СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ Советский патент 1965 года по МПК G01R17/02 

При известных снособах разбраковки нолуироводниковых ириборов но величине обратного тока, основанных на сравнении измеряемого параметра с эталонным и последующем преобразовании измеренного значения контролируемой величины в цифровую форму, процесс преобразования измеренного параметра в цифровую форму относительно сложен, что приводит к снижению точности измерений.

Описывается способ разбраковки полупроводниковых ириборов по величине обратного тока. Упрощение процесса разбраковки и повыщение точности измерений достигнуто ири этом способе благодаря использованию в качестве измеряемого параметра времени заряда калиброванного конденсатора обратным током полупроводникового прибора, а в качестве эталонного параметра - время заряда емкости эталонной RC-цепи.

Для иояснения описываемого способа на чертеже дана блок-схема устройства для разбраковки полупроводниковых ириборов по данному способу.

Синусоидальное напряжение с выхода генератора / стабильной частоты через усилитель-ограничитель 2 подается на электронный ключ 3, который открывается при подаче запускающих импульсов с селектора 4, управляемого нуль-органами 5, 6. При замыкании

ключа 7 обратное напряжение от источника питания, подключенного к зажиму 6, подается на эталонную RC-цепь 9 п блок 10, содержащий испытуемый полупроводниковый нрибор, соединенный с калиброванным конденсатором.

Напряжение с калиброванного конденсатора и с конденсатора цепи 9 поступает на нуль-органы 5 и 6. Прм заряде указанных

конденсаторов до напряжения срабатывания нуль-органов на селектор 4 поступают запускающие импульсы.

В промежутках между подачами на селектор первого и второго запускающего импульса электронный ключ 5 открыт и на счетчик импульсов // поступают импульсы, число которых пропорционально отклонению величины обратного тока полупроводникового прибора от номинального значения в процентах.

При использовании устройства для автоматической отбраковки полуироводниковых приборов с новым номинальным значением обратного тока изменяют величину калиброванной емкости, подключенной к полупроводниковому прибору, или порог срабатывания нуль-органа 6.

Предмет изобретения

ванный на сравнении измеряемого параметра с эталонным и последующем преобразовании измеренного значения в цифровую форму, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса разбраковки при цифровом отсчете результатов измерений и повышения точности измерений, в качестве измеряемого параметра используют время заряда калиброванного конденсатора обратным током полупроводникового прибора до заранее заданного напряжения, а в качестве эталонного параметра - время заряда емкости эталонной RC-цепи до этого же значения напряжения.