1
(21)4623357/21 (22)20.12.88 (46)23.07.91. Бюл. №27
(71)Винницкий политехнический институт
(72)Н.П.Байда, И.Н.Котов, В.И.Месюра. И.В.Месюра и А.М.Роик
(53).621.317.799 (088.8)
(56)Байда Н.П. и др. Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования. М.: Радио и связь, 1987, с.56.
Заявка ФРГ
Ns OS 3414968, кл. G 01 R 31/28, 1985. (54) СПОСОБ УСТАНОВЛЕНИЯ СООТВЕТСТВИЯ МЕЖДУ КООРДИНАТАМИ ШТЫРЬКОВ КОНТАКТНОГО ПОЛЯ АДАПТЕРА И ИХ АДРЕСАМИ В СИСТЕМЕ КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ
(57)Изобретение относится к автоматическому контролю и может быть использовано в системах внутрисхемного контроля ( поэлементного диагностирования) собранных печатных узлов для автоматизации процесса установления соответствия между координатами штырьков контактного поля адаптера и их адресами в системе контроля. Для упрощения способа осуществляют дополнительное электрическое соединение строк и столбцов растра контактного поля через сопротивление определенной одинаковой величины. Из каждой совокупности штырьков выбирают по одному штырьку и измеряют сопротивление между первым из этих штырьков и каждым из остальных выбранных в совокупностях штырьков. Крайний штырек определяют по максимальному значению измеренного сопротивления, измеряют и запоминают величины сопротивлений между крайним и каждым из остальных выбранных штырьков, а координату строки или столбца определяют из математического выражения, приведенного в описании. Устройство, реализующее данный способ, содержит плату адаптера 1 с контактными штырьками 4, штеккерную колодку и кабель 3. 2 с.п. ф-лы, 3 ил.
(Л
Изобретение относится к автоматическому контролю и может быть использовано в системах внутрисхемного контроля (поэлементного диагностирования) собранных печатных узлов для автоматизации процесса установления соответствия между координатами штырьков контактного поля адаптера и их адресами в системе контроля. Для упрощения способа осуществляют дополнительное электрическое соединение строк и столбцов растра контактного поля через сопротивление определенной одинаковой величины. Из каждой совокупности штырьков выбирают по одному штырьку и измеряют сопротивление между первым из этих штырьков и каждым из остальных выбранных в совокупностях штырьков. Крайний штырек определяют по максимальному значению измеренного сопротивления, измеряют и запоминают величины сопротивлений между крайним и каждым из остальных выбранных штырьков, а координату строки или столбца, определяют из математического выражения, приведенного в описании. Устройство, реализующее данный способ содержит плату адаптера 1 с контактными штырьками 4, штеккерную колодку и кабель 3. 3 ил.
Изобретение относится к области автоматического контроля и может быть исполь- зовано в системах внутрисхемного контроля (поэлементного, диагностирования) собранных печатных узлов для автоматизации процесса установления соответствия между координатами штырьков контактного поля адаптера (КИА) и их адресами в системе контроля (СК).
Цель изобретения - упрощение способа и устройства для его осущестерения
На фиг I-3 изображены соответственно платя адаптера с. контактным шгырьковым полем, а также первая и вторая тест- плата.
Плата адаптера (фиг.1) содержит растровое контактное поле с строками и столбцами. Адаптер 1 заканчивается штеккерной колодкой 2. от которой кабель 3 ведет к коммутатору СК. Каждый провод кабеля 3 соединяет соответствующий штырь 4.1-4.13. расположенный на плате адаптера 1. с соответствующим ключом коммутатора, имеющим определенный адрес с .СК. Этот адрес, таким образом, присваивается и соединенному с ключом коммутатора контакто о
СП
ы ю
«гад
ному штырю. Будем считать, что номер I штырька 41 (фиг.1) совпадает с его адресом в СК. При соединении штырьков КПА с ключами коммутатора СК без заранее составленной таблицы соединений (отказ от составления которой может быть обусловлен как высокой трудоемкостью, так и необходимостью выполнения определенных условий, например, обеспечения минимальной длины соединительных проводов)соот- ветствие адресов штырьков координатам штырьков на КПА, которые указаны на краю платы адаптера 1 (фиг. 1), сначала неизвестно вследствие беспорядочного соединения и может быть установлено в режиме само- обучения СК в соответствии с предлагаемым способом.
Первая тест-плата 5 (фиг.2) служит для обеспечения принудительного объединения контактных штырьков 41, принадлежа- щих одним и тем же строкам растра КПА, и для принудительного объединения между собой строк растра.
Первая тест-плата 5 содержит проводящие дорожки 6i-6e, отображающие, соот- ветственно, строки yi-ye растра, лежащие в основе контактного поля, и резисторы 7 i-2 - 7s-6. включенные между соответствующими парами дорожек 61-65.
Дорожки 6i-6e, омическое сопротивле- ние которых практически равно нулю, служат для принудительного объединения совокупностей штырей 41 контактного поля 1, имеющих одинаковую координату по оси у, т.е. принадлежащих одной строке растра КПА.
Резисторы 71-2 - 7б-е служат для принудительного объединения между собой строк растра КПА. Ддя тест-платы 5 число дорожек и . Приняв кОм. получим, что величина сопротивления резисторов 7i-2 - 7з-4 равна 100 Ом, а резисторов и 7s-6 - 1 кОм.
Координата уср средней дорожки тест- платы 5, с которой соединяются резисторы разных номиналов, равна .
Вторая тест-плата 8 (фиг.З) служит для обеспечения принудительного объединения контактных штырьков 41, принадлежащих одним и тем же столбцам растра КПА. и для принудительного объединения между собой столбцов растра КПА.
Вторая тест-плага 8 содержит проводящие дорожки 91-9, отображающие, соответственно, столбцы xi-x растра, лежащего в основе КПА, и резисторы 10i-2 - Юб7, включенные между соответствующими парами дорожек 9i-9/
Дорожки 9i-9 служат для принудительного объединения совокупноегей штырьков
Резисторы 10i-2 - Юе-7 служат для принудительного объединения между собой столбцов растра КПА. Для тест-платы 8 число дорожек и . Координата хср средней дорожки тест-платы 8 , величина сопротивления резисторов 10 1-2- 10.3- 4 равна 100 Ом, а резисторов 104-5 - Юе-7 - 1 кОм.
Устройство работает следующим образом.
Соответствующая тест-плата (сначала первая, а затем вторая) устанавливается не адаптер и прижимается к контактным штырькам 4. При этом штырьки 4 образуют контакт с проводящими дорожками тест- платы, в результате чего штырьки, принадлежащие одним и тем же строкам или столбцам растра (при использовании тес- плат 5 или 8 соответственно), электрически объединяются между собой, а строки (столбцы) растра соединяются между собой через соответствующие резисторы.
Способ осуществляется следующим образом.
На первом этапе самообучения СК тест- плата 5 прижимается к штырькам 4i-4i3 КПА, и путем регистрации наличия коротких замыканий между штырями 4.I определяются совокупности адресов штырьков, принадлежащих отдельным строкам растра (имеющих общую координату у). Для примера (фиг.1) при этом получена следующая матрица
1,7,10
2,4,12,13
3,5,
9
Координатные координаты у совокупностей штырьков, образующих строки матрицы, еще не известны.
Затем из каждой строки полученной матрицы выбирают по одному штырю 4. представляющему соответствующую строку растра КПА (для фиг. 1 это штыри 42,4з,4д и 4е), и измеряют суммарную величину сопротивления резисторов, включенных между штырем с младшим адресом и остальными из выбранных штырей. Полученная в результате измерений матрица для рассматриваемого примера имеет следующий вид 4.2 4.3 4.6 4.9
Далее по максимальной величине измеренного сопротивления определяется крайний штырь растра КПА, имеющий наибольшую (либо наименьшую) координату на оси у. Затем измеряется суммарная величина сопротивлений резисторов, включенных между крайним и остальными из указанных штырей. Для примера (фиг.1) крайним является штырь 4.2, поскольку сопротивление величиной 1,3к, включенное между штырями 4.1 и 4.2, является максимальным из измеренных.
Матрица величин сопротивлений, измеренных относительно крайнего штыря, принимает при этом следующий вид 4.2 4.3 4.6 4.9
Координаты строк определяют теперь по известным величинам координаты уср средней точки растра КПА, значений Rn и Rn суммарного сопротивления резисторов, включенных, соответственно, на верхней (левой) и нижней (правой) половинах тест- плат, и значений Вмакс и Ямин соответственно максимальной и минимальной величин сопротивлений, измеренных на данном этапе самообучения. При этом определяют также величины сопротивлений R л и R п. включенных между средней дорожкой тест- платы и дорожками отображающими, соответственно, крайнюю верхнюю и крайнюю нижнюю строки адреса (либо его крайние левый и правый столбцы), на которых установлены контактные штырьки (на части строк и столбцов растра КПА, включая крайние строки и столбцы, контактные штырьки могут отсутствовать). Значение R п определяется как наименыиеее число, не меньшее разности RMaKc-Rfl, т е. R1n RuaKrRn, а значение R л вычисляют по формуле R л
RMBKC-R п.
Координаты строк (столбцов) растра КПА, соответствующие искомым совокупностям штырей 4. определяются после этого по значениям величин сопротивлений, включенных между искомыми и крайними штырями растра.
Определения координаты у(4.1) штыря 4.I относительно координат крайних штырей растра КПА осуществляется по соотношениям|
ГУ ID , РиЯмин,
M--|.,i
Jcp (Чуум niJ/u /
где tj(2 - единичная несимметричная функция, принимающая значения
(1. если Z 0, Vzf (.0. если . RMSM - величина сопротивления, измеренного между искомым и крайним штырями КПА.
Так, для примера (фиг.1) описанная процедура приведена при использовании тест- платы фиг.2 к следующим результатам: , ,3 кОм, кОм, РМакс 2,3 кОм, ,1 1 кОм. ,3-0, кОм, R1,,-2,,3 кОм,
у(42)4+(-0.3)/0.1 х1 1. y(4i)4+(1,3-0,3), у(4зН+(0,1-0.3)/0,1х , у(4бН+(2,3-0,3),
у(4дН+(0,3-0.3)/0.1 . На втором этапе самообучения СК по тест-плате 8 (фиг.З), осуществляемом аналогично первому этапу, получены следующие совокупности адресов замкнутых между собой штырей 1,8,4 2,7 3, 10
5, 11, 12 6,9, 13
Измерение-величин сопротивлений, гключенных между представляющими столбцы растра КПА штырьками 4i. 42, 4з, 4s и 4б дает следующие результаты
42 4з 4s 4е 4i 1.2к2,0к 1.1к 1,0к Сопротивления, измеренные относительно крайнего штыря 4.3. имеют следую- щие значения
4i 4g 4s 4б 43 2,0к 3,2к 3,1к 1,0к С учетом значений xrp-4, ,3 кОм, Rn 3 кОм.
R n-l3.2-0.3J-3 кОм, R ,.2 кОм.Рмин кОм, - Л, получаем х(4зН-(-3)/1-7. x(4i) 4-(2-3). х(42)-4-(3.2-3)/0.1х 1-2, х(45)-4-(3.1-3)/0,1х 1-3.
х(46)-4-(1-3)/1-6.
Искомое соответствие достигается теперь сортировкой адресов штырьков по координатам строк и столбцов с учетом первого и второго этапов самообучения СК, например для КПА (фиг.1) штырьки 4i. 4 и 4ю имеют одинаковую координату у, поскольку они расположены на одной строке растра КПА. о чем свидетельствует этап са- мообучения СК по тест-плате 5. Аналогично, координата штыря 4.3 присваивается и штырю4ю. расположенному на том же столбце растра КПА, что и штырь 4з, о чем свидетельствуют результаты второго этапа самообучения СК по тест-плате 8.
Для примера (фиг.1) искомые результаты, полученные при осуществлении предложенного способа, принимают вид поле проведения сортировки
414243444546474849410411412413
х52753625673 39 У51212652456 1 1 Формулаизобретения
Г / t(R К 1/Л - №иЗН- л)
RMM № {RiaH.K a)npuRHm
(Ниэп нп)/и 1
где уср - координата средней строки (столбца) растра контактного поля;
А - максимальное значение сопротив- ления принудительно включаемого между соседними строками (столбцами) растра;
п - целое число, превышающее максимальное число соседних строк (столбцов) растра контактного поля адаптера, на которых не установлен ни один контактный штырек;
Рмакс, Ямин - соответственно максимальная и минимальная величины сопротивлений, измеренных на соответствующем этапе
R л, R п - суммарные величины сопротивлений, принудительно подключаемых соответственно между средней и крайней левой, и средней и крайней правой строками (столбцами) растра, на которых установлены контактные штырьки;
tp-z) - единичная несимметричная функция, принимающая значения
(z) /1, если Z 0, л 10, если 2$ 0;
R п RMaKC-RnJ, R fl RMaKc R n,
где Rn - суммарная величина сопротивления, включенного, соответственно, между средней и крайней левой дорожками соответствующей тест-платы;
наименьшее целое число не меньшее Z.
Фиг, I
