Устройство для измерения перемещений Советский патент 1990 года по МПК G01B11/00 

Описание патента на изобретение SU1560068A3

Изобретение относится к измерительной технике, к устройствам для измерения относительных перемещений, основанным на использовании интерференционных муаровых полос, по которым можно измерять линейные и угловые перемещения.

Целью изобретения является повышение разрешающей способности за счет использования дифракционных решеток с шагом 40 мкм.

На Фиг.1 изображена оптическая схема устройства; на фиг.2 - отсчет- ная решетка, Фрагмент; на Аиг.З - оптическая диаграмма устройства.

Устройство содержит источник Г оптического излучения и последовательно установленные по ходу излучения

коллимирующую линзу 2, прозрачную решетку 3, скрепляемую с одним из объектов, выполненную с зубчатым профилем, отношение ширины зубцов к расстоянию между ними а:Ъ отлично от 1:1, и высотой h зубиа, отличной от модуля решетки, отражательную масштабную решетку 4, скрепляемую с другим объектом, и три детектора 5-7, расположенные со стороны источника 1 излучения в фокальной плоскости линзы 2 в зоне Формирования нулевого порядка и положительного и отрицательного первых порядков дифракционного изображения. Каждый зубец профиля прозрачной решетки может иметь плоскую или сводчатую вершину.

сл

О

о

00

си

Устройство работает следующим образом.

При освещении прозрачной и отражательной решеток 3 и 4 пучком излуче- ния от источника 1 изображение прозрачной решетки 3, Скрепляемой с объектом, взаимодействует с отражательной решеткой 4, что приводит к образованию интерференционной картины. На фиг.З отражающая решетка 4 показана в виде пропускающей для упрощения описания траектории оптических вогчо- вых фронтов и соответствующих им . фаз. Тогда две других решетки фактически образуют прозрачную решетку 3 по Лиг.1. Входной луч расщепляется решеткой 3 на нулевой и первые порядки диЛракции, задерживаемые на V радиан относительно нулевого порядка. На решетке 4 первый порядок задерживается на величину Q радиан, что приводит к нулевой фазе волнового фронта 8, к фазе 2у волнового Лрон- та 9 первого порядка и к фазе 2 у волнового фронта 10 первого порядка. Сдвиг фаз величиной 120 между тремя волновыми фронтами 8-10 для трех детекторов 5-7 обеспечивает максимальную точность сигналов с детекторов, что достигается выполнением прозрачной решетки 3 с зубчатым профилем, отношение ширины зубцов к расстоянию между ними а:Ъ отлично от 1:1, и высотой h зубца, отличной от модуля ре- шетки, для получения нужного гЬазового разнесения и глубины модуляции сигналов с детекторов 5-7, выходные электрические сигналы с которых дают значение направления и величины смешения объектов.

Высокая разрешающая способность достигается за счет использования решеток с мелким шагом (порядка 40 мкм) что является результатом выбора отношений ширины каждого зубиа к ширине зазора между смежными зубиами.

Формула изобретения

1.Устройство для измерения перемещений двух объектов, содержащее источник оптического излучения и последовательно установленные по ходу излучения коллимирующую линзу, прозрачную решетку, скрепляемую с одним из объектов, и отражательную масштабную решетку, скрепляемую с другим объектом, и три детектора, расположенных со стороны источника в Локальной плоскости линзы в зоне формирования нулевого порядка и положительного и отрицательного первых порядков дифракционного изображения соответственно, отличающееся тем, что, с целью повышения разрешающей способности, прозрачная решетка выполнена с зубчатым профилем, отношение ширины зубцов к расстоянию между ними отлично от 1:1, и высотой h зубца, отличной от модуля решетки.

2.Устройство по п.1, отличающееся тем, что каждый зубец профиля прозрачной решетки имеет плоскую вершину.

i

3.Устройство по п. , отличающееся тем, что каждый зу- беи профиля прозрачной решетки имеет сводчатую вершину.

Похожие патенты SU1560068A3

название год авторы номер документа
Устройство для измерения относительных перемещений двух объектов 1984
  • Роберт Мартин Петтигрю
SU1450761A3
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ СТРУКТУРЫ ДЛЯ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКИ (ВАРИАНТЫ), ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА, ДИНАМИЧЕСКАЯ ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА 2018
  • Муравьев Николай Викторович
  • Пискунов Дмитрий Евгеньевич
  • Рю Чжэел
RU2695937C1
ДАТЧИК ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ 1993
  • Дич Л.З.
  • Егоров Г.В.
  • Латыев С.М.
  • Митрофанов С.С.
RU2086913C1
ИНТЕРФЕРОМЕТР С ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКОЙ 1972
SU358611A1
Дифракционный интерферометр 1989
  • Четкарева Лидия Эммануиловна
SU1818547A1
ФОРМИРОВАНИЕ ИЗОБРАЖЕНИЙ ПРИ СТРУКТУРИРОВАННОМ ОСВЕЩЕНИИ С ПРОСТРАНСТВЕННЫМ ВЫБОРОМ УГЛА РИСУНКА 2019
  • Ньюман, Питер, Кларк
  • Конделло, Данило
  • Лу, Шаопин
  • Принс, Саймон
  • Сиу, Мерек, С.
  • Хун, Стэнли, С.
  • Лю, Аарон
RU2740206C1
СПЕКТРОСКОПИЧЕСКОЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО 2013
  • Исимару Итиро
RU2617555C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК 1992
  • Ян Карл Буэринг
  • Дэниэл Мэнсфилд
RU2124701C1
УЧЕБНО-ДЕМОНСТРАЦИОННАЯ УСТАНОВКА ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ЯВЛЕНИЙ И ТЕСТ-ОБЪЕКТ ДЛЯ ЕЕ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2014
  • Алексеев Сергей Андреевич
  • Стафеев Сергей Константинович
RU2567686C1
СПЕКТРОСКОПИЧЕСКОЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО 2013
  • Исимару Итиро
RU2606455C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 560 068 A3

Реферат патента 1990 года Устройство для измерения перемещений

Изобретение предназначено для измерения относительных перемещений. Цель - повышение разрешающей способности за счет использования дифракционных решеток с шагом 40 мкм. При освещении решеток, одна из которых прозрачная, скрепляется с объектом и выполнена с зубчатым профилем, соотношение ширины зубцов и расстояния между ними отлично от 1:1, и высотой H зубца, отличным от модуля решетки, а другая - отражательная и скрепляется с другим объектом, формируется интерференционная картина, регистрируемая с помощью детекторов, расположенных соответственно в зоне формирования нулевого, положительного и отрицательного первых порядков дифракционного изобретения. По электрическим сигналам с детекторов судят о направлении и величине перемещения. 2 з.п. ф-лы, 3 ил.

Формула изобретения SU 1 560 068 A3

Фие.1

Ь

а

Фие.2

PHASE --2Ф

8

. PHASE 0

10

§Г PHASE 2Ф

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1990 года SU1560068A3

Оптика и спектроскопия, 1963, 14, 406.

SU 1 560 068 A3

Авторы

Роберт Мартин Петигру

Даты

1990-04-23Публикация

1985-05-24Подача