Способ испытаний электроаппаратуры на наличие короткозамкнутых элементов Советский патент 1989 года по МПК G01R31/02 

(21)4074724/24-21

(22)29.04.86

(46) 30.04.89. Вкэт. № 16

(71)Запорожский индустриальный институт и Всесоюзный научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт силовых полупроводниковых устройств

(72)В.В.Семенов, А.П.Калиниченко, Е.В.Носов, А.Г.Воронин и К.О.Турышев

(53)621.317 (088.8)

(56)Авторское свидетельство СССР № 390475, кл. G 01 R 27/18, 1971.

Авторское свидетельство СССР N 711503, кл. G 01 R 31/28, 1978.

(54)СПОСОБ ИСПЫТАНИЙ ЭЛЕКТРОАППАРАТУРЫ НА НАЛИЧИЕ КОРОТКОЗАККНУТЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

(57)Изобретение относится к электроиспытательной технике и может быть использовано для испытания электроаппаратуры при наличии короткозамкну- тых элементов. Целью изобретения является повышение производительности труда при испытаниях. В устройстве, реализующем способ, если испытуемый элемент 11 не пробит, то ток, созданный в нем наведенной вторичной ЭДС, мал. При этом генератор 1 работает в нормальном автоколебательном режиме и от источника 10 потребляется ток, который вызывает свечение индикатора 8. Если испытуемый элемент 11, на вывод которого накладывается разъемный магнитопровод 5, пробит, то автоколебания в генераторе 1 срываются из-за уменьшения коэффициента обратной связи. При этом транзисторы генератора 1 запираются, ток от источника 10 не потребляется и индикатор 8 не светится. На чертеже также показаны обмотки 2 и 3 обратной связи, выходная обмотка 4 генератора, разъемный магнитопровод 5, короткозамыкатель 6, внешняя часть 7 испытываемой электроаппаратуры и выключатель 9. 1 ил.

«

(Л

Изобретение относится к электроиспытательной технике и может быть использовано для испытания электроаппаратуры при наличии короткозамкнутых элементов. Целью изобретения является повышение производительности труда при испытаниях. В устройстве, реализующем способ , если испытуемый элемент 11 не пробит, то ток, созданный в нем наведенной вторичной ЭДС, мал. При этом генератор 1 работает в нормальном автоколебательном режиме и от источника 10 потребляется ток, который вызывает свечение индикатора 8. Если испытуемый элемент 11, на вывод которого накладывается разъемный магнитопровод 5, пробит, то автоколебания в генераторе 1 срываются из-за уменьшения коэффициента обратной связи. При этом транзисторы генератора 1 запираются, ток от источника 10 не потребляется и индикатор 11 не светится. На чертеже также показаны обмотки 2 и 3 обратной связи, 4 выходная обмотка генератора, разъемный магнитопровод 5, короткозамыкатель 6, внешняя часть 7 испытываемой электроаппаратуры выключатель 9. 1 ил.

4ь

О5 4ъ

Изобретение относится к электроиспытательной технике и может быть использовано для испытаний электроаппаратуры на наличие короткоэамкнутых элементов.

Цель изобретения - повышение производительности труда при испытаниях.

На чертеже изображена блок-схема устройства для осуществления предла- JQ гаемого способа.

Устройство содержит генератор 1 тестовой ЭДС, первую 2 и вторую 3 обмотки обратной связи, выходную обмотку 4 генератора, разъемный магнито- 15 провод 5, короткозамыкатель 6, внешнюю часть 7 испытуемой электроаппаратуры, индикатор 8, выключатель 9, источник 10 питания, испытуемый эленой вторичной ЗДС, мал. При этом генератор 1 работает в нормальном автоколебательном режиме и от источника 10 потребляется ток, который вызывает свечение индикатора 8. Если испытуемый элемент 11, на вывод которого накладывается разъемный магнитопро- вод 5, пробит, то автоколебания в генераторе 1 срываются из-за уменьшения коэффициента обратной связи. При этом транзисторы генератора 1 запираются, ток от источника 10 не потребляется и индикатор 8 не светится.

Формула изобретения

Способ испытаний электроаппаратуры на наличие короткозамкнутых элемент 11, причем, обмотки 2, 3 и 4 на-20 ментов,заключающийся в том,что в ис- мотаны на магнитопроводе 5, которыйпытуемом элементе наводят тестовую

охватывает вывод элемента 11 междуЭДС, измеряют величину протекающего

его корпусом и местом подключенияв нем тока, сравнивают величину изкороткозамыкателя 6 к выводу элемен-меренного тока с эталонным значением

таП, средняя точка обмотки 4 соеди- 25 и по превышению величиной измеренного йена с первым выводом индикатора 8,тока эталонного значения судят о навторой вывод которого соединен с пер- личии короткого замыкания в испытуе- вым выводом источника 10 через вы-мом элементе, отличающийключатель 9, а второй вывод источни- Гс я тем,что,с целью повышения произво- ка 10 соединен с общей шиной генера- 30 дительности трудапри испытаниях,меж-, ТОра jtду выводами испытуемого элемента подУстройство работает следующим образом.

Если испытуемый элемент 11 не проключают короткозамыкатель, а тестовую ЭДС наводят в выводе испытуемого элемента (между его корпусом и методом

бит, то ток, созданный в нем наведен- 5 подключения короткозамыкателя.

Составитель А.Пржебельский

Редактор А.Ревин Техред Л.Олнйных

Заказ 2152/46Тираж 714Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

ной вторичной ЗДС, мал. При этом генератор 1 работает в нормальном автоколебательном режиме и от источника 10 потребляется ток, который вызывает свечение индикатора 8. Если испытуемый элемент 11, на вывод которого накладывается разъемный магнитопро- вод 5, пробит, то автоколебания в генераторе 1 срываются из-за уменьшения коэффициента обратной связи. При этом транзисторы генератора 1 запираются, ток от источника 10 не потребляется и индикатор 8 не светится.

Формула изобретения

ключают короткозамыкатель, а тестовую ЭДС наводят в выводе испытуемого элемента (между его корпусом и методом

Корректор Э.Лончакова