1
(21)4117056/31-25
(22)12.09.86
(46) 15.08.89. Бкш. № 30
(71)Северо-Западный заочный политехнический институт
(72)А.И.Потапов, С.С.Михейкин, В.В.Коннов и С.М.Ильичев
(53) 621.383(088.8 )
(56)Ощепков П.К. Контроль качества изделий методом тепловых полей.- Дефектоскопия. 1969, f 1, с. 125-127.
Клопов В.Д. и др. Оптический дефектоскоп.- Дефектоскопия. 1982, № 3, с. 17.
.(54) УСТРОЙСТВО ОПТИЧЕСКОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ НЕМЕТАЛЛИЧЕСКИХ КОНСТРУКЦИЙ
(57)Изобретение относится к строительству и машиностроению, конкретно к методам дефектоскопии строительных материалов и конструкций из неметаллов, например пластиков, позволяет
определять величину и положение дефекта, оценивать раскрыв и может быть использовано при контроле изделий с переменной толщиной. Цель изобретения - повышение точности и надежности дефектоскопии изделий. Излучение злектромагнитной энергии, которой облучают исследуемьш объект, формируют в .виде импульсов,, экспоненциально спадающих во времени, принимают прошедшее через объект излучение дифференциальным фотоприемником, формируют постоянное напряжение, ранное по амплитуде меньшему сигналу дифференциального фотоприемника, сравнивают его С экспоненциально спадающим сигналом фотоприемника большей амплитуды и по результатам сравнения формируют прямоугольный импульс, по длительности которого определяют наличие и размеры дефекта. 1 ил.
СО
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство неразрушающего контроля параметров колебаний строительных изделий | 1987 |
|
SU1467401A1 |
Способ измерения перемещения объекта и устройство для его реализации | 1984 |
|
SU1195184A1 |
Устройство для измерения перемещений объекта | 1989 |
|
SU1681168A1 |
Фотоэлектрический способ измерения положения объекта и устройство для его осуществления | 1986 |
|
SU1368632A1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПРОЕКЦИОННЫХ РЕНТГЕНОВСКИХ СНИМКОВ И УСТАНОВКА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2013 |
|
RU2545338C1 |
ДЕФЕКТОСКОП | 2008 |
|
RU2375702C1 |
ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ К ДЕФЕКТОСКОПУ ДЛЯ ТЕПЛОВОГО КОНТРОЛЯ | 1990 |
|
RU2088897C1 |
Влагомер | 1981 |
|
SU960591A1 |
Способ измерения температруы | 1978 |
|
SU706712A1 |
Устройство для измерения развесалЕНТы | 1978 |
|
SU796257A1 |
Изобретение относится к строительству и машиностроению, конкретно к методам дефектоскопии строительных материалов и конструкций из неметаллов, например пластиков, позволяет определять величину и положение дефекта, оценивать раскрыв и может быть использовано при контроле изделий с переменной толщиной. Цель изобретения - повышение точности и надежности дефектоскопии изделий. Излучение электромагнитной энергии, которой облучают исследуемый объект, формируют в виде импульсов, экспоненциально спадающих во времени, принимают прошедшее через объект излучение дифференциальным фотоприемником, формируют постоянное напряжение, равное по амплитуде меньшему сигналу дифференциального фотоприемника, сравнивают его с экспоненциально спадающим сигналом фотоприемника большей амплитуды и по результатам сравнения формируют прямоугольный импульс, по длительности которого определяют наличие и размеры дефекта. 1 ил.
Изобретение относится к контролю качества строительных материалов и конструкций и может быть использовано при дефектоскопии строительных материалов и неметаллических конструк- ций, например, из древесины, пласт- масс, композитов, а также при контроле изделий с переменной толщиной,
Цепью изобретения является повы- .шение точности и надежности дефектоскопии разнотолщинных изделий.
На чертеже представлена оптико- электронная схема предлагаемого устройства.
Устройство содержит оптически связанные источник 1 излучения и расположенные по ходу излучения проекционный 2 и фокусирующий 3 объективы, а также генератор 4 экспоненты и источник 5 тока, выполняющие функцию модулятора излучения, фотоприемник 6, вьтолненный дифференциальным, содержащим два фотодиода 7 и 8, источник 9 запирающего напряжения, последовательно включенные первый усилитель 10, первый пиковый детектор 11, первый пороговый элемент 12 и последова- тельно включенные второй усилитель
31500921
второй пиковый детектор 14, второй пороговый элемент 15„
При одноименные электроды фотодиодов 7 и 8 подключены в обратном направлении к источнику 9 запирающего напряжения, а их вьэсоды подключены к входам первого 10 и второго 13 уси лителей соответственно, причем выход
При попндании в поле зрения фотоприемника 6 дефекта величины световых потоков, попадающих на фотодиоды 7 и 8 дифференциального фотоприемника 6, будут различны. При этом различными и амплитуды фотоэлектрических
сигналов и
в1
и и
Если по амплитуде меньшего сигнапервого усилителя 10 подключен к вхо-Ш ла (например, U) сформировать пое01/
ду второго порогового элемента 14, выход второго усилителя 13 подключен к входу первого порогового элемента 12, источник 5 тока подключен выходо к источнику 1 излучения, а по управ- ляющему входу - к вьгходу генератора 4 экспоненты, причем пороговые элементы 12 и 15 выполнены в виде компараторов ,
Устройство работает следующим об- разом.
Генератор 4 экспоненты фop шpyeт последовательность импульсов напряжения, экспоненциально спадающих во времени. Источник 5 тока, управляе- мый напряжением генератора 4, формирует экспоненциально спадающие импульсы тока, которые преобразуются источником 1 света в световые сигналы, экспоненциально спадающие во вре мени. Световой поток от источника 1 света поступает на входной зрачок проекционного объектива 2 который форг-жрует световое пятко на поверхности контролируемого объекта 16, Прошедший через объект 16 световой поток собирается фокусирующим объективом Зд который формирует изображение светового потока в плоскости диф ференциапьного фотоприемника 6. С учетом линейности передаточной характеристики фотодиодов 7 и 8 в фотоди- рдном режиме работы элементы дифференциального фотоприемника 6 руют экспоненциально спадающие фото- электрические сигнз-лы
1(о.). -i), (1)
де и
ai(ог)
амплитудное значение сигналов фотодиодов 7 и 8 дифференциального фотоприемника j tg - начальный момент времени излучения; t ,- текущее значение вре- -2 „ постоянная времени экспоненциально спадающих сигналов.
При попндании в поле зрения фотоприемника 6 дефекта величины световых потоков, попадающих на фотодиоды 7 и 8 дифференциального фотоприемника 6, будут различны. При этом различными и амплитуды фотоэлектрических
сигналов и
в1
и и
Если по амплитуде меньшего ла (например, U) сформировать пое01/
тоянное напряжение и сравнить с ним экспоненциально спадаюш 1й сигнал большей амплитуды (например, U,.,(t)), то условие совпадения сигналов будет определяться вьфажением
Uo,
ехр(
to- ti
),
(2)
где
t
момент совпадения сигналов по заднему фронту импульса. Решая уравнение (2) относительно временного интервала (tj, - t,), получаем выражение
dt (t t,)
- fin . (3)
Uo.
С учетом зависимости амплитуды фотоэлектрических сигналов от интенсивности прошедшего светового потока
Е.
,ф, квантовой эффективности фотоприемников /J, площади освещенного чувствительного слоя S ф, и S ф для и О1 и и, имеем
и
01 (oil
Eg/JS 1()0(4)
С учетом (4) и (3) получаем соотношение для временного интервала. 4t
ut -fin If. S ф1
(5)
Выражение (5) показывает, что выделенный временной интервал t пропорционален отношению освещенных площадей фотодиодов 7 и 8 и не зависит от интенсивности прошедшего через объект светового потока.
При отсутствии дефекта в поле зрения фотоприемника 6 оба фотоприемника освещены одинаково U и t 0.
Пиковые детекторы 11 и 14 формируют постоянное напряжение, равное амплитудам фотоэлектрических сигналов, которое поступает на входы компараторов 12 и Т5. На другие входы компараторов 12 и 15 поступают экспоненциально спадающие сигналы от усилителей 10 и 13. При совпадении на входах одного из компараторов указанных сигналов, на его выходе формируется прямоугольный импульс, длитель12
Н-о
15
Авторы
Даты
1989-08-15—Публикация
1986-09-12—Подача