Устройство для измерения высокого напряжения Советский патент 1990 года по МПК G01R19/00 

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к технике измерений высокого напряжения о

Цель изобретения - повышение точности измеренийо

На чертеже приведена функциональная схема устройства

Устсойство содержит источник 1 излучения, поляризатор 2-1 и анализатор 2-2, электрооптическую ячейку Керра 3, пространство между электродами которой.заполнено веществом, обладающим поперечным электрооптическим эффектом, призмы 4, обеспечи- ваюацсе однородность электрического поля в оптически активной зоне и фик- сируюр ие геометрические размеры этой зоны, диэлектрические зеркала 5, нанесенные на поверхности призм 4 и

обеспечивающие многократное прохождение луча 6 через оптически активную зону, фотоприемник 7, регистри рующий блок 8 и фазовую пластину 9, Устройство работает следую1 щм об разомо

Луч 6 от источника 1, приобретя необходимую ориентацию плоскости поляризации в поляризаторе 2-1, проходит прозрачное окно призмы 4 и попадает в оптически активную зону ячейки Зо Отражаясь зеркалами 5, луч многократно проходит через оптичесуКи активную зону ячейки 3, при этом

фазовый сдвиг, приобретаемый лучом в электрическом поле, увеличивается от прохождения к прохождениюо Пройдя через прозрачное окно npH3Nibi 4 и фазовую пластину 9, компенсирующую

СП со со vl

00 О5

влияние многократных отражений от зеркал 5, луч попадает на анализатор 2-2, где происходит преобразование фазовой модуляции луча в ампли- тудную. Интенсивность вьшедшего из анализатора 2-2 света преобразуют фотоприемником 7 в электрический сигнал и регистрируют блоком 8

благодаря тому, что луч лишь од- проходит через призмы А ячейки 3, ;|гменьшаются потери света за счет поглощения в призмах и из-за много- чиа|1енных переотражений на поверхностях I раз дела сред с различной оптичес кой плотностью, а также исключаются погрешности, обусловленные влиянием nap i 3MTHbrx отраженных лучей, деполя- и изменением состояния поляризации луча при многократном про- через призмы 4 Фо рму ла изобретения

Устройство для измерения высокого напряжения, содержащее оптичес-

ки последовательно связанные источник излучения, поляризатор, злектрическую ячейку, фазовую пластину, анализатор, регист- рирую1Щ1й блок, причем электрооптическая ячейка выполнена в виде плоского конденсатора, содержит отражательные злемеаты и заполнена веществом, проявляющим поперечный электрооптический эффект, отличающийся тем, что,с. целью повьштения точности измерений, в состав электрооптической ячейки введены призмы, установленные между пластинами плрского конденсатора и ограничивающими его i внутренний объем, на внутренней боковой поверхности каждой из призм выполнены диэлектрические зеркала, служащие отражательными элементами, и прозрачные окна, прозрачное окно первой призмы оптически связано с оптическим выходом поляризатора, а прозрачное окно второй призмы - с оптическими входом фазовой пластины.

Изобретение относится к метрологии и может быть использовано при создании образцовых средств измерений высокого напряжения, а также при исследовании электрооптических свойств жидких и газообразных веществ. Цель изобретения - повышение точности измерения высокого напряжения - достигается путем нанесения диэлектрических зеркал на внутренние поверхности призм, обращенные к рабочей среде ячейки Керра. Призмы выполняют функции отражательных элементов и одновременно ограничивают рабочий объем ячейки, при этом в отражательном покрытии зеркала оставлены прозрачные окна для ввода и вывода луча. 1 ил.