Известны способы измерения контактной разности потенциалов электронных ламп методом тока насыщения (см. Б. М. Царев «Контактная разность потенциалов, 1955 г., стр. 107).
Недостатком этих способов является сложность процесса измерения и низкая точность. Объясняется это необходимостью проведения трудоемких графических построений и поддержания постоянной температуры катода.
Предложенный способ лишен указанного недостатка. Сущность изобретения заключается в том, что величина контактной разности потенциалов определяется как величина анодного напряжения, которое соответствует максимальному значению крутизны анодной характеристики лампы при глубоком недокале.
На чертеже изображена схема для измерения контактной разности потенциалов электронных ламп, согласно предложенному способу.
На подогреватель испытуемой лампы / подается напряжение, пониженное до 20-30% от номинального значения. В цепь анода лампы включено сопротивление 2, величина которого составляет 2-10 ком. На анод испытуемой лампы подается постоянное напряжение, величину которого можно плавно изменять от нуля до 2 в, и переменное напряжение низкой частоты. Переменное напрял ение на анодной нагрузке лампы измеряется ламповым вольтметром 3. Для этой цели удобен усилитель типа «28-И. Постоянное напряНСение измеряется ламповым вольтметром 4, например, типа «А4-М2. При повышении анодного напряжения от нуля крутизна экспоненциального участка характеристики непрерывно растет и достигает максимума у точки перехода анодной характеристики в режим насыщения. Затем крутизна быстро падает, так как анодная характеристика в режиме насыщения идет очень полого. Максимум выходного напряжения соответствует максимальной крутизне характеристики. Его величина определяется с помощью выходного усилителя 5- Соответствующее этому максимуму анодное напряжение фиксируется на усилителе по обложению его стрелки.
Предложенный способ не требует снятия характеристик по точкал и графических построений. Он позволяет отсчитывать величину контактной разности потенциалов с помощью стрелочного прибора.
Предмет изобретения
Способ измерения контактной разности потенциалов электронных ламп методом тока насыщения, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерений при повыщении их точности, величину контактной разности потенциалов определяют как величину анодного напряжения, соответствующего максимальному значению крутизны анодной характеристики лампы при глубоком недокале.
iirrill
