Изобретение относится к технике измерения температуры и может быть использовано для многоточечного измерения температуры тепловых полей с помощью малогабаритных и высоко- чувствительных транзисторных термодатчиков.
Цель изобретения - повышение точности измерения температуры транзисторными термодатчиками путем исключения влияния двух параметров p-n-перехода на результат измерения .
На чертеже представлена схема устройства, реализующая способ определения температуры транзисторным
термодатчиком.
Устройство содержит источник 1 стабилизированного постоянного напряжения, к выходу которого подключены калиброванные резисторы 2-5, .выходы которых через мультиплексор 6 подключены к инвертирующему входу операционного усилителя 7,в цепь обратной связи которого включен транзистор 8. К выходу операционного усилителя 7 подключен через усилитель 9 постоянного тока аналого- цифровой преобразователь 10, кодовые выходы которого через интерфейс ввода-вывода подключены к шине данных микроЭВМ 11. К этой же шине
& 4
ел
оо
СЛ
GO
через интерфейс с вывода подключены кодовые входы цепи управления мультиплексора 6 блока 12 индикации.
Сущность способа заключается в
следующем.
Через открытый p-n-переход транзисторного термсЗдатчика, размещен- чого в контролируемом тепловом поле, пропускают ток соответствующий минимальному значению тока ВАХ, и измеряют падение напряжения на переходе
rkTT
l -.lnU,/I9).
(О
где Т - абсолютная температура перехода;К - постоянная Больцмана;
q Ч - г
заряд электрона;
ток насыщения; параметр, зависящий от концентрации носителей и ее профиля в р-п-переходе. Увеличивают ток через переход до значения I-, при котором можно зарегистрировать новое значение падения напряжения U на переходе. При этом приращение падения напряжения должно превышать максимальную случайную погрешность измерения напряжения,вызываемую шумами транзистора
VVutW S&u (2)
где & I)2 - дисперсия случайных отклонений флюктуирующего напряжения относительно среднего значения; Об- коэффициент, связывающий
среднеквадратическое отклонение (СКО) с максимальной погрешностью и зависящий от доверительной вероятности.
Так, при нормальном законе распределения отклонений флюктуирующего напряжения от среднего и вероятности ,997 коэффициент06 3.
ч
Для обеспечения надежной регистра
50
ции с учетом действия других дестабилизирующих факторов на падение напряжения перехода коэффициент оЈ выбирают с запасом из условия:
10 С - 20 .(3) 55
В соответствии с условием О) увеличивают ток перехода до значения 2, при котором пачение напряжения
, - ln(I2/T5), (А)
где СКО ( j&l)2) определяется типом транзистора, используемого в качестве термодатчика.
По результатам измерений падений напряжений от двух близких по значению токов I и Ig определяют разность падения напряжений на переходе транзистора
гКТ
iU,U2-U, --- ln(I2/I,)
(5)
15
По разности напряжений (5) определяют приближенное значение температуру контролируемой среды
т )
Увеличивают ток через переход до максимального значения ВАХ Ij, которое вызывает дополнительный нагрев перехода транзистора. Измеряют падение напряжения на перегретом переходе
и.
ЕА1ЈЛА.Ы Щ(1я/т ), (7)
0
5
35
40
45
50
5
где &Т( - температура перегрева перехода транзистора. Температура перегрева перехода термодатчика пропорциональна электрической мощности, рассеиваемой на переходе, и его тепловому сопротивлению относительно окружающей среды. Если тепловое сопротивление RT имеет размерность град/мВт, то температура перегрева
ДТ( U3 I ,RT.(8)
Уменьшают ток через переход до значения Т., при котором можно зарегистрировать новое значение падения напряжения
vv,JfS . ййаы ,,
где ДТЈ - перегрев перехода при токе Ц.
В соответствии с выражением (8) переiре в при гоке I.
UT2 14 I4 RT ,(10)
Учитывая, что токи I - и 1 близки по значении, можно в формулах (7) и (9) замечи п. перегревы АТ| и А Т одним средним перегревом
У ЬрИКт1. (П)
Тогда падения напряжений от токов 1 и 1 можно представить в виде:
U;
гК(И-ДТ)
1п(1./1), (12) q J 5
гК(Т+ДТ)
ln(U4/I5), (13)
45853
Из отношения (19) определяют точное значение температуры контролируемой
среды
(Uj-tbnnUi/li). : ,
(npu rna r -d s-ujlnr /r) ь u
С учетом значения Д.Т из (11) из- меряемую температуру определяют из соотношения
10
(Ui-uOin(ij/ii) (uf-uJTina У-(иг:и;)Гп(т;71)
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ определения профиля поля скоростей текучей среды и устройство для его осуществления | 1991 |
|
SU1786440A1 |
Способ определения температуры и влажности воздуха и устройство для его осуществления | 1990 |
|
SU1783400A1 |
СПОСОБ ЦИФРОВОГО ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 1990 |
|
RU2025044C1 |
Устройство для регистрации температуры | 1978 |
|
SU742724A1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕРАВНОМЕРНОСТИ ТЕМПЕРАТУРНОГО ПОЛЯ | 1992 |
|
RU2051342C1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 1992 |
|
RU2089863C1 |
Устройство с вольт-амперной характеристикой S-типа | 1991 |
|
SU1826125A1 |
Термоанемометр | 1990 |
|
SU1720020A1 |
Устройство для защиты объекта от перегрева | 1986 |
|
SU1352581A1 |
Устройство для измерения температуры (его варианты) | 1983 |
|
SU1151834A1 |
Изобретение относится к термометрии и позволяет повысить точность измерения температуры транзисторными термодатчиками путем исключения влияния двух параметров p-n-перехода на речультат измерения. В контролируемом тепловом поле размещают транзистор, через р-п-переход которого поочередно пропускают два близких по значению тока, соответствующих минимальным значениям токов вольт-амперной характеристики (ЬАХ) транзистора. Затем узекичинлют ток черрз переход тран- зисторя до макс-r .лльных значений ВАХ. падение напряжения на переходе транзистора nj:n каждом значении пропускаемого тока. Но измеренным тнзчениям определяют температуру среды. МикроЭВМ управляет очередностью пропускания токов через транзистор, принимает полученные значения падении напряжения к вычисляет искомое значение температуры среды. 2 с.п. ф-лы, 1 ил. i (Л
Спределяют разность падении от двух близких по значению токов
Диг и, - и4
rK()
q
in (i3/i4) .
По разности падений напряжении (14) определяют значение температуры перегретого перехода
Т 4 ЬЛ
А1 2
(15)
условия
rKln(T3/I4)
С учетом температуры окружающей среды (6) вычисляют температуру перегрева термодатчика по формуле
. т q Г AUi
Л1 ГК 1п(137 J Tn(I2/J, )J
( 1f
Сопоставляют температуру перегрева перехода транзистора ДТ с температурой окружающей среды Т. Выбирают значение тока таким, чтобы температура перегрева ДТ не превышала (5-10%) от верхнего предела диапазона контролируемых температур.
При выбранном значении тока I. из
1МИЦС
измеряют падение напряжения на перегретом переходе U$ и вновь определяют уменьшенное значение тока I,,, обеспечивающее соотношение (9).
После измерения падения напряжения Uj определяют разность падений напряжений на перегретом переходе
i
, гК(Т+ДТ ) , /т -- InUa/Vйи и;-и
34ч- (18)
Далее определяют отношение разностей падений напряжений на перегретом переходе (18) транзистора к нагретому окружающей средой переходу (5)
Al4 I l-yi (T+AT)ln(li/l -0 П0л
uu, Dt-u, f
i f i yj Ii i yf:Ii
R.
(21)
15
Тепловое сопротивление R определяется в процессе калибровки тран- чисторнсго термодатчика для конкретной контролируемой среды по ее изве- 0 стиой температуре Тк
ik . I I U ;k-I Hi (1 I, I
я1 ч ,к то uu ,Ku r;Ki4 « ил
5
л
;
35
где Т - температуры среды при калибровке .
Из выражения (21) видно, что температуру Т можно определить по четырем заданным значениям токов р-п-пе- рехода I,, 12, 1}, четырем из30 меренным падениям напряжения на этом переходе U,,, U2, U, U. При этом параметры транзистора Ig и г, определяющие форму ЬАХ p-n-перехода, не влияют на результат измерения.
Определение температуры по формуле (21) позволяет осуществить многоточечный контроль от ряда транзисторных термодатчиков с большим разбросом по значениям тока насы40 щения и концентрации носителей в p-n-переходе с повышенной точностью. Кроме того, возможна замена термотранзистора того же типа, т.е. с одинаковым тепловым сопротивлением
45 Rt, без изменения градуировочный характеристики, получаемой в процессе калибровки.
Таким образом, повышение точности в способе достигнуто за счет исклю50 чения влияния разброса и нестабильности двух параметров р-п-перехода на термочувствительные свойства транзисторных термодатчиков..
Устройство для определения тем55 пературы работает следующим образом.
Напряжение источника 1 через один из резисторов с сопротивлениями R - R$. мультиплексор 6 поступает на инвертирующий РХОД онного усилителя 7. Благодаря глубокой отрицательной обратной связи в усилителе через p-n-переход транзистора 8, размещенного в контролируемом тепловом поле, входное напряжение операционного усипителя близко к нулю, а выходное ранчо падению напряжения на транзисторе с обратным знаком. В результате этого через p-n-переход.транзистора протекает неизменный ток, задаваемый значение сопротивления того резистора, который включается в электрическую цепь мультиплексором 6 по программе мик- роЭВМ. При этом значение тока не зависит от изменений сопротивления p-n-перехода транзистора. Так как ток транзистора 8 величина постоянная, то падение напряжения нл нем является функцией температуры Т окружающей среды.
Выходное напряжение операционного усилителя 7, пропорционально измеряемой температуре Т, усиливается усилителем 9 и преобразуется в анл- лого-цифровом преобразователе 10 в цифровой код, который вводится в мин роЭВМ и запоминается.
Программой микроЭВМ 11 предусмотрено поочередное включение калиброванных резисторов 2-5, задающих ток через p-n-переход транзистора 8. Вы- сокоомные резисторы 2 и 3 ограничивают токи перехода I ( и 1 на уровне минимальных токов ВАХ транзистора (десятков микроампер), что исктю- чает перегрев p-n-перехода протекающим током относительно температуры окружающей среды. Соответствующие падения напряжения U( и Ug преобразуются в коды, которые запоминаются в памяти мнкроЭВМ.
Вводимые мультиплексором Ь пиз- коомные резисторы 4 и 5 выбираются из условия (17) и создают нагревающие токи т и 1, не превышаюцие максимально допустимые и вызывающие нормированный т-р-.трев р-п-пере хода, рассчитываемый по верхнему пределу диапазона контролируемых температур. Соответствующие падения напряжения U« и U кодируются и запоминаются в микроЭВМ.
В память микроЭВМ вводят значение теплового сопротивления Rr транзистора с учетом теплофизических стойстн среды, в которую помещен транзит1 ор.
0
Кроме того, в память вводятся значения токов Ij, I, Tj и Itl, определяемые стабилизированным напряженпеМ| U0 источника 1 и сопротивлениями R( - . калиброванных резисторов 2-5.
По результатам четырех измерений U4, иг, U з и U4 и значениям констант I , 12, 1, 1 и RT в микропроцессоре ЭВМ вычисляется температура Т по формуле (21). Числовое значение температуры индицируется на блоке 12 индикации.
При «ведении в программу нулевой температуры То 273 К на дисплей вынодит.-я контролируемое изменение температуры поля ДТ Т - Т0 в градусах Цельсия.
Формула изобретения
0
5
0
5
50
(U2-U )ln(l s/U)
(UJ -DJ) In (lz7l7)-(Uz-U, Hn(iyiJ)
iti
U 3 + 14 14 X - --- - -K., ,
где I
1
начальный минимальный ток через p-n-переход транзистора и падение напряжения на р-п-переходе;
«.
С а ч.
и„ измененный ток через p-n-иереход, близкий 11, и падение напряжения на р-п-переходе; значение тока перегрева р-п-перехода и соответствующее ему падение напряжения на р-п- переходе;
измененный ток перегрева р-п-перехода,
близкий I
, и
на
напряжения реходе;
R - тепловое сопротивление транзистора.
15 через последовательно соединенные операционный усилитель, усилитель постоянного тока и аналого-цифровой преобразователь подключен к информационным входам микроЭВМ, управ- 20 ляющие выходы которой подключены к входам управления мультиплексора.
Патент США № 3812717, кл | |||
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Способ восстановления хромовой кислоты, в частности для получения хромовых квасцов | 1921 |
|
SU7A1 |
М: нск, 1986, с | |||
Выбрасывающий ячеистый аппарат для рядовых сеялок | 1922 |
|
SU21A1 |
Авторы
Даты
1991-04-30—Публикация
1988-12-27—Подача