Устройство для измерения параметров ферритовых пленок и пластин Советский патент 1991 года по МПК G01R33/05 

Изобретение может быть использовано при исследовании физических характеристик ферритовых пленок и пластин. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей устройства путем измерения декремента затухания магнитостатических волн (МСВ). Устройство содержит входной и выходной преобразователи МСВ на диэлектрических платах 3, 4, закрепленных на станине 5 и стойке 6, которая перемещается в направляющих пазах станины 5. Расстояние между преобразователями регулируется микрометрическим винтом 7. Станина 5 и стойка 6 накрыты предметным столиком 8. В нем сделана прорезь под свободные, подпружиненные упругими прокладками 9, 10 концы плат 3, 4. Исследуемая ферритовая пленка 11 прижимается к поверхности столика 8 грузом 12. Входной 13 и выходной 14 коаксиально-полосковые переходы соединяются с преобразователями микрополосковыми линиями. СВЧ-сигнал в виде ЭВМ, поданной на входной коаксиально-полосковый переход 13, поступает по линии 15 на входной преобразователь. Здесь ЭМВ трансформируется в МСВ, распространяющуюся по узкому каналу (расположенному в области ферритовой пленки над прорезью столика 8) к выходному преобразователю, где происходит обратное преобразование МСВ в ЭМВ, в виде которой по микрополосковой линии 16 сигнал СВЧ поступает на выходной коаксиально-полосковый переход 14. Декремент затухания МСВ определяется прямым измерением зависимости затухания СВЧ-сигнала в устройстве от расстояния между преобразователями. 1 ил.