Способ измерения микроскопических объектов Советский патент 1962 года по МПК G01N21/01 G01B11/02 

Описание патента на изобретение SU146999A1

Изнестный по авт. св. № 85114 способ нз.мерення микроскопических объектов и микроскопических линейных смеп1еиий, заключающ|и |ся в том, что шкалу со сравнительно большой ценой деления проецируют с уменьп1ением в плоскость наблюдаемого объекта, не обеспечивает нысокой точности измеренияПредлагаемый способ отличается тем, что неподвижное оптическое изображение шкалы совмещают с увеличенным в заданное чис.чо рач оптическим изображением наблюдаемого объекта- Указанное отличие позволило значительно повысить точность измерения

Практически предлагаемый способ осуществляется следующим образом. Вместо наблюдаемого объекта, взятого в натуре, используют его оптическое изображение, увеличенное в некоторое число раз, которое проецируют на жесткий экран с тонки.м рассеивающи.м слоем- На этот же экран проецируют неподвижное оптическое изображение шкалы.

Если предположить, что действительнаяцена одного деления Н1калы равна 0,1 мм, то после ее проецирования с у.меньшением в пятьдесят раз в плоскости оптического изображения цена деления шкалы станет в пятьдесят раз меньше, т. е. 0,002 мм- Теперь, если микроскопический объект величиной в 0,01 мм увеличить в двадцать раз, то в плоскости своего оптического изображения эта величина станет размеро.м 0,2 мм.

Так как оба оптических изображения (шкалы и объекта) совмещаются в одной плоскости жесткого экрана, то в поле зрения микроскопа одному делению объекта будет соответствовать в данном случае сто делений шкалы- Это обстоятельство позволяет производить измерения микроскопических объектов и микроскопических линейных смещений с высокой точностью, в связи с чем предлагаемый способ найдет широкое применение в промышленности.

№ 146999

Предмет изобретения

Способ измерения микроскопических объектов и микроскопических линейных смещений по авт. св. Лэ 85114, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, неподвижное оптическое изображение шкалы совмещают с увеличенным в заданное число ра-з оптическим изображением наблюдаемого объекта.

Похожие патенты SU146999A1

название год авторы номер документа
Способ измерения микроскопических объектов и отсчетный осветитель для осуществления этого способа 1949
  • Гуревич С.Г.
  • Трухманова Н.С.
SU85117A1
ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ КРУГОВЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ 1990
  • Васильев В.В.
  • Пинаев Л.В.
  • Тихомирова Н.Л.
  • Больбит В.Н.
RU2057287C1
ЛАЗЕРНЫЙ ЦЕНТРАТОР ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧАТЕЛЯ 2010
  • Маклашевский Виктор Яковлевич
  • Степанов Александр Вячеславович
  • Маклашевская Светлана Владимировна
RU2421948C1
ЛАЗЕРНЫЙ ЦЕНТРАТОР ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧАТЕЛЯ 2010
  • Маклашевский Виктор Яковлевич
  • Муллина Людмила Николаевна
  • Самодурова Валентина Ивановна
RU2421950C1
Устройство для измерения поперечных отклонений точек объектов 1983
  • Нестеренок Валерий Федорович
SU1154528A1
Способ бесконтактного контроля взаимного положения смежных поверхностей двух объектов и устройство для его осуществления 1986
  • Валюс Николай Адамович
  • Кеткович Андрей Анатольевич
SU1366876A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР G ДВОЙНЫМ ИЗОБРАЖЕНИЕМ ПОЛОС ИНТЕРФЕРЕНЦИИ СВЕТА 1972
SU335530A1
ЛАЗЕРНЫЙ АВТОКОЛЛИМАЦИОННЫЙ ЦЕНТРАТОР ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧАТЕЛЯ 2002
  • Кеткович А.А.
  • Маклашевский В.Я.
RU2224243C1
Устройство для сравнения изображений 1978
  • Гирина Маргарита Викторовна
  • Иванова Татьяна Александровна
  • Кулешова Евгения Семеновна
  • Рагузин Рэм Михайлович
SU857908A1
ЛАЗЕРНЫЙ ЦЕНТРАТОР ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧАТЕЛЯ 2000
  • Маклашевский В.Я.
  • Кеткович А.А.
  • Филинов В.Н.
RU2179789C2

Реферат патента 1962 года Способ измерения микроскопических объектов

Формула изобретения SU 146 999 A1

SU 146 999 A1

Авторы

Гуревич С.Г.

Даты

1962-01-01Публикация

1959-12-14Подача