Вакуумный дефектоскоп обнаружения непроклеев Советский патент 1991 года по МПК G01B11/28 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для обеспечения неразрушающегося контроля дефектоскопии клееных изделий.

Цель изобретения - уменьшение погрешностей и повышение достоверности контроля.

На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого дефектоскопа.

Дефектоскоп включает корпус 1, пластину 2 для размещения светоприемников, матрицу 3 светоприемников, источники 4 света, световую панель 5, соединительный жгут 6 из электрических проводников, воздуховод 7 со штуцером для подключения к вакуумной линии и отключения от нее при помощи вентиля 8. Каждый из светоприемников матрицы 3 через блок 9 электронной обработки однозначхо сопряжен с соответствующим светоиндикатором на поле световой панели 5. Пластина 2 размещена вблизи выходного отверстия так, что между пластиной и контролируемой поверхностью образуется зазор, подсвечиваемый источниками 4 света.

Дефектоскоп работает следующим образом.

Установив корпус отверстием на контролируемую клееную поверхность и включив вакуум, наблюдают за показаниями светового индикатора. Если дефекты отсутствуют и клееная поверхность не отстает от конструкции детали, на световой панели индикаторы не светятся. Если имеется дефект, то обшивка отслаивается и приподнимается, устраняя зазор между отслоившейся поверхностью и светоприемником. Освещенность светоприемника падает, соа

СП

ел о

ответственно, уменьшается сигнал с затененного светоприемника. Сигнал усиливается в электронном блоке и преобразуется таким образом, чтобы на световой панели высвечивались световые индикаторы, сопря- женные с затемненными светоприемниками. Количество чувствительных светоприемни- ков выбирается исходя из требования выявления дефектов с заданными размерами - чем меньше размер выявляемого дефекта, тем больше светоприемников устанавливается на пластине.

При диаметре корпуса, равном D, может быть обнаружен дефект значительно мень- ших в V m раз размеров за счет увеличения количества (т) светоприемников в полости чаши.

Использование предлагаемого дефектоскопа значительно улучшает технологич-

ность процесса контроля и повышает достоверность выявления дефектов и производительность контроля.

Формула изобретения Вакуумный дефектоскоп обнаружения непроклеев, включающий корпус в виде полой чаши с выходным отверстием, средство вакуумирования и индикатор непроклея, о т личающийся тем, что, с целью уменьшения погрешностей и повышения достоверности контроля, индикатор непроклея выполнен в виде источников света, расположенных по внутренней боковой поверхности стенок чаши со стороны выходного отверстия, пластины с полем светоприемников, обращенных светочувствительной поверхностью в сторону выходного отверстия, и световой панели с полем светоиндикато- ров, каждый из которых координатно сопряжен с соответствующим светоприемником.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля (дефектоскопии) клееных изделий. Цель изобретения - уменьшение погрешностей и повышение достоверности контроля. Устройство устанавливается на участок контролируемой клееной поверхности, под чашей устройства создается вакуум. Зоны непроклея прижимаются к матрице светоприемников и затемняют светоприемники, находящиеся над зоной непроклея. Светоприемники коорди- натно сопряжены со светоиндикаторами световой панели, устройство снабжено блоком электронной обработки сигналов. В качестве светочувствительного элемента использован фотодиод и/или фоторезистор. Изменение светового потока регистрируется светоприемником, сигнал с которого поступает на электронный блок. Дефектоскоп обеспечивает повышение достоверности обнаружения дефектов, в том числе дефектов малой площади. При диаметре чаши, равном D, может быть обнаружен дефект значительно меньших в Vm раз размеров за счет увеличения количества (т) светоприемников в полости чаши. 1 ил. Ј