Устройство для измерения динамических деформаций Советский патент 1989 года по МПК G01B7/16 

6 ,, 3

и

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения высокоскоростных пластических деформаций. Целью изобретения является повышение точности измерений за счет увеличения чувствительности. Устройство для измерения динамических деформаций содержит два тензорезистора 1 и 4, испытывающих одновременно одни и те же динамические деформации, источник 2 отрицательного тока, соединенный параллельно с первым тензорезистором 1 "плюсом"-к общему проводу, "минусом"-к первому выходному проводу 3, источник 5 положительного тока, соединенный параллельно с вторым тензорезистором 4 "минусом"-к общему проводу, "плюсом"-к второму выходному проводу 6.

о

| I /

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения высокоскоростных пластических деформаций в эле- ментах конструкций.

Цель изобретения - повышение точности за счет увеличения чувствительности тензорезисторов, испытывающих одновременно один вид деформиро- ванияо

На чертеже изображена функциональная схема устройства

Устройство для измерения динамических деформаций содержит первый тензорезистор 1 и параллельно соединенный с ним первый источник 2 отрицательного тока, минус которого и первый вывод первого тензорезисто- ра 1 соединены с первым выходным проводом 3, а плюс и второй вьгеод первого тензорезистора 1 соединены с общим проводом, второй тензорезистор 4 и параллельно соединенный с ним второй источник 5 положительного тока, плюс которого и первый вывод второго тензорезистора 4 соединены с вторым выходным проводом 6, а минус и второй вывод второго тензорезистора 4 соединены с общим прово- дом, два разделительных конденсатора 7 и 8, первые обкладки которых соединены с выходными проводами 3 и 6 соответственно, а вторые обкладки конденсаторов 7 и 8 соединены с вхо- дами дифференциального усилителя (не доказан)о Тензорезисторы 1 и 4 установлены в одной измерительной точке исследуемой конструкции и испытьгаают одновременно один вид деформирова-

НИН с,

Устройство работает следующим образом

В режиме покоя одинаковые по величине токи источников 2 и 5 тока,про- текая через тензорезисторы 1 и 4, содают на них падение напряжения с Ток, вытекающий из источника 5 положительного тока, проходит только через тен зореэистор 4 в направлении к общему проводу, а ток источника 2 отрицательного тока проходит только в направлении от общего провода через тензорезистор 1 к первому выходному проводу 3. При такой схеме включения тензорезисторов 1 и 4 каждый источни 2,5 тока создает в соответствующем ему тензорезисторе рабочий ток 1| 1 I рае падение напряжения U( N4 и,а при равенстве сопротивлений тензорезисторов 1 и 4 R, R и их приращений ЛК, йН UR,получаем . l(R ( + + &Н,) + I(R + uR) I . .&R + + I 2Ro

В связи с тем, что тензорезисторы 1 и 4 установлены на элементах конструкции в одной измерительной точке рядом, параллельно друг другу в одной плоскости, то динамическое деформирование конструкции вызывает синфазное.изменение их сопротивле- ний„ Это, в свою очередь, ведет к появлению на них противофазных импульсных напряжений, которые через разделительные конденсаторы 7 и 8 подаются на входы дифференциального усилителя.

Формула изобретения

Устройство для измерения динамических деформаций, содержащее два тензорезистора и два источника тока параллельно соединенных с соответствующими тензорезисторами, одни выводы источников тока и тензорезисторов объединены общей щиной, а другие соединены в первый и второй выходные провода соответственно, о т- личающееся тем, что, с целью повьщтения точности за счет увеличения чувствительности тензорезисторов, испытывающих одновременно один вид деформирования, первый источник тока соединен с первым тен- зорезистором плюсом - к общему проводу, минусом - к первому выходному проводу, а второй источник тока соединен с вторым тензорезис- тором минусом - к общему проводу, плюсом - к второму выходному проводу.