тока в полупроводниках

Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - обеспечение однозначности измерений при постоянном магнитном поле. Сущность данного способа измерений поясняется работой устр-ва, при которой полупроводник накладьгеают на выходное отверстие радиоволнового преобразователя 6. Затем облучают его электромагнитной волной Н, от .СВЧ-г-ра I и воздействуют магнитным полем от магнитной системи П. С помощью фазовращателя 3 добиваются максимального преобразования измеренной измерителем 10 мощности электромагнитной волны Нд, прямоугольного волновода, которая в нем возбуждается полупроводником и распространяется от полупроводника к СВЧ-г-ру 1. Затем фиксируют показания и Р измерителей 5 и 10 MOPtHocTH и ввиду того, что волновые сопротивления для электромагнитных волн типов и Но4 в квадратном волноводе равны, по ф-лам вычисляют концентрацию и подвижность носителей тока в полупроводнике. 1 ил. (/

Формула изобретения SU 1 465 750 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1989 года SU1465750A1

Клюев-В.В.Приборы для неразру- шающего контроля материалов и изделий
Справочник
М., 1986, т.1, с.217-220
Способ восстановления газоразрядной спектральной лампы 1981
  • Цветков Валериан Дмитриевич
  • Цебоев Алан Иванович
  • Хузмиева Белла Хазбекировна
  • Хузмиев Марат Агубечирович
SU1038981A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 465 750 A1

Авторы

Сидорин Виктор Викторович

Пориньш Виестурс Мартынович

Григулис Юрис Карлович

Сидорин Юрий Викторович

Даты

1989-03-15Публикация

1987-05-27Подача