Изобретение относится к методам исследования или анализа материалов и изделий путем исследования характеристик газового разряда, в частности к устройствам для визуализации в поле токов высокой частоты.
Цель изобретения - повышение точности контроля за счет снижения фонового свечения разрядов в периферийных каналах.
Цель достигается за счет того, чтс неоднородность поля у края пластины компенсируется повышением пробивного напряжения и достигаются одинаковые условия зажигания разряда в центральных и периферийных микроканалах, т.е. устраняемся фоновое свечение по периметру пластины, что повышает качество визуализации поверхности объекта.
На чертеже изображено предлагаемое устройство.
Устройство содержит оптический регистратор 1, расположенный над прозрачной обкладкой 2 конденсатора, на внутренней поверхности прозрачной обкладки 2 размещена непрозрачная ди- ,электрическая пластина 3 со сквозными микроканалами 4, заполненными инертным газом при пониженном давлении. Непрозрачная диэлектрическая пластина 3 с обеих сторон покрыта тонкой оптически прозрачной диэлектрической пленкой 5, герметизирующей микроканалы 4 (согласно одному из васд
ОЭ
со ю го
риантов выполнения пластины диэлектрическая пленка 5 может наноситься в несколько приемов, что и показано на чертеже). В качестве второй обкладки конденсатора используют плоский проводящий объект 6 с поверхностными неоднородностями 7.
Устройство работает следующим образом.
В процессе визуализации оптический регистратор 1 вместе с прозрачной обкладкой 2 конденсатора перемещают по исследуемой поверхности объекта 6, а на обкладку 2 конденсатора и объект 6 подают напряжение с генератора токов высокой частоты (не показан). При этом в микроканалах 4, попадающих на участки поверхности объекта 6 с неоднородностями 7, зажигается светящийся разряд, не распространяющийся на соседние микроканалы из-за непрозрачности материала диэлектрической пластины 3, что позволяет достичь высокой разрешающей способности устройства (/v диаметра микроканалов), а применение для заполнения микроканалов инертного газа при пониженном давлении (100 мм рт.ст.) позволяет снизить необходимую величину приложенного напряжения. Наличие краевой зоны (с повышенным, по сравнению с центром пластины 3, давлением инертного газа в микроканалах) по периметру диэлектрической пластины 3 устраняет свечение разрядов в периферийных микроканалах, обусловленное неоднородностью поля, вносимой краями прозрачной обкладки 2 конденсатора, так как и в неоднородном поле имеет место зависимость пробивного напряжения от давления (аналогичная закону Пашена в однородном поле), хотя ее конкретный вид (как и вольт-амперной характеристики1 разряда) определяется формой электродов (включая шероховатость) и поэтому ее гораздо легче определить экспериментально, чем рассчитать. Наибольшее давление газа в микроканалах должно быть выбрано так, чтобы напряжение пробоя газа в микроканалах было ниже напряжения зажигания разряда (коронного или скользящего) в воздухе у края диэлектрической пластины 3.
Устройство может быть реализовано, например, следующим образом.
Можно предложить разные варианты практической реализации.
Герметизируют всю поверхность ластины (диэлектрической пленкой 5)- при определенном (минимальнбм) давлении, помещают ее на бездефектную поверхность объекта, подносят сверху прозрачной электрод до касания поверхности пленки 5, подают напряжение и отмечают краевую зону с
фоновым свечением, затем снимают электрод и часть диэлектрической пленки 5 над краевой зоной, повышают давление инертного газа и вновь герметизируют краевую зону. Процесс
5 может быть повторен для более узкой краевой зоны.
Пластину 3 с микроканалами 4 и нанесенной с одной стороны диэлектрической пленкой 5 помещают на поверхQ ность объекта, выполненного в виде плоского прозрачного электрода (диэлектрическая пластина с прозрачным токопроводящим покрытием), с другой стороны к пластине подносят второй
5 прозрачный электрод, подают на электроды напряжение и подвергают пластину неоднородному по поверхности нагреву (например, лучом лазера) через прозрачный электрод; регулируя
Q (с помощью оптической системы) распределение интенсивности луча лазе- , ра, т.е. распределение температуры по поверхности пластины, получают необходимое распределение давления инертного газа в микроканалахj результат контролируют по распределению свечения через прозрачный электрод.
)
5
Применение предлагаемого устройства позволяет по сравнению с прототипом повысить качество визуализации за счет снижения фонового свечения в краевых микроканалах, а также повысить информативность получаемых изображений за счет выравнивания условий зажигания разряда в центральных и периферийных микроканалах .
Формула изобретения
Устройство для визуализации электрических неоднородностей плоских объектов, содержащее источник напря- жения, соединенный с разрядным конденсатором, одна обкладка которого выполнена прозрачной, диэлектрическую пластину со сквозными каналами,
515397226
помещенную между обкладками конден- кой пластине выполнена краевая зона,
расположенная по ее периметру с шириной не менее двух толщин пластины, давление инертного газа в микрокана г. лах которой возрастает по направлению
сатора, оптический регистратор, расположенный с внешней стороны прозрачной обкладки, отличающееся
тем, что, с целью повышения точности контроля за счет снижения фонового свечения разрядов в периферийных каналах, на диэлектрическ краю пластины, а напряжение пробоя в газе меньше, чем напряжение пробоя в воздухе.
к краю пластины, а напряжение пробоя в газе меньше, чем напряжение пробоя в воздухе.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для визуализации электрических неоднородностей плоских объектов электрическим полем | 1981 |
|
SU1003005A1 |
ИМПУЛЬСНЫЙ РАДИАЦИОННО-ОПТИЧЕСКИЙ ГАЗОРАЗРЯДНО-ЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ | 1998 |
|
RU2152104C1 |
ГАЗОРАЗРЯДНЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ РАДИАЦИОННОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ В ВИДИМОЕ | 2006 |
|
RU2333566C2 |
Устройство для высокочастотного фотографирования электрических неоднородностей объектов с гладкой поверхностью | 1982 |
|
SU1096602A1 |
Способ контроля объектов с рифленой поверхностью в электромагнитном поле высокой напряженности | 1990 |
|
SU1770944A1 |
ГАЗОРАЗРЯДНАЯ ЛАМПА | 1996 |
|
RU2120152C1 |
Система для визуализации микроволнового излучения путем регистрации изображения инициированного микроволнового пробоя газа | 2021 |
|
RU2761984C1 |
ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИЙ ВИЗУАЛИЗАТОР И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ | 2014 |
|
RU2558387C1 |
Устройство для фотографирования в электромагнитных полях высокой напряженности | 1985 |
|
SU1324005A1 |
Устройство для обнаружения дефектов на внутренней поверхности осесимметричных отверстий и труб | 1982 |
|
SU1103071A1 |
Изобретение относится к методам исследования или анализа материалов и изделий путем исследования характеристик газового разряда и может быть использовано для неразрушающего контроля материалов и изделий. Применение устройства позволяет повысить точность оценки поверхности объекта. Устройство для визуализации электрических неоднородностей плоских объектов содержит источник напряжения, соединенный с его выводными клеммами разрядный конденсатор с прозрачной обкладкой и помещенной между поверхностью объекта и прозрачной обкладкой непрозрачной диэлектрической пластиной со сквозными микроканалами, заполненными инертным газом. Диэлектрическая пластина содержит краевую зону шириной не менее двух толщин пластины, причем давление инертного газа в микроканалах краевой зоны возрастает по направлению к краю пластины. 1 ил.
5
S
I
tob
w
Устройство для визуализации электрических неоднородностей плоских объектов электрическим полем | 1981 |
|
SU1003005A1 |
Переносная печь для варки пищи и отопления в окопах, походных помещениях и т.п. | 1921 |
|
SU3A1 |
Авторы
Даты
1990-01-30—Публикация
1987-01-19—Подача